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淺析高低溫試驗箱校準溫度的選擇

作者：網絡(luo) 編(bian)輯：瑞凱儀器來源：網絡發(fa)布日期： 2021.05.06

高低溫試驗箱是開展溫度環境適應性試驗必不可少的硬件設備。定期校準是保證設備性能指標有效性的常用手段。本文闡明了影響溫度準確性的原因、風險和解決思路，有助于實驗室校準溫度的選擇。

引言

    高低(di)溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)（以下簡稱“設備”）是實現(xian)環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)(du)試驗(yan)的硬件(jian)設備。為了保證設備性能滿足標準(zhun)(zhun)方法(fa)要求，實驗(yan)室(shi)一般(ban)都按照JJF 1101-2003《環(huan)境(jing)試驗(yan)設備溫(wen)度(du)(du)、濕度(du)(du)校準(zhun)(zhun)規范》第6.1條(tiao)款開(kai)展定(ding)期(qi)校準(zhun)(zhun)，校準(zhun)(zhun)項目包括溫(wen)度(du)(du)偏(pian)差、溫(wen)度(du)(du)均勻度(du)(du)和溫(wen)度(du)(du)波動度(du)(du)。
    在三個校準項(xiang)(xiang)目(mu)中，溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)偏差用于(yu)評價設(she)備空(kong)間點溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)與設(she)備顯示溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)的(de)偏離情(qing)況，溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)均勻度(du)(du)(du)用于(yu)評價設(she)備工(gong)作(zuo)艙空(kong)間溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)場分布(bu)，溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)波動度(du)(du)(du)用于(yu)評價設(she)備溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)重復性(xing)。其中，溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)偏差是容易出問題的(de)項(xiang)(xiang)目(mu)，而(er)且隱(yin)蔽性(xing)強，需(xu)要實(shi)驗室重點關注。
   在實(shi)際工作(zuo)中，某(mou)些實(shi)驗(yan)室(shi)在選擇校(xiao)準(zhun)溫度(du)時，會選擇能(neng)體現設備溫度(du)范圍(wei)的極(ji)限溫度(du)和常用溫度(du)進行(xing)校(xiao)準(zhun)，認為只要這些溫度(du)點(dian)的溫度(du)偏差滿(man)足標準(zhun)方法(fa)要求，則所有溫度(du)點(dian)的溫度(du)偏差都(dou)滿(man)足標準(zhun)要求。這種校(xiao)準(zhun)溫度(du)的選擇實(shi)際上存在一(yi)定(ding)的局限性，不一(yi)定(ding)適用實(shi)驗(yan)室(shi)使(shi)用的高低溫試驗(yan)箱。

01、影響(xiang)溫度偏(pian)差變(bian)化的主要原因

高低溫試驗箱的主要組成包括溫度測量系(xi)(xi)統(tong)、電氣(qi)控制系(xi)(xi)統(tong)、制冷/加(jia)熱系(xi)(xi)統(tong)和空氣(qi)循環系(xi)(xi)統(tong)等(deng)四個部(bu)分(fen)。圖1位溫度調(diao)節過(guo)程示(shi)意圖。

