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HAST和BHAST、UHAST之間的聯系

作者： salmon范編輯(ji)：瑞凱儀器(qi) 來(lai)源： bibil.cn 發布日期： 2021.05.24

HAST試驗箱用于評估非氣(qi)密性(xing)封裝IC器(qi)件、金屬材(cai)料(liao)等(deng)在濕(shi)度(du)環境下的(de)可靠性(xing)。通過溫度(du)、濕(shi)度(du)、大氣(qi)壓力(li)條(tiao)件下應用于加(jia)速濕(shi)氣(qi)的(de)滲透，可通過外(wai)部(bu)保護(hu)材(cai)料(liao)（塑封料(liao)或封口），或在外(wai)部(bu)保護(hu)材(cai)料(liao)與金屬傳導(dao)材(cai)料(liao)之間界(jie)面(mian)。它采用了嚴格的(de)溫度(du)，濕(shi)度(du)，大氣(qi)壓、電壓條(tiao)件，該條(tiao)件會加(jia)速水分滲透到(dao)材(cai)料(liao)內(nei)部(bu)與金屬導(dao)體之間的(de)電化學反(fan)應。

HAST試驗箱

    適用范圍: 該試(shi)驗(yan)檢(jian)查(cha)芯片長期(qi)貯存(cun)條件(jian)下，高溫和時(shi)間對器(qi)件(jian)的影響。本規范適(shi)用于量(liang)產芯片驗(yan)證測(ce)試(shi)階段(duan)的HAST測(ce)試(shi)需(xu)求，僅(jin)針(zhen)對非密封(feng)封(feng)裝（塑料封(feng)裝），帶(dai)偏置（bHAST）和不帶(dai)偏置（uHAST）的測(ce)試(shi)。
    溫(wen)度、濕(shi)度、氣壓、測試(shi)時(shi)間
    ? 通(tong)常選擇(ze)HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大(da)氣(qi)壓(ya)，96hour測試(shi)時間。
    ? 測(ce)試(shi)(shi)過(guo)程中，建議調試(shi)(shi)階段監控芯(xin)片殼溫(wen)、功耗數據推(tui)算芯(xin)片結(jie)溫(wen)，要(yao)保證(zheng)結(jie)溫(wen)不能過(guo) 高，并(bing)在測(ce)試(shi)(shi)過(guo)程中定期記錄。結(jie)溫(wen)推(tui)算方法參考(kao)《HTOL測(ce)試(shi)(shi)技術規范》。
     ? 如果殼(ke)(ke)溫(wen)與(yu)環溫(wen)差(cha)值(zhi)或者功耗滿足下表(biao)三種關系(xi)時，特別是當(dang)殼(ke)(ke)溫(wen)與(yu)環溫(wen)差(cha)值(zhi)超(chao)過 10℃時，需考慮周期性的電壓(ya)拉偏策略。
    ? 注意測試起始(shi)時(shi)間是從環境條件達(da)到規定條件后(hou)開(kai)始(shi)計算；結束(shu)時(shi)間為開(kai)始(shi)降溫降壓操作(zuo)的時(shi)間點。
    電壓拉(la)偏
    uHAST測試不(bu)帶電壓拉(la)偏， 不需要關注該節；
    bHAST需要帶電壓拉偏 ，遵循(xun)以下原則：
    （1）所有電源上(shang)電，電壓(ya)：推薦操作范圍電壓(ya)（Maximum Recommended Operating Conditions）
     （2）芯片、材料(liao)功耗小（數字(zi)部分(fen)不翻轉(zhuan)、輸入晶振短(duan)接、其他降(jiang)功耗方法）；
    （3）輸(shu)入(ru)管腳(jiao)在(zai)輸(shu)入(ru)電壓允許(xu)范圍(wei)內拉高。
     （4）其(qi)他管(guan)腳，如時鐘端(duan)、復位(wei)端(duan)、輸(shu)出(chu)(chu)管(guan)腳在輸(shu)出(chu)(chu)范圍內隨機拉(la)高或者拉(la)低；

PRODUCT RECOMMENDATION產品推薦(jian)

: 01 恒溫恒濕試驗箱

是模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作與儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗...等），檢測產品本身的適應能力與特性是否改變的測試設備。

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: 02 冷熱沖擊試驗箱

是用來(lai)測試材(cai)料結構(gou)或(huo)復合(he)材(cai)料，在瞬(shun)間下經極高(gao)溫(wen)及極低溫(wen)的連續(xu)環境下所(suo)能(neng)忍受的程度，借以在短時間內(nei)試驗(yan)其因熱脹冷(leng)縮所(suo)引起的化學變化或(huo)物理(li)傷害(hai)。

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: 03 快速溫變試驗箱

是通過(guo)(guo)向待測品施(shi)加(jia)合理的(de)環(huan)境應力和(he)電(dian)應力，使得由不(bu)良元(yuan)器件、零部件或(huo)工(gong)藝(yi)缺陷等引(yin)起(qi)的(de)產(chan)品早期(qi)缺陷加(jia)速(su)變成故障，并加(jia)以(yi)發現和(he)排除(chu)的(de)過(guo)(guo)程，是一個(ge)經濟有效的(de)工(gong)程研究、制造(zao)改進手(shou)段(duan)。

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