試驗條件：將電子產品放入高低溫試驗箱通電老化
    高溫參數設置：溫度45℃、濕度80% RH、時間24 hrs
    低溫參數設置：低溫0℃、時間24 hrs
    試驗方法：
    試驗一：高溫運行
    1、樣品應在不包裝、不同點和正常工作位置的狀態下放入具有室溫的試驗箱內，

    2、箱內溫(wen)度逐漸(jian)升溫(wen)至所設(she)置的溫(wen)度，當電(dian)子產品(pin)達(da)到溫(wen)度穩定后(hou)，接通電(dian)源持續工作16小(xiao)時，

    3、樣品斷開電源，箱內(nei)溫度降低(di)至正常(chang)試驗大氣(qi)條(tiao)件范圍內(nei)的(de)常(chang)溫常(chang)壓下，

    4、恢復兩小時；
    5、對試驗產品進行全方面的檢測。
    試驗二：低溫運行
    1、電子產品應在不包裝、不同點和正常工作位置的狀態下放入具有室溫的試驗箱內;，
    2、高低溫試驗箱內溫度逐漸降低至所設置的溫度，當樣品達到溫變穩定后擱置2小時，然后接通電源持續工作1小時；
    3、樣品斷開電源，試驗箱內溫度降低至正常試驗大氣條件范圍內的常溫常壓下，
    4、箱內溫度上升至正常試驗大氣條件范圍內的常溫常壓下，
    5、恢復兩小時；
    6、對試驗產品進行全方面的檢測；判定標準：
    試驗結束后，將樣品拿入室溫中恢復至少或以上，再對樣品進行外觀、功能檢驗產品外觀應無損、功能正常、結構件與控制元件應完整、無機械損傷。