GJB 5389.14-2005 炮射導彈試驗方法 第14部分 溫度循環試驗
作者：
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編輯：
瑞凱儀器
來源：
網(wang)絡
發布日(ri)期： 2021.08.11
1、范圍
本部分規定了炮射導(dao)彈的溫度循環試驗方法(fa)。
本部分(fen)適用于炮射導(dao)彈(dan)溫度(du)循環(huan)試驗(yan)。
2、規范性引用(yong)文件
下列文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)中的(de)(de)條款(kuan)(kuan)通過本(ben)部分(fen)(fen)的(de)(de)引(yin)用(yong)而(er)成為(wei)本(ben)部分(fen)(fen)的(de)(de)條款(kuan)(kuan)。凡是注(zhu)日期的(de)(de)引(yin)用(yong)文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)，其隨后所有的(de)(de)修改單(dan)(不(bu)包含(han)勘誤的(de)(de)內容)或修訂版均不(bu)適用(yong)于本(ben)部分(fen)(fen)，然而(er)，鼓勵根(gen)據本(ben)部分(fen)(fen)達成協議的(de)(de)各方研究是否可(ke)使(shi)用(yong)這些(xie)文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)新版本(ben)。凡是不(bu)注(zhu)日期的(de)(de)引(yin)用(yong)文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)，其新版本(ben)適用(yong)于本(ben)部分(fen)(fen)。
GJB 150.3-1986軍用設備環境試驗方(fang)法高溫試驗
GJB 150.4-1986
軍用設備環(huan)境(jing)試驗方法低(di)溫試驗
GJB 5389.1-2005炮射導(dao)彈試驗方(fang)法第1部分:總(zong)則
GJB 5389.2-2005炮(pao)射(she)導彈試驗方法第2部分:外觀檢(jian)查
GJB 5389.6-2005炮(pao)射導彈試(shi)驗方法(fa)第(di)6部(bu)分:密封性檢(jian)測
GJB 5389.12-2005炮射導彈試(shi)驗方(fang)法(fa)第12部分(fen):靜態(tai)電參數檢測(ce)
3、目的
檢查炮射導彈從低溫環(huan)境條件到(dao)高(gao)溫環(huan)境條件周期變(bian)化的情況下能否正常使用。
4、試驗儀(yi)器、設備、裝(zhuang)置及其要求
4.1導彈靜態(tai)電參數(shu)檢(jian)測儀(yi)
應符(fu)合(he)GJB 5389.12-2005中4.1的要求。
4.2壓力計
壓(ya)力(li)范圍及控(kong)制精(jing)度(du)應滿足帶炮(pao)射(she)導(dao)(dao)彈(dan)的內包裝(zhuang)及炮(pao)射(she)導(dao)(dao)彈(dan)密(mi)封性測(ce)試(shi)要求。
4.3壓縮空氣(qi)機(ji)
壓縮空氣機應(ying)符(fu)合(he)下(xia)列要求:
A）壓縮(suo)排風量為不小(xiao)于0.2m3/min，系統中應(ying)配備空氣過濾裝置；
B）出風口應配備空氣(qi)過濾減壓器，其輸出為0.6MPa，流量(liang)為3m3/h。
4.4 過濾裝置(zhi)
過濾(lv)的(de)壓縮空氣應干(gan)燥(zao)潔凈，其(qi)污(wu)染(ran)度不大于3級，露(lu)點不超過-40℃。
4.5托彈架
應能穩(wen)固(gu)地支撐炮射導彈(dan)。
4.6密封接頭(tou)
應能(neng)與受(shou)試品可靠連接，保(bao)證(zheng)密封。
4.7高溫試驗箱(室)
高溫試驗箱(室)應符合下列要求:
a)應符合GJB 150.3-1986中第3章(zhang)的要求;
b)應是防爆(bao)的(de)，且(qie)有可靠接地線(xian);
c)容(rong)積應不小于3m×3m×2.5m。
4.8低(di)溫試驗箱(室)
低溫試驗(yan)箱(室)應符合下列要求:
a)應(ying)符(fu)合GJB 150.4-1986中第3章(zhang)的要求;
b)應是防爆的，且有可靠(kao)接地(di)線;
c)容(rong)積應不小于(yu)3m×3m×2.5m。
4.9防(fang)(fang)爆(bao)室或防(fang)(fang)爆(bao)裝甲箱
應能保證檢測(ce)安全。
5、受試品
除另有規(gui)定外，一般用模擬“前置戰斗部、主戰斗部、增(zeng)速發(fa)動(dong)機主裝藥(yao)和(he)點燃藥(yao)柱、增(zeng)速發(fa)動(dong)機電點火(huo)具、點火(huo)藥(yao)包及(ji)發(fa)射藥(yao)、發(fa)射電點火(huo)具、底火(huo)”改裝的(de)炮射導彈。
6、試驗條件
除(chu)另有規定外，應符合GJB 5389.1-2005中4.1、4.2的要(yao)求。
7、試(shi)驗程序
7.1 將受試品(pin)放在第6章(zhang)規定的條件下6h。