溫度調節過程示意圖

    溫(wen)(wen)(wen)度(du)測量(liang)(liang)系(xi)統(tong)(tong)通過(guo)溫(wen)(wen)(wen)度(du)傳(chuan)(chuan)(chuan)感(gan)器把感(gan)受(shou)到(dao)的溫(wen)(wen)(wen)度(du)轉(zhuan)化成電信(xin)號(hao)傳(chuan)(chuan)(chuan)輸(shu)(shu)給電氣控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)(tong)，同時(shi)也通過(guo)A/D轉(zhuan)換顯(xian)示在設備(bei)面板，即顯(xian)示溫(wen)(wen)(wen)度(du)。由(you)于溫(wen)(wen)(wen)度(du)測量(liang)(liang)系(xi)統(tong)(tong)的溫(wen)(wen)(wen)度(du)傳(chuan)(chuan)(chuan)感(gan)器參與(yu)控(kong)制(zhi)，所以(yi)又(you)叫(jiao)溫(wen)(wen)(wen)度(du)控(kong)制(zhi)傳(chuan)(chuan)(chuan)感(gan)器。電氣控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)(tong)將測量(liang)(liang)結(jie)果與(yu)設備(bei)內置的溫(wen)(wen)(wen)度(du)特征參數進(jin)行比(bi)對，然(ran)后(hou)通過(guo)一系(xi)列(lie)的動作調節(jie)制(zhi)冷(leng)/加熱系(xi)統(tong)(tong)的能(neng)量(liang)(liang)輸(shu)(shu)出。輸(shu)(shu)出能(neng)量(liang)(liang)通過(guo)空氣循環(huan)系(xi)統(tong)(tong)散布到(dao)設備(bei)工作空間，形成一個(ge)閉環(huan)系(xi)統(tong)(tong)進(jin)行溫(wen)(wen)(wen)度(du)調節(jie)。
    設備空間的(de)(de)溫度值(zhi)與(yu)溫度測量(liang)(liang)系(xi)統的(de)(de)測量(liang)(liang)值(zhi)之間的(de)(de)差(cha)值(zhi)就是(shi)(shi)溫度偏差(cha)。影響溫度偏差(cha)的(de)(de)因素包括溫度測量(liang)(liang)系(xi)統的(de)(de)穩定(ding)性和精(jing)度，控(kong)制系(xi)統的(de)(de)能(neng)量(liang)(liang)輸出和空氣循環系(xi)統的(de)(de)能(neng)量(liang)(liang)傳遞效果。在這些(xie)因素綜合作用下，溫度偏差(cha)是(shi)(shi)不(bu)可避免的(de)(de)。
    當(dang)設(she)備加工調試完(wan)畢后，控制(zhi)系(xi)統和空氣循環系(xi)統的對溫(wen)(wen)度(du)偏差(cha)(cha)的影(ying)響基本就固化(hua)(hua)下(xia)來，一般不會發(fa)生(sheng)大的變化(hua)(hua)。而(er)溫(wen)(wen)度(du)測(ce)量系(xi)統在設(she)備使用過程中，相關參數容易產生(sheng)偏移，導致溫(wen)(wen)度(du)偏差(cha)(cha)發(fa)生(sheng)變化(hua)(hua)。所(suo)以設(she)備投用后，溫(wen)(wen)度(du)測(ce)量系(xi)統的穩(wen)定性和精(jing)度(du)是(shi)溫(wen)(wen)度(du)偏差(cha)(cha)發(fa)生(sheng)變化(hua)(hua)的主要原因和常見原因。

02、溫度測量系統的設計原理簡介

2.1溫度-阻值(zhi)非線(xian)性原(yuan)理
溫(wen)(wen)度(du)(du)測量系統(tong)由溫(wen)(wen)度(du)(du)傳感(gan)器和(he)接口(kou)電(dian)路構(gou)成。溫(wen)(wen)度(du)(du)傳感(gan)器有熱電(dian)阻(zu)和(he)熱電(dian)偶兩類。在不同(tong)溫(wen)(wen)度(du)(du)作用下，熱電(dian)阻(zu)的電(dian)阻(zu)值或(huo)熱電(dian)偶的電(dian)流會產生(sheng)變(bian)化(hua)。接口(kou)電(dian)路把電(dian)阻(zu)或(huo)電(dian)流變(bian)化(hua)情況轉變(bian)成可用電(dian)信號，經過調(diao)(diao)校(xiao)后輸出(chu)到(dao)電(dian)氣(qi)控制系統(tong)對設備進(jin)行溫(wen)(wen)度(du)(du)調(diao)(diao)節。因此(ci)，溫(wen)(wen)度(du)(du)測量系統(tong)的輸出(chu)是否準確與溫(wen)(wen)度傳感器和(he)接口電(dian)路都有直接關(guan)系。

