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高低溫試驗箱非散熱與散熱樣品試驗方法應用對比

作者： salmon范編輯(ji)：瑞凱儀器來源： bibil.cn 發(fa)布(bu)日期： 2020.06.04

高低溫試驗箱的制造和確認按照GB/T 2424.5和GB/T 2424.7的規定進行。
    高溫和(he)低(di)溫試驗導則(ze)見GB/T 2424. 1，總則(ze)見GB/T 2421.3)
;   只有(you)在以(yi)下(xia)(xia)情(qing)況(kuang)下(xia)(xia)，才(cai)認為試驗(yan)樣(yang)品是散熱(re)(re)的：當溫(wen)度(du)達到穩定(ding)時(見GB/T2421中相應內容)，在自由空(kong)氣(qi)的條(tiao)件下(xia)(xia)(例(li)如，低氣(qi)流速度(du)循環(huan))測量的試驗(yan)樣(yang)品表面(mian)熱(re)(re)點的溫(wen)度(du)超過(guo)試驗(yan)樣(yang)品周圍(wei)空(kong)氣(qi)溫(wen)度(du)5K以(yi)上(shang)。當相關規范要(yao)求進行貯存或運輸試驗(yan)，或未指定(ding)在試驗(yan)期(qi)間施加負載，低溫(wen)試驗(yan)Ab是適用的。
    1、工作空間(jian)是高氣(qi)流速(su)度或是低氣(qi)流速(su)度的確定
    在測量和試(shi)驗(yan)的(de)標(biao)準環境條件下(見GB/T2421)，以(yi)及氣(qi)流(liu)速度<0.2m/s，按照待試(shi)驗(yan)的(de)低(di)溫條件下的(de)規定(ding)給試(shi)驗(yan)樣品通(tong)電或(huo)加電氣(qi)負載。
    當試(shi)驗樣品的(de)溫度(du)達到穩定(ding)，應使(shi)用合適的(de)監測裝(zhuang)置測量(liang)試(shi)驗樣品上或其周圍若干個有代表(biao)性的(de)位置的(de)溫度(du)。之后，每一(yi)個位置的(de)溫升(sheng)應予以記(ji)錄。
   開啟(qi)試驗(yan)箱(xiang)的(de)通風(feng)裝置(zhi)使空氣循(xun)環，當溫度(du)達(da)到(dao)穩定時，重(zhong)新測(ce)(ce)(ce)量上述位置(zhi)處的(de)溫度(du)。如果(guo)此次測(ce)(ce)(ce)得的(de)溫度(du)與上次無空氣流動時測(ce)(ce)(ce)得的(de)溫度(du)相(xiang)(xiang)差超(chao)過5K(或(huo)相(xiang)(xiang)關規范規定的(de)其他值)，應在檢測(ce)(ce)(ce)報告(gao)中記錄這些溫度(du)值，并且(qie)認為該試驗(yan)箱(xiang)具有高(gao)氣流速度(du)循(xun)環。然后(hou)給試驗(yan)樣品(pin)斷電，并去掉任(ren)何負(fu)載條(tiao)件。
    2、非(fei)散熱試驗樣品的試驗
    在溫度漸(jian)變試(shi)驗(yan)(yan)Ab中(zhong)，試(shi)驗(yan)(yan)樣品放人(ren)處于試(shi)驗(yan)(yan)室溫度的高(gao)低(di)溫試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)中(zhong)，然后慢慢降低(di)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)中(zhong)溫度，防止由于溫度改變而對試(shi)驗(yan)(yan)樣品產生有害(hai)作用。建(jian)議采(cai)用高(gao)氣流速度循環，因(yin)為這樣可以(yi)減少達到溫度穩定所需(xu)要的時間。
    3、散熱(re)試驗(yan)樣品的試驗(yan)
    試(shi)驗Ad和試(shi)驗Ae描述(shu)了散熱試(shi)驗樣品在(zai)低(di)氣(qi)流速度循環下的(de)試(shi)驗程序(xu)。這(zhe)允許試(shi)驗樣品的(de)局(ju)部(bu)發熱點在(zai)其(qi)內部(bu)擴展的(de)情(qing)況(kuang)，類似于安(an)裝后的(de)產(chan)品在(zai)應用中發生的(de)情(qing)況(kuang)。
    4、溫度(du)監控(kong)
    應使用溫度(du)傳感器來測量試驗箱里(li)的空氣(qi)溫度(du)，溫度(du)傳感器的位置(zhi)離試驗樣品的距離應確保其受熱擴散的影響可忽略不計。應適當(dang)注意以避(bi)免熱輻射影響這些測量，更多信息見GB/T2424.5。
    5、包裝.
    對于貯存和運輸試(shi)驗，設備(bei)可以帶包(bao)裝(zhuang)進行(xing)試(shi)驗。然而，由(you)于本部分規定的(de)低溫試(shi)驗是穩(wen)態試(shi)驗，設備(bei)終將穩(wen)定在試(shi)驗箱溫度，所以，應去掉包(bao)裝(zhuang)進行(xing)試(shi)驗，除非相關規范要求(qiu)帶包(bao)裝(zhuang)，或者發熱元件是與包(bao)裝(zhuang)合為(wei)一體的(de)。

6、圖示

低溫試驗方框圖