可靠性增長試驗、可靠性鑒定試驗和可靠性驗收試驗之比較
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發(fa)布日(ri)期： 2020.07.16
可(ke)靠(kao)性(xing)增(zeng)長試(shi)驗、可(ke)靠(kao)性(xing)鑒定試(shi)驗和可(ke)靠(kao)性(xing)驗收試(shi)驗是三種常見的可(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)驗，它們有什么相同(tong)點和不同(tong)點呢，以下對(dui)其從試(shi)驗目的、試(shi)驗條件(jian)、試(shi)驗方(fang)案或(huo)項目、試(shi)驗合格(ge)性(xing)和受試(shi)產(chan)品(pin)的失效判(pan)據五個方(fang)面進(jin)行(xing)分析：
(一(yi)) 試驗目(mu)的
1、可靠性增長試驗
在研(yan)制過程中模擬實際的(de)(de)(de)或加(jia)速的(de)(de)(de)使(shi)用條件(jian)進(jin)行(xing)試驗，使(shi)產品存在的(de)(de)(de)設計(ji)（包(bao)括電路設計(ji)、結構(gou)設計(ji)和工藝設計(ji)）缺陷變為硬故障而充(chong)分暴(bao)露，對故障進(jin)行(xing)分析、采(cai)取糾正措施，根除(chu)故障產生的(de)(de)(de)原因或降低故障率到可以接受(shou)的(de)(de)(de)值，使(shi)產品的(de)(de)(de)固有(you)可靠性(xing)得到增長。
2、可靠性鑒定(ding)試驗
驗證產品的(de)設(she)計能否在(zai)規定(ding)的(de)環境(jing)條件(jian)下滿(man)足(zu)規定(ding)的(de)性(xing)能及可靠性(xing)要求。試驗結果作(zuo)為判斷(duan)設(she)備(bei)能否定(ding)型的(de)依據。適用于設(she)計定(ding)型的(de)鑒(jian)定(ding)。
3、可靠(kao)性驗收試驗
對產(chan)品各項指標進(jin)行全(quan)面檢(jian)驗，以(yi)評定(ding)(ding)產(chan)品質量和可靠性是否全(quan)部符合標準和達到設(she)計要求。對于批量生(sheng)產(chan)的產(chan)品檢(jian)驗其質量穩定(ding)(ding)性和一致(zhi)性。適用于生(sheng)產(chan)定(ding)(ding)型、批量生(sheng)產(chan)后的一定(ding)(ding)周期和在產(chan)品設(she)計、工藝、材料有較大變動后的檢(jian)驗。
(二) 試驗條件(jian)
1、電應(ying)力
;1.1 可靠性增(zeng)長(chang)試驗(yan)
根(gen)據(ju)輸(shu)(shu)入交(jiao)流電(dian)壓(ya)和(he)輸(shu)(shu)入直流電(dian)壓(ya)的(de)允(yun)許變化范(fan)(fan)圍，部分(fen)時間(jian)(jian)(jian)在設計的(de)標稱輸(shu)(shu)入電(dian)壓(ya)下工(gong)作(zuo)，部分(fen)時間(jian)(jian)(jian)在輸(shu)(shu)入電(dian)壓(ya)下工(gong)作(zuo)，部分(fen)時間(jian)(jian)(jian)在輸(shu)(shu)入電(dian)壓(ya)下工(gong)作(zuo)。例如(ru)：程(cheng)控用戶交(jiao)換機應在AC220V，DC-48V、DC-40V～-57V范(fan)(fan)圍內正(zheng)常完成接續。
1.2 可靠(kao)性鑒定(ding)試驗
同可靠性增長試(shi)驗。
1.3 可靠(kao)性驗收試驗