高低溫試驗箱(xiang)常用的(de)溫度(du)傳感器是PT100鉑電(dian)阻(zu)傳感器。PT表示傳感器材質為(wei)鉑金，100表示0℃的(de)電(dian)阻(zu)為(wei)100歐姆。PT100溫度(du)測(ce)量范圍為(wei)-200℃～650℃，屬于(yu)正電(dian)阻(zu)型傳感器，即溫度(du)傳感器的(de)阻(zu)值隨著溫度(du)升高變大(da)，反之則(ze)變小。阻(zu)值與溫度(du)的(de)對(dui)應關系如圖(tu)2中實(shi)線所示。

阻值與溫度的對應關系

    鉑電阻(zu)的阻(zu)值與溫度的對應關系(xi)可以表(biao)示成兩個數學函數關系(xi)：
    200 ℃～0 ℃，阻值與溫度(du)的函數關系(xi)：
    Rt=R0[1+At+Bt2+C（t-100）t3]
    0 ℃～650 ℃，阻值與溫度(du)的函數關系：
    Rt=R0[1+At+Bt2]
    其中，Rt是t ℃的電(dian)阻值，R0是0 ℃時的電(dian)阻值。
    A、B、C為(wei)特(te)定常數。
    從(cong)以上兩個函數關系(xi)表達式可以看(kan)出，兩個函數中都(dou)包含變量Bt2，所以Rt特征曲線是一條單調上凸(tu)的曲線，溫(wen)度和電阻值不是線性對應(ying)關系(xi)。PT100作為鉑電阻溫(wen)度傳感(gan)器，其(qi)電阻值與(yu)溫(wen)度也(ye)是非線性關系(xi)。
    溫(wen)(wen)度傳感器輸(shu)出(chu)的(de)是非線(xian)(xian)性信(xin)號(hao)，試驗(yan)設(she)(she)備電氣(qi)控制系統需要輸(shu)入的(de)是線(xian)(xian)性信(xin)號(hao)，兩者之間就需要接口電路進行(xing)線(xian)(xian)性化信(xin)號(hao)調(diao)校(xiao)。目前，鉑電阻的(de)線(xian)(xian)性化調(diao)校(xiao)方(fang)法有讀(du)表(biao)法、作(zuo)圖法和數(shu)學(xue)公式法。讀(du)表(biao)法就是按照(zhao)公開(kai)發布的(de)阻值(zhi)(zhi)-溫(wen)(wen)度分度表(biao)，選取特定的(de)參數(shu)作(zuo)為基(ji)準進行(xing)信(xin)號(hao)處理設(she)(she)計。其余溫(wen)(wen)度點，則通過(guo)阻值(zhi)(zhi)補償(chang)，使輸(shu)出(chu)信(xin)號(hao)貼近分度表(biao)給(gei)出(chu)的(de)參數(shu)。
    在GB/T 30121-2013/IEC60751：2008《工業鉑熱電阻及(ji)鉑感溫(wen)(wen)元件》分度(du)表中，明確規定了PT100各溫(wen)(wen)度(du)點下的溫(wen)(wen)度(du)-阻值對應值，數(shu)據詳細統(tong)一(yi)，廣泛應用在國內(nei)外高(gao)低溫(wen)(wen)試驗箱接口電路線性化調校算法中，屬于高(gao)低溫(wen)(wen)試驗箱測(ce)量系(xi)統(tong)設計的基(ji)礎參數(shu)之一(yi)。
    2.2設備調校方式(shi)
