俄羅斯女人圖片PCB電路板高壓加速壽命試驗

PCB電路板高壓加速壽命試驗

為確保(bao)PCB電(dian)(dian)(dian)路(lu)板長時(shi)間使用的(de)(de)質量與可靠度(du)，很(hen)多PCB電(dian)(dian)(dian)路(lu)板制(zhi)造廠家都進(jin)行SIR (Surface Insulation Resistance)表面絕緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)試驗，透過其試驗方式找出(chu)PCB是否(fou)會發生MIG(離(li)(li)子(zi)(zi)遷移(yi))與CAF(玻纖紗陽極(ji)性漏電(dian)(dian)(dian))現(xian)象(xiang)，離(li)(li)子(zi)(zi)遷移(yi)與是在加濕狀態下(如：85℃/85%R.H.)，施加恒定(ding)偏壓(如：50V)，離(li)(li)子(zi)(zi)化金屬(shu)(shu)向(xiang)相反電(dian)(dian)(dian)極(ji)間移(yi)動(陰極(ji)向(xiang)陽極(ji)生長)，相對電(dian)(dian)(dian)極(ji)還原成(cheng)原來的(de)(de)金屬(shu)(shu)并析出(chu)樹(shu)枝(zhi)狀金屬(shu)(shu)的(de)(de)現(xian)象(xiang)，常造成(cheng)短路(lu)，離(li)(li)子(zi)(zi)遷移(yi)非常脆弱，在通電(dian)(dian)(dian)瞬間產生的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)流會使離(li)(li)子(zi)(zi)遷移(yi)本身溶斷消失(shi)。

試驗設備：

HAST高壓加速壽命試驗機(ji)

高壓加速壽命試驗

設備特點：

1、低(di)噪(zao)音設計，噪(zao)音值都控制在65dB 以(yi)下(xia)；

2、曲線(xian)和數據保(bao)存，所有(you)的(de)試驗(yan)數據和曲線(xian)可通過USB按日期選擇(ze)拷貝(bei)保(bao)存，可記錄保(bao)存120天數據及曲線(xian)；

3、緩降壓處理，可選排氣排水(shui)模式，防(fang)止(zhi)試驗(yan)結束(shu)后樣件受到急(ji)劇壓力、溫(wen)度或水(shui)分蒸發的環境影(ying)響。

MIG與CAF常用的規范：

  IPC-TM-650-2.6.14.、IPC-SF-G18、IPC-9691A、IPC-650-2.6.25、MIL-F-14256D、ISO 9455-17、JIS Z 3284、JIS Z 3197等。

試驗時間通常一次就是1000h、2000h，對于產品的周期性來說緩不應急，而HAST是一種試驗手法也是設備名稱，HAST高壓加速壽命試驗機是提高(gao)環(huan)(huan)境(jing)應力(li)(li)(溫度(du)(du)&濕度(du)(du)&壓(ya)力(li)(li))，在不(bu)飽和濕度(du)(du)環(huan)(huan)境(jing)下(xia)(濕度(du)(du)：85%R.H.)加快試驗過(guo)程縮短試驗時(shi)間，用來評定PCB壓(ya)合(he)&絕(jue)緣電阻(zu)，與相關材料的吸濕效(xiao)果狀況，縮短高(gao)溫高(gao)濕的試驗時(shi)間(85℃/85％R.H./1000h→110℃/85％R.H./264h)，

PCB的HAST試驗主要參考規范為：

JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。

應力(li)與老(lao)化程(cheng)度及(ji)加速時間示意圖

應力與老化程度及加速時間示意圖