除電(dian)(dian)源電(dian)(dian)壓(ya)拉偏(pian)試驗外(wai)，在(zai)標稱輸入電(dian)(dian)壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)。電(dian)(dian)源拉偏(pian)試驗根據不同的(de)產(chan)品參考有關標準在(zai)、電(dian)(dian)壓(ya)下(xia)工(gong)作(zuo)。
2、熱應力
2.1 可靠性增長試驗(yan)
所施加的(de)(de)應(ying)力(li)強度(du)可略(lve)高于(yu)使用時(shi)的(de)(de)應(ying)力(li)強度(du)，以不引(yin)起新(xin)的(de)(de)故障機(ji)理為(wei)(wei)限。如溫度(du)循(xun)環一般可以將略(lve)高于(yu)產品高溫溫度(du)、略(lve)低于(yu)產品低溫溫度(du)作(zuo)為(wei)(wei)溫度(du)循(xun)環的(de)(de)上、下限溫度(du)，溫度(du)變(bian)化率(lv)可取(qu)5℃/min或10℃/min。循(xun)環周期時(shi)間根據溫度(du)變(bian)化率(lv)而定。
2.2 可(ke)靠性鑒定(ding)試驗
; 將(jiang)產品(pin)工作高溫(wen)溫(wen)度作為試驗溫(wen)度。
2.3 可(ke)靠性驗收試驗
按(an)產品標準的工作(zuo)高(gao)、低(di)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度進行各種功能和指標的檢(jian)驗。按(an)產品標準的儲運高(gao)、低(di)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度進行儲運試驗。
(三) 試驗方(fang)案(an)或試驗項目
1、可靠性(xing)增長試驗
可靠(kao)性(xing)增(zeng)(zeng)(zeng)長(chang)(chang)方案：可靠(kao)性(xing)增(zeng)(zeng)(zeng)長(chang)(chang)應有(you)(you)增(zeng)(zeng)(zeng)長(chang)(chang)目標值（θ0可接受(shou)質量(liang)水(shui)平(ping)），必須要有(you)(you)可靠(kao)性(xing)增(zeng)(zeng)(zeng)長(chang)(chang)模型(xing)(xing)。典型(xing)(xing)的可靠(kao)性(xing)增(zeng)(zeng)(zeng)長(chang)(chang)模型(xing)(xing)有(you)(you)Duane模型(xing)(xing)和Amsaa模型(xing)(xing)。在試驗達到(dao)終點(dian)應該達到(dao)或超過規定的可靠(kao)性(xing)指標。
2、可靠性鑒定試驗
試(shi)驗(yan)方(fang)案的種(zhong)類有兩(liang)種(zhong)：定時截尾試(shi)驗(yan)方(fang)案 、截尾序貫試(shi)驗(yan)方(fang)案 。
3、可靠性驗收試驗
試(shi)(shi)驗項目包括(kuo)：高溫工作試(shi)(shi)驗、高溫儲存試(shi)(shi)驗、低(di)溫工作試(shi)(shi)驗、低(di)溫儲存試(shi)(shi)驗、恒(heng)定濕熱試(shi)(shi)驗、運輸（振(zhen)動）試(shi)(shi)驗等。
(四) 試驗合格性(xing)
1、可靠性增長試驗
在規(gui)(gui)范化的(de)試驗(yan)設(she)備(bei)中，當試驗(yan)結果(guo)達到規(gui)(gui)定(ding)的(de)可靠性指(zhi)標，認為(wei)合格(ge)。若增長試驗(yan)結束時未達到規(gui)(gui)定(ding)的(de)可靠性指(zhi)標，則(ze)作(zuo)為(wei)不(bu)合格(ge)處理(li)。
2、可靠性鑒定(ding)試驗
按選擇的(de)統(tong)計試驗方案規定的(de)接收(shou)或(huo)拒收(shou)判據作為產品是(shi)否合格的(de)依據。
3、可(ke)靠性(xing)驗(yan)收試驗(yan)