    雖然(ran)設(she)(she)備廠家在信(xin)號(hao)(hao)處理算(suan)(suan)法設(she)(she)計中，基本上都采用(yong)GB/T30121-2013/IEC60751：2008標準(zhun)中溫度-阻(zu)值分度表給出的(de)參數，但由于廠家算(suan)(suan)法不一樣，信(xin)號(hao)(hao)調校的(de)方式(shi)也(ye)存在差異，歸(gui)納起來就(jiu)是存在整體(ti)調校和多點(dian)調校兩(liang)種。具體(ti)是采用(yong)哪種方式(shi)進(jin)行(xing)調校的(de)，需要查(cha)詢廠家提供的(de)設(she)(she)備資(zi)料。
    整(zheng)體(ti)調校設計是以設備溫(wen)度(du)(du)(du)范圍的(de)上(shang)(shang)下限溫(wen)度(du)(du)(du)對(dui)應的(de)阻(zu)值(zhi)(zhi)作(zuo)為(wei)基準，將兩點連線(xian)(xian)作(zuo)為(wei)基準線(xian)(xian)，選取中間(jian)某幾點溫(wen)度(du)(du)(du)的(de)阻(zu)值(zhi)(zhi)作(zuo)為(wei)參照，模(mo)擬出一條(tiao)溫(wen)度(du)(du)(du)-阻(zu)值(zhi)(zhi)線(xian)(xian)性(xing)變(bian)化線(xian)(xian)段作(zuo)為(wei)特征曲線(xian)(xian)。整(zheng)體(ti)調校的(de)設備，整(zheng)個(ge)溫(wen)度(du)(du)(du)范圍內的(de)溫(wen)度(du)(du)(du)變(bian)化趨(qu)勢是相互(hu)關聯(lian)的(de)。當某個(ge)溫(wen)度(du)(du)(du)點出現變(bian)化，整(zheng)條(tiao)特征曲線(xian)(xian)都會發(fa)生變(bian)化，上(shang)(shang)下限溫(wen)度(du)(du)(du)一定會同(tong)時(shi)或單獨發(fa)生同(tong)向變(bian)化。
    多點(dian)調校設(she)計是(shi)將設(she)備(bei)溫(wen)度(du)(du)范圍分成多個(ge)溫(wen)度(du)(du)段(duan)，每段(duan)選取兩個(ge)端點(dian)溫(wen)度(du)(du)的(de)(de)阻(zu)值(zhi)作(zuo)為(wei)基(ji)準(zhun)，將兩點(dian)連線(xian)(xian)作(zuo)為(wei)基(ji)準(zhun)線(xian)(xian)，模擬出一條溫(wen)度(du)(du)-阻(zu)值(zhi)線(xian)(xian)性變化(hua)特(te)征曲(qu)線(xian)(xian)。由于(yu)設(she)備(bei)整(zheng)個(ge)溫(wen)度(du)(du)范圍內的(de)(de)特(te)征曲(qu)線(xian)(xian)通過多條折線(xian)(xian)模擬的(de)(de)，業界也(ye)稱(cheng)之為(wei)多點(dian)折線(xian)(xian)調校。多點(dian)調校的(de)(de)設(she)備(bei)，只(zhi)有(you)(you)處于(yu)同一溫(wen)度(du)(du)段(duan)的(de)(de)溫(wen)度(du)(du)才(cai)存(cun)在(zai)關聯關系。當某一溫(wen)度(du)(du)發生偏移，只(zhi)有(you)(you)處于(yu)同一段(duan)的(de)(de)溫(wen)度(du)(du)才(cai)會受影(ying)響(xiang)(xiang)，不影(ying)響(xiang)(xiang)其他溫(wen)度(du)(du)段(duan)的(de)(de)溫(wen)度(du)(du)。

