電容屏的雙85測試條件是行業嚴酷的可靠性標準，是歐美等發達國家市場準入的標準。為了充分驗證和展示電容屏在經過1000小時“雙85”老化測試后是否仍具有優異的可靠性和穩定性，近期，瑞凱儀器技術團隊專門對應用低阻導電膜自主生產的電容屏產品進行了1000小時“雙85”老化測試，驗證產品經過1000小時環測后的產品性能。
一、測試裝置及條件
1、測試裝置：恒溫恒濕試驗箱（瑞凱儀器 RK-TH-408）；
2、測試條件：85℃+85%RH；
3、測試時間：持續1000小時
4、測試標準：環測前/后的數據對比差異值
二、測試內容
1、測試產品：43寸TP和55寸TP
2、測試數量：共4片
3、物料情況：
三、測試(shi)結果(guo)
1、電(dian)容屏測試前后的基本性能
2、電容(rong)屏測試后的基(ji)本性(xing)能：
經過(guo)(guo)1000小(xiao)時的“雙85”測(ce)試后(hou)，電容屏依然保(bao)持原有的性(xing)能特性(xing)，環(huan)(huan)(huan)測(ce)前后(hou)數(shu)值(zhi)變化在(zai)10%以(yi)內(nei)，1000小(xiao)時的高(gao)(gao)溫高(gao)(gao)濕環(huan)(huan)(huan)測(ce)的TP測(ce)試功能數(shu)據對比(bi)和環(huan)(huan)(huan)測(ce)前測(ce)試功能的數(shu)據對比(bi)都在(zai)要求范圍內(nei)，證明(ming)透明(ming)導電膜材料制成的TP可(ke)以(yi)通過(guo)(guo)環(huan)(huan)(huan)測(ce)1000小(xiao)時“雙85”項目(mu)，性(xing)能穩定可(ke)靠。
環測前后數值變化在10%以內
環測前后數值對比
