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普諾威電子集成電路可靠性測試選購瑞凱恒溫恒濕試驗箱

作(zuo)者(zhe): salmon范 編(bian)輯: 瑞凱儀器 來源(yuan): bibil.cn 發布日期: 2020.09.02

    江蘇(su)普諾(nuo)威(wei)電子股(gu)份有限公(gong)司(簡稱(cheng)普諾(nuo)威(wei)電子)是深(shen)圳崇達電路的子公(gong)司(深(shen)圳中小板上市(shi)(shi)公(gong)司,股(gu)票(piao)代碼:002815),專注于集成電路封裝載板的研發(fa)與制造(zao),是江蘇(su)省戰(zhan)略新興產業項目。2004年(nian)4月成立于江蘇(su)省昆(kun)山市(shi)(shi)千燈鎮民營(ying)開發(fa)區,公(gong)司占地面積20000平米。

普諾威電子-瑞凱儀器

    為了模擬集成電路在使用之前在一定濕度,溫度條件下存儲的耐久力,也就是集成電路從生產到使用之間存儲的可靠性,普諾威電子采購經理在網上了解到了瑞凱儀器品牌的可程式恒溫恒濕試驗箱可以滿足公司測試的要求。經過與瑞凱儀器的技術工程師多次洽談,終確認選購了瑞凱R-TH-150款可程式恒溫恒濕試驗箱。

R-TH-150款可程式恒溫恒濕試驗箱

    R-TH-150可程式恒溫恒濕試驗箱參數介紹
    內箱材質:304不銹鋼
    外箱材質(zhi):冷軋鋼板烤(kao)漆(qi)
    內箱尺(chi)寸(H*W*D):600* 500*500 mm
    外箱尺寸(H*W*D):1600*750*1400 mm
    升溫速率:3℃/min 非線(xian)性 空(kong)載(zai)
    降溫速率(lv):1℃/min 非線性 空載
    溫度(du)范圍(wei):0℃→+150℃
    溫(wen)度偏差 :≤±2℃
    溫度波(bo)動(dong)度: ≤±0.5℃
    濕度(du)范圍:20%~98%R.H
    濕(shi)度(du)(du)波(bo)動度(du)(du):≤±2%R.H
    濕度(du)(du)均勻度(du)(du):≤±3.0% 空載(zai)下
    發熱(re)負載:模擬有源發熱(re)負載≤100W
    引(yin)線孔:φ50mm 1個
    隔板:2塊
    電壓(ya):220V
    功率:6KW
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