03、案例分析

    國內某知名(ming)科研(yan)院所實(shi)驗室(shi)(shi)的年(nian)度(du)(du)校(xiao)準(zhun)計劃中，按(an)照GB/T5170.2-2017/8.1.2條款推薦，結合實(shi)驗室(shi)(shi)使用需求，校(xiao)準(zhun)溫度(du)(du)統(tong)一選取了(le)-70℃、-55℃、-10℃、40℃、85℃、125℃、150℃等7個溫度(du)(du)點。
    案例一
    查閱(yue)某型號的高低溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)校準證(zheng)書(shu)，其(qi)溫(wen)(wen)(wen)度(du)偏差數據見表1。查詢(xun)設(she)(she)備相關(guan)資料，設(she)(she)備容積為(wei)1立方米，溫(wen)(wen)(wen)度(du)范圍為(wei)-70℃～150℃，滿足GB/T2423.1和GB/T2423.2試(shi)驗(yan)方法要求。根據廠方提供的資料，該設(she)(she)備溫(wen)(wen)(wen)度(du)屬于多點調校設(she)(she)計，溫(wen)(wen)(wen)度(du)調校點為(wei)-70℃、-45℃、-10℃、-5℃、40℃、70℃、125℃、150℃。
    如果只看(kan)校(xiao)準(zhun)數(shu)據(ju)，按照GB/T2423.1或GB/T2423.2對溫度(du)偏差的要求，這些(xie)溫度(du)點(dian)的溫度(du)偏差都小于(yu)±2℃，滿足標準(zhun)方法規定。但是，當利用(yong)這些(xie)校(xiao)準(zhun)數(shu)據(ju)進一步分析設(she)備整個溫度(du)范圍(wei)的溫度(du)偏差時，就會發現以(yi)下兩個方面問題：
     1）校準溫(wen)度(du)(du)-70℃和-55℃屬(shu)于(yu)(yu)設備(bei)(bei)-70℃～-45℃溫(wen)度(du)(du)調校段(duan)。由于(yu)(yu)同一(yi)溫(wen)度(du)(du)段(duan)的(de)溫(wen)度(du)(du)偏移(yi)變(bian)化趨勢(shi)是一(yi)致的(de)，所以(yi)按此趨勢(shi)經過推(tui)算(suan)，-45℃溫(wen)度(du)(du)偏差(cha)約為(wei)+2.5℃，已經超出(chu)了標準方法規(gui)定(ding)。同理，校準溫(wen)度(du)(du)85℃和125℃屬(shu)于(yu)(yu)設備(bei)(bei)70℃～125℃溫(wen)度(du)(du)調校段(duan)，則可以(yi)算(suan)出(chu)70℃的(de)溫(wen)度(du)(du)偏差(cha)約為(wei)-0.6℃。

2）設備-10℃～-5℃和-5℃～40℃溫(wen)(wen)度(du)(du)段分別都(dou)只(zhi)有(you)一個溫(wen)(wen)度(du)(du)點，無法推算出-5℃的溫(wen)(wen)度(du)(du)偏(pian)差，無法判斷這(zhe)兩段溫(wen)(wen)度(du)(du)的變化趨勢，因此無法判斷-10℃～-5℃～40℃區間(jian)的溫(wen)(wen)度(du)(du)偏(pian)差是否滿足不大(da)于±2℃的要求。

溫度偏差數據

案例二
查閱某型號的高(gao)低溫(wen)(wen)(wen)試驗箱(xiang)校準證書，其溫(wen)(wen)(wen)度(du)偏(pian)差數據(ju)見表2。查詢設(she)(she)(she)備(bei)相關資料，設(she)(she)(she)備(bei)容積(ji)為(wei)(wei)0.2立方米(mi)，溫(wen)(wen)(wen)度(du)范圍為(wei)(wei)-70℃～150℃，滿足(zu)GB/T2423.1和GB/T2423.2試驗方法(fa)要求。根據(ju)廠方提供的(de)資料，該設(she)(she)(she)備(bei)溫(wen)(wen)(wen)度(du)屬于整體調校設(she)(she)(she)計。

