HAST試驗箱為何成為集成電路IC可靠性測試的佳選？
作者(zhe)：
salmon范
編輯：
瑞(rui)凱儀器
來源：
bibil.cn
發布日期： 2020.06.22
目前，在集成電路IC領域，環境可靠性測試設備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱。但為什么HAST試驗箱會成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢？這由于HAST試驗箱結合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物料（塑封料或絲印）或沿外保護物料與金屬導電層之間界面滲入，本測試用于識別封裝內部的失效機制，并且是破壞性的。
高(gao)(gao)低(di)溫(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗箱可分為高(gao)(gao)低(di)溫(wen)運行測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)、高(gao)(gao)低(di)溫(wen)貯存測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)、高(gao)(gao)低(di)溫(wen)交(jiao)變測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)、高(gao)(gao)低(di)溫(wen)循(xun)環測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)、溫(wen)度沖擊測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)等(deng)，雖然可測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的項(xiang)目較(jiao)多(duo)，可測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)集成電路IC在不(bu)同溫(wen)度條件下的使用(yong)壽命，但只是單一的溫(wen)濕(shi)(shi)度測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)不(bu)夠精確的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)產品在氣壓(ya)(ya)下的使用(yong)情(qing)況。而HAST高(gao)(gao)壓(ya)(ya)加速老化測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)集溫(wen)度-濕(shi)(shi)度-壓(ya)(ya)力（非飽(bao)和可調）一體，多(duo)方(fang)面(mian)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)集成電路IC，評估產品的失(shi)效機制。
高(gao)低溫試驗箱(xiang)的(de)產品優勢：
1、極限測試溫度(du)可(ke)達300℃，低溫-200℃，電(dian)耗低；
2、低溫長期1000小時以上(shang)不結霜(shuang)；
3、可(ke)編程控制(zhi)，可(ke)通(tong)過互(hu)聯網、WIFI、手機APP等(deng)監(jian)控設備運(yun)行情(qing)況。
HAST試驗箱的產品優勢：
1、濕(shi)(shi)度可(ke)調式溫度-濕(shi)(shi)度-壓力(li)一體試驗設備，測試穩定性高；
2、可配置多個測試端口供給用戶產品帶電測試；
3、設(she)備升溫時自動預排空(kong)氣潔凈度，確(que)保箱內純(chun)凈度；
4、箱體采(cai)用耐高壓設(she)計技術，確保設(she)備、操作人員安全。
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