1、范圍
本標準規定了(le)手(shou)機數據線需要滿足的可靠性能要求,以及其試(shi)驗(yan)方法及質量(liang)評定標準。
本標(biao)準適用于新產(chan)品開發及生產(chan)和出(chu)貨過程中(zhong)數據線樣品的確認、周期性質(zhi)量監(jian)控、出(chu)貨可(ke)靠性能檢(jian)測標(biao)準。
2、檢(jian)測項日與(yu)要求
2.1常(chang)規(gui)性能指標2.1.1搖擺試(shi)驗
a)測試區(qu)域(yu):數據線插(cha)頭(tou)網尾處。
b)測(ce)試條件:搖擺試驗機(ji)(要求:當導線開(kai)路時能夠自(zi)動停止:能夠數顯白動計數)。
c)測試(shi)要求:
1)對要進行測試部分(fen)引出處的(de)母體(插頭)固定,使引出線(xian)采直朝下。
2)負載100g,擺(bai)動角度+60°、25 次(來回(hui)) 1分鐘,搖擺(bai)半徑800mm,擺(bai)動1000次;
d)測(ce)試結果:試驗完后對線(xian)體(ti)進行(xing)導通性測(ce)試,不應出現開(kai)路(lu)、短路(lu)等電性能不良(liang)。
2.1.2鹽霧測試
a)測(ce)試區域(yu):數據(ju)線五金電(dian)鍍插頭
b)測試條件: 1.實驗溶(rong)液(ye): 濃度為5%的Nacl溶(rong)液(ye),PH值6.5-7.2;
2.實驗(yan)箱(xiang)溫(wen)度: 35±1℃, 壓(ya)力桶溫(wen)度: 47±1℃;
3.噴霧壓力: 1.0+0.01kg/cm2 ;
4.噴(pen)霧(wu)時(shi)間:
24H。
c)測試(shi)結果:試(shi)驗完(wan)后,被(bei)測試(shi)物(wu)體表面不可有腐(fu)蝕(shi)及生銹現象,具體判定標(biao)準(zhun)見《鹽霧實驗標(biao)準(zhun)》
2.1.3拉力測試
a)測試(shi)區域:數(shu)據線(xian)線(xian)體
b)測試條件:將被測數(shu)據線-端固定(ding)并垂直朝下(xia),另一(yi)端加2kg砝碼,靜止受力1分鐘。
c)測試結果(guo):數據線不可有(you)斷(duan)路等(deng)電性能(neng)不良。
2.1.4插拔壽命(ming)測(ce)試
a)測試區域:插(cha)頭。
b)測試條(tiao)件:適配(pei)的插(cha)頭母(mu)座
c)測試(shi)要求:
1)將數據線插座(zuo)固定(ding),插頭(tou)插進、拔出算一(yi)次(ci),
作插拔試驗3000次(ci);
2)試驗過程中(zhong)1000 次(ci)(ci)、2000次(ci)(ci)、3000次(ci)(ci)左右對(dui)數(shu)據(ju)線插頭(tou)進行外(wai)觀和(he)功能檢測(ce)一次(ci)(ci);
3)試(shi)驗后檢查數(shu)據(ju)線插頭(tou)的外觀和功(gong)能,插頭(tou)不得(de)出現斷裂,插頭(tou)插入母座時不得(de)出現松動(應可以承(cheng)受住手機本身的重量) , 數(shu)據(ju)線同手機連接可正(zheng)常充電及下載。
2.1.5高溫貯存試驗
a)測試區域:數據線(xian)整體。
b)測試條件:恒溫恒濕試驗箱。
c)測試要求(qiu):
1)調節恒溫(wen)恒濕試(shi)驗箱溫(wen)度,逐步升高至60℃ (±2℃),
溫(wen)度穩定(ding)后持續24h;
2)試驗(yan)完(wan)成后(hou)(hou)將數據線從試驗(yan)箱中(zhong)取出,取出后(hou)(hou)在常溫下恢(hui)復2小時后(hou)(hou)無變(bian)色等(deng)現(xian)象,進行電性能測試正常。
2.1.6低溫(wen)貯存試驗
a)測試區城(cheng):數據線整體。
b)測試條件(jian):恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱。
c)測試要求:
1)調節恒溫(wen)恒濕試驗箱溫(wen)度,逐步(bu)升高全-20℃ (±2℃) ,溫(wen)度穩(wen)定后持續(xu)24h;
2)試(shi)驗完成(cheng)后將數據線從試(shi)驗箱中取(qu)(qu)出,取(qu)(qu)出后在常溫下恢復2小(xiao)時(shi)后無變色等現象(xiang),進行(xing)電性(xing)能測試(shi)正(zheng)常。
2.1.7恒定濕(shi)熱試驗
a)測試區域:數據線整(zheng)體。
b)測試條件(jian):恒溫恒濕試驗箱。
c)測試要(yao)求:
1)啟動(dong)恒溫恒濕試(shi)驗箱電源使箱內溫度(du)(du)達到(dao)40℃(±2℃) , 相對濕度(du)(du)達到(dao)90%~95%,溫度(du)(du)穩(wen)定后持續24h;
2)試(shi)驗完(wan)成后將數據線從試(shi)驗箱中取出,取出后在常(chang)溫(wen)下恢復2小時(shi)后外(wai)觀檢查無變(bian)色等現(xian)象,進(jin)行電性能(neng)測試(shi)正常(chang)。
2.1.8高低溫循(xun)環試驗(yan)
a)測(ce)試區域:數據線整體。
b)測試條件:溫度沖擊試驗箱。
c)測(ce)試要(yao)求:
1)將(jiang)低溫試(shi)驗箱調(diao)到規定的貯(zhu)(zhu)存(cun)溫度(du)-20℃ (±2℃) , 高(gao)溫試(shi)驗箱調(diao)到規定的高(gao)溫貯(zhu)(zhu)溫度(du)50℃ (±2℃) ;
2)數據(ju)線放(fang)入(ru)低(di)溫(wen)箱中(zhong),在規定(ding)的貯存(cun)溫(wen)度下(xia)持續1h后,在5min內(nei)將(jiang)試(shi)驗樣品移到(dao)高(gao)溫(wen)箱內(nei),在規定(ding)的貯存(cun)溫(wen)度下(xia)保(bao)持1h, 如此(ci)循環三次(ci);
3)試(shi)驗 完成后(hou)將數據線(xian)從(cong)試(shi)驗箱中取出(chu),取出(chu)后(hou)在常(chang)溫(wen)下恢復(fu)2小(xiao)時后(hou)外觀檢(jian)查無變色等(deng)現象,進行電性能測試(shi)正常(chang)。