以X軸為溫(wen)(wen)(wen)度(du)軸，Y軸作為溫(wen)(wen)(wen)度(du)偏(pian)(pian)差軸。根(gen)據校準數據，將-70℃和150℃的(de)溫(wen)(wen)(wen)度(du)偏(pian)(pian)差連(lian)(lian)起來，可以發現該連(lian)(lian)線圍(wei)繞X軸的(de)某(mou)一溫(wen)(wen)(wen)度(du)點發生(sheng)了(le)旋轉，其(qi)它溫(wen)(wen)(wen)度(du)都(dou)隨著連(lian)(lian)線的(de)旋轉方(fang)向產生(sheng)同(tong)向偏(pian)(pian)移。所有校準溫(wen)(wen)(wen)度(du)的(de)溫(wen)(wen)(wen)度(du)偏(pian)(pian)差都(dou)滿(man)足(zu)標準方(fang)法要求(qiu)。

校準溫度的溫度偏差

案例(li)一中的(de)(de)(de)設備屬于(yu)(yu)多點調校(xiao)，實(shi)驗(yan)室(shi)選取(qu)(qu)的(de)(de)(de)校(xiao)準(zhun)溫(wen)度就不(bu)足以反映設備的(de)(de)(de)整體性(xing)能，只能代表校(xiao)準(zhun)溫(wen)度的(de)(de)(de)偏移情況。案例(li)二中的(de)(de)(de)設備屬于(yu)(yu)整體調校(xiao)，實(shi)驗(yan)室(shi)選取(qu)(qu)的(de)(de)(de)校(xiao)準(zhun)溫(wen)度能反映設備的(de)(de)(de)整體性(xing)能。所以實(shi)驗(yan)室(shi)選取(qu)(qu)的(de)(de)(de)校(xiao)準(zhun)溫(wen)度不(bu)恰當，不(bu)能完全(quan)適用(yong)實(shi)驗(yan)室(shi)所用(yong)的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)設備。