判(pan)(pan)別水(shui)平和(he)抽樣方案在GB 2829 中選擇。產品質(zhi)量(liang)以(yi)不(bu)合(he)格數(shu)(shu)表(biao)示(shi)。產品質(zhi)量(liang)等級(ji)的(de)終判(pan)(pan)定按檢測項目所達(da)到的(de)質(zhi)量(liang)等級(ji)確(que)定。（即B類不(bu)合(he)格數(shu)(shu)達(da)到的(de)質(zhi)量(liang)等級(ji)和(he)C類不(bu)合(he)格數(shu)(shu)達(da)到的(de)質(zhi)量(liang)等級(ji)兩者(zhe)(zhe)中取較(jiao)低者(zhe)(zhe)）。
(五) 失效判據
1、可靠性增長試驗
①在產品(pin)標準中應該(gai)對每個被測參數(shu)(shu)規定可接(jie)收的性能范圍(wei)(wei)(wei)。若任一(yi)(yi)(yi)參數(shu)(shu)超(chao)出這種(zhong)范圍(wei)(wei)(wei)時(shi)，應稱作一(yi)(yi)(yi)次(ci)(ci)失(shi)效。如果不(bu)只是一(yi)(yi)(yi)個參數(shu)(shu)偏(pian)(pian)離(li)了規定范圍(wei)(wei)(wei)，而(er)且(qie)能證明不(bu)是同一(yi)(yi)(yi)原因使這些參數(shu)(shu)超(chao)出規定范圍(wei)(wei)(wei)時(shi)，每一(yi)(yi)(yi)種(zhong)參數(shu)(shu)的偏(pian)(pian)離(li)都應算(suan)作產品(pin)的一(yi)(yi)(yi)次(ci)(ci)失(shi)效。如果參數(shu)(shu)偏(pian)(pian)離(li)規定范圍(wei)(wei)(wei)是同一(yi)(yi)(yi)原因造成(cheng)的，只記作產品(pin)的一(yi)(yi)(yi)次(ci)(ci)失(shi)效。
②由于元器件(jian)時好(hao)時壞，或因虛焊(han)、漏焊(han)、短(duan)路、開(kai)路、接觸(chu)不良(liang)等造成(cheng)的產(chan)品故障，均記入(ru)失效數內。
③產品在(zai)一(yi)個有限(xian)時間內停止工作，接著又在(zai)沒有任(ren)何外界激勵的情況(kuang)下恢復工作，這叫(jiao)間歇失效，應記作受試產品的一(yi)次失效。
④已經(jing)證(zheng)實是未按規(gui)定的(de)條件使(shi)用(yong)所引起(qi)的(de)故障、僅屬某項將不采用(yong)的(de)設(she)計所引起(qi)的(de)故障、以及外加(jia)應(ying)力(li)超過規(gui)定值所引起(qi)的(de)故障叫“非關聯(lian)故障”，否則(ze)叫“關聯(lian)故障”， “非關聯(lian)故障”不記入受(shou)試產(chan)品(pin)失效數(shu)內(nei)。但應(ying)記錄并(bing)采取(qu)措施以防止再度發生(sheng)。
2、可(ke)靠性鑒定試驗
同可靠性(xing)增長(chang)試(shi)驗(yan)。
3、可靠性驗收試驗
對受試產品進行(xing)試驗和檢(jian)(jian)查(cha)，根據(ju)每一(yi)項試驗的結(jie)果(guo)和檢(jian)(jian)查(cha)結(jie)果(guo)確定是否有B類(lei)不(bu)(bu)合(he)(he)格(ge)或C類(lei)不(bu)(bu)合(he)(he)格(ge)，分別累計所(suo)有試驗和檢(jian)(jian)查(cha)的B類(lei)不(bu)(bu)合(he)(he)格(ge)和C類(lei)不(bu)(bu)合(he)(he)格(ge)即為受試產品的B類(lei)不(bu)(bu)合(he)(he)格(ge)數(shu)(shu)和C類(lei)不(bu)(bu)合(he)(he)格(ge)數(shu)(shu)。
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