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白光LED產品可靠性測試報告

作者(zhe): salmon范 編輯: 瑞凱儀器(qi) 來源: bibil.cn 發布日(ri)期: 2020.03.30
    本報告旨在闡明白光LED產品的可靠性測試項目及壽命測試、環境測試的測試方法、參考標準及測試結果,為客戶在應用白光LED產品時提供參考。

    ◆可靠性測試項目

    下(xia)表列(lie)出了(le)白光LED產(chan)品(pin)可靠性測試(shi)項(xiang)目、測試(shi)條件(jian)及失效判定標準: 

可靠性測試項目

    ◆壽命測試

    LED是電流驅動元件,隨著LED受電流作用時間的增加及環境的長期影響,LED發出的光通量會逐漸衰減,而且衰減的幅度而和速率受驅動電流的大小和環境條件的影響。目前行業內普遍將LED光通量衰減為其初始值的70%所經歷的使用時間L70,或LED光通量衰減為其初始值的50%所經歷的使用時間L50,定義為LED的使用壽命。

    參考JEDEC標準文件JESD22-A108C JESD22-A101 B中提供的恒溫老化測試和恒溫恒濕老化測試的標準,白光LED產品進行常溫老化測試、高溫老化測試和高溫高濕老化測試,下圖(tu)給出了相關(guan)的測試結果。

LED老化

高溫高濕老化

    ◆環境測試

    白光LED中包含了陶瓷基板、芯片、熒光粉、硅膠等多種不同材料并形成多個界面,在LED的使用過程中,當外界環境條件(尤其是溫度和濕度條件)發生變化時,不同封裝材料之間的熱膨脹系數的差異容易造成LED失效。當外界環境條件比較嚴苛時,例如高溫、低溫或者高濕條件,易導致封裝材料性能下降,從而造成LED失效。

    為了保(bao)證白光LED產(chan)品具(ju)有良好的環境穩定性,參考JEDEC標準文件JESD22-A106B和JESD22-A104B,對白光LED產(chan)品進行了嚴苛(ke)的環境測(ce)試(shi)(shi)(shi)——冷熱沖擊測(ce)試(shi)(shi)(shi)和高(gao)低溫循(xun)環測(ce)試(shi)(shi)(shi)。下圖表(biao)明了冷熱沖擊測(ce)試(shi)(shi)(shi)和高(gao)低溫測(ce)試(shi)(shi)(shi)一(yi)個(ge)回合的測(ce)試(shi)(shi)(shi)條件,共(gong)測(ce)試(shi)(shi)(shi)200回合。

溫度循環測試條件

    經過200回合的冷熱沖擊和高低溫循環測試,白光LED產品未出現死燈及外觀不良等失效現象,呈現出了良好的環境穩定性和可靠性。
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