04、風險與防范

    選擇的(de)校準溫度不合(he)理，會給實驗室(shi)帶來技術風(feng)(feng)險和經濟風(feng)(feng)險，進而影(ying)響(xiang)相關組織或(huo)用戶對實驗室(shi)質量控(kong)制(zhi)工作的(de)質疑，造成(cheng)社(she)會負面影(ying)響(xiang)。
    技(ji)術風(feng)險(xian)方(fang)面，會影響(xiang)(xiang)(xiang)實驗(yan)(yan)(yan)(yan)室(shi)(shi)檢(jian)測(ce)結(jie)果(guo)(guo)的(de)(de)(de)有效性，導(dao)致(zhi)實驗(yan)(yan)(yan)(yan)室(shi)(shi)報告的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)結(jie)果(guo)(guo)存(cun)在(zai)錯誤。溫度(du)(du)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)有兩種形式：白盒(he)(he)法(fa)和(he)黑盒(he)(he)法(fa)。白盒(he)(he)法(fa)就是(shi)已知試(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)溫度(du)(du)，考(kao)核(he)產品在(zai)該溫度(du)(du)下的(de)(de)(de)性能和(he)功能。黑盒(he)(he)法(fa)則(ze)是(shi)根據產品的(de)(de)(de)某(mou)個信號，要(yao)求實驗(yan)(yan)(yan)(yan)室(shi)(shi)給(gei)出對(dui)應的(de)(de)(de)溫度(du)(du)值。對(dui)于多點(dian)調校(xiao)的(de)(de)(de)設備(bei)，實驗(yan)(yan)(yan)(yan)室(shi)(shi)如使用非校(xiao)準(zhun)(zhun)溫度(du)(du)點(dian)開展白盒(he)(he)法(fa)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)，或(huo)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)法(fa)屬于黑盒(he)(he)法(fa)，校(xiao)準(zhun)(zhun)溫度(du)(du)選(xuan)擇不(bu)合理則(ze)檢(jian)測(ce)結(jie)果(guo)(guo)存(cun)在(zai)風(feng)險(xian)，影響(xiang)(xiang)(xiang)實驗(yan)(yan)(yan)(yan)室(shi)(shi)的(de)(de)(de)外部質量(liang)控制結(jie)果(guo)(guo)，進而(er)影響(xiang)(xiang)(xiang)相(xiang)關組織對(dui)實驗(yan)(yan)(yan)(yan)室(shi)(shi)資(zi)質的(de)(de)(de)認(ren)可或(huo)認(ren)定，造成(cheng)社會負面影響(xiang)(xiang)(xiang)。
    經(jing)濟風險方面，會增加(jia)(jia)實(shi)驗室校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)成本，耽誤(wu)設(she)(she)備投用(yong)時間。計量機構(gou)的(de)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)報價中一般都只包含4～5個溫(wen)(wen)度點(dian)。校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)溫(wen)(wen)度選擇的(de)不合理(li)，除了不能反映設(she)(she)備的(de)整體性能以外，還可能因為校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)溫(wen)(wen)度點(dian)數量過(guo)多(duo)，增加(jia)(jia)校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)支出。同(tong)時，實(shi)驗室對(dui)設(she)(she)備校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)前(qian)狀態不清楚，在(zai)溫(wen)(wen)度偏差已經(jing)超差的(de)情(qing)況下進行校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)，導致二次校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)，不僅耽誤(wu)時間也會造成額外的(de)校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)成本。
    測量人員應充分理解(jie)GB/T 2423.1-2008和為了(le)避免校準(zhun)溫度(du)選擇風險(xian)，兼顧實驗室的設備(bei)校準(zhun)成本支出，實驗室在(zai)開展設備(bei)校準(zhun)管理時，應注意以下幾個(ge)事(shi)項：
     實(shi)驗(yan)室在制(zhi)(zhi)定校(xiao)準計劃前，應查閱設(she)(she)備(bei)(bei)資料，了解(jie)設(she)(she)備(bei)(bei)溫度調校(xiao)設(she)(she)計方式(shi)，編制(zhi)(zhi)設(she)(she)備(bei)(bei)校(xiao)準方案并實(shi)時更新，指(zhi)導設(she)(she)備(bei)(bei)校(xiao)準計劃制(zhi)(zhi)定。
    首次校(xiao)(xiao)準時，選擇的校(xiao)(xiao)準溫度應能(neng)充分反(fan)映(ying)設(she)備的整(zheng)體狀(zhuang)態。
     每次校(xiao)準后(hou)，實驗(yan)室(shi)應(ying)盡量(liang)收集(ji)保存設備當前狀態的相(xiang)關數(shu)據，留作(zuo)后(hou)續校(xiao)準計劃的制定參考。
    在新一輪(lun)校準(zhun)計劃制(zhi)定時，實驗室應對(dui)設備當(dang)前狀(zhuang)態進行確認，對(dui)比(bi)以(yi)前的數據，分析可(ke)能存在的溫(wen)度偏差(cha)超差(cha)點(dian)，采取必要的維護維修工作。
     如果(guo)實(shi)驗室(shi)選擇的校(xiao)準溫度值或溫度點數量不能充(chong)分(fen)反映設備的整體性(xing)能，實(shi)驗室(shi)應分(fen)析可能存在的風(feng)險，并告知設備使用者。

結論

實驗室在(zai)選擇高(gao)低溫(wen)試驗箱校準(zhun)溫(wen)度時，應充分了解(jie)設備的(de)相關信息，分析(xi)設備使用狀態，制(zhi)定文件化(hua)的(de)校準(zhun)方案，建立科學系統的(de)管理方式，才能(neng)降低校準(zhun)溫(wen)度選擇風(feng)(feng)險(xian)，避免可能(neng)遇到(dao)的(de)技術風(feng)(feng)險(xian)和經濟(ji)風(feng)(feng)險(xian)，提(ti)升檢測結果的(de)有效(xiao)性，實現低風(feng)(feng)險(xian)、低成(cheng)本、高(gao)質量的(de)校準(zhun)管理。

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