因為目前的測試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費冗長的時間。因此，有其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽命推估模型，而Highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST)是目前有可能拿來做加速壽命推估的測試方法。

    HAST 是由固(gu)態技術協會(JEDEC)所制定的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)方法，主(zhu)要(yao)是用來進行半導體封裝的(de)(de)(de)(de)(de)(de)可靠(kao)度(du)測(ce)(ce)試(shi)，可測(ce)(ce)試(shi)封裝體老化的(de)(de)(de)(de)(de)(de)程度(du)以及水(shui)氣(qi)入(ru)侵(qin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)速(su)度(du)。主(zhu)要(yao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)條(tiao)件有兩個110℃ -85% RH和130℃-85% RH。在S.I.Chan的(de)(de)(de)(de)(de)(de)研究中，他們分析高(gao)功率LED芯(xin)片在經過HAST和一(yi)般(ban)(ban)環境(25℃-50%RH)測(ce)(ce)試(shi)后，芯(xin)片特性(xing)(xing)劣化的(de)(de)(de)(de)(de)(de)機制是否(fou)相同。在一(yi)般(ban)(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)條(tiao)件下經過2900小時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)后，LED芯(xin)片會出現(xian)光通量(liang)衰減、光譜特性(xing)(xing)改變、封裝材料(liao)變色和氣(qi)泡產生(sheng)以及熱阻上升等現(xian)象。而在HAST的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)中可觀察(cha)得到更為顯(xian)著的(de)(de)(de)(de)(de)(de)現(xian)象，且(qie)無其他異常現(xian)象發生(sheng)，這表(biao)示了HAST確實有加速(su)劣化機制的(de)(de)(de)(de)(de)(de)效果。

    在圖3中，可以看到LED芯片的光通量在HAST測試中，下降的速度比一般情況下要來的快。但只靠HAST的測試是無法推測出燈具的使用壽命，還需要一個壽命推估模型。W.D. van Rriel提到利用Monte Carlos approach和hybrid approach using BBN and Markov Chain methodology這兩種方法來推估燈具系統的壽命，但是推估過程容易因為LED燈具系統若使用較多元件而變得相當復雜。