7.2按GJB 5389.2-2005的規定(ding)對受試(shi)品進(jin)行外觀檢(jian)查。
7.3按GJB 5389.12-2005中(zhong)第7章的(de)規(gui)定(ding)對受試(shi)品(pin)進行電參(can)數檢(jian)測(ce)。
7.4 按GJB 5389.6-2005中第7章的規定對(dui)受試(shi)品進(jin)行密(mi)封性檢測。
7.5除另有規定(ding)外，將低溫(wen)箱(xiang)(室)溫(wen)度(du)(du)降至-50℃±2℃，高溫(wen)箱(xiang)(室)溫(wen)度(du)(du)升至60℃±2℃。
7.6 將受(shou)(shou)(shou)(shou)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)放(fang)置(zhi)在(zai)低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))內(nei)的(de)(de)托(tuo)彈(dan)架(jia)上，在(zai)-50℃±2℃溫(wen)(wen)(wen)度(du)下保(bao)溫(wen)(wen)(wen)6h。然后將受(shou)(shou)(shou)(shou)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)從低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))內(nei)取出(chu)，迅速放(fang)入(ru)高溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))內(nei)的(de)(de)托(tuo)彈(dan)架(jia)上，在(zai)60℃±2℃溫(wen)(wen)(wen)度(du)下保(bao)溫(wen)(wen)(wen)6h。此時(shi)溫(wen)(wen)(wen)循試(shi)(shi)(shi)驗(yan)為一個周期(qi)。受(shou)(shou)(shou)(shou)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)經(jing)三個溫(wen)(wen)(wen)循試(shi)(shi)(shi)驗(yan)周期(qi)的(de)(de)作用或(huo)(huo)者按有關標準或(huo)(huo)技術文件的(de)(de)規(gui)定進行試(shi)(shi)(shi)驗(yan)。受(shou)(shou)(shou)(shou)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)從低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))移(yi)置(zhi)高溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))或(huo)(huo)相反移(yi)置(zhi)的(de)(de)時(shi)間不許(xu)超過3min。受(shou)(shou)(shou)(shou)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)在(zai)低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))或(huo)(huo)在(zai)高溫(wen)(wen)(wen)箱(xiang)(xiang)(室(shi))中保(bao)溫(wen)(wen)(wen)時(shi)間是將受(shou)(shou)(shou)(shou)試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)裝(zhuang)入(ru)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)(室(shi))后溫(wen)(wen)(wen)度(du)達(da)到(dao)規(gui)定溫(wen)(wen)(wen)度(du)的(de)(de)瞬間開始計算。
7.7后(hou)一個(ge)溫(wen)循試驗周期結束后(hou)，關閉低(di)溫(wen)箱(室)和高溫(wen)箱(室)。
7.8將(jiang)受(shou)試品(pin)(pin)從高溫箱(室)中取出(chu)，按GJB 5389.12-2005的(de)規定對受(shou)試品(pin)(pin)進行電參數檢測(ce)。 7.9按GJB 5389.6-2005中第(di)7章的(de)規(gui)定對受試(shi)品進行密封性檢測。
7.10除另有規定外(wai)，將受(shou)試品放在第(di)6章規定的(de)條件(jian)下(xia)6h。
7.11按GJB 5389.2-2005的(de)規定(ding)對受(shou)試品進行外觀檢查。
7.12按GJB
5389.12-2005中第7章的規定對受試品進行電參數檢(jian)測(ce)。
7.13記錄試驗過程所測的各種參(can)數值(zhi)。
8、試驗報告
按(an)GJB 5389.1-2005中第6章的規(gui)定寫出試驗報告。
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