瑞凱溫度循環試驗箱-讓電子產品環境使用適能力更可靠
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器(qi)
來源(yuan)：
bibil.cn
發布日期： 2021.06.23
隨(sui)著(zhu)消費電子(zi)和汽車電子(zi)的(de)(de)蓬(peng)勃發(fa)展，5G也(ye)迎(ying)來了商用(yong)熱潮，電子(zi)技術(shu)的(de)(de)升級(ji)以及電子(zi)產品(pin)的(de)(de)復雜程度在(zai)(zai)不斷增加(jia)，加(jia)上電子(zi)產品(pin)的(de)(de)使(shi)用(yong)環境(jing)日益嚴酷(ku)，元件、產品(pin)、系統很難確保在(zai)(zai)一定(ding)(ding)時間(jian)內、在(zai)(zai)一定(ding)(ding)條(tiao)件下(xia)無故(gu)障地執(zhi)行指定(ding)(ding)功能的(de)(de)能力或可(ke)能性。因此(ci)，為(wei)了確認電子(zi)產品(pin)能在(zai)(zai)這些(xie)環境(jing)下(xia)正常(chang)工作，國標、行標都(dou)要(yao)求產品(pin)在(zai)(zai)環境(jing)方法模擬一些(xie)測試項目(mu)。
比(bi)如高低溫(wen)循(xun)環(huan)測試
高低溫(wen)循環測試(shi)是指(zhi)設(she)定(ding)溫(wen)度(du)從(cong)-50℃保(bao)持4個(ge)小時后，升溫(wen)到(dao) +90℃，然后，在+90℃保(bao)持4個(ge)小時，降溫(wen)到(dao)-50℃，依次做(zuo)N個(ge)循環。
工業級溫度標準為-40℃
~ +85℃，因為溫度循環試驗箱通常會存在溫差，為保證到客戶端不會因為溫度偏差導致測試結果不一致，內部測試建議使用標準溫度±5℃溫差來測試。
測試流程：
1、在樣品(pin)斷電(dian)的狀態(tai)下(xia)(xia)，先將溫(wen)(wen)度(du)下(xia)(xia)降到-50℃，保持4個小時；請勿(wu)在樣品(pin)通電(dian)的狀態(tai)下(xia)(xia)進行(xing)低溫(wen)(wen)測(ce)試(shi)，非常重要(yao)，因為(wei)通電(dian)狀態(tai)下(xia)(xia)，芯片本身就會產(chan)生+20℃以(yi)上溫(wen)(wen)度(du)，所(suo)以(yi)，在通電(dian)狀態(tai)下(xia)(xia)，通常比較容易(yi)通過低溫(wen)(wen)測(ce)試(shi)，必須先將其“凍透”，再次(ci)通電(dian)進行(xing)測(ce)試(shi)。
2、開機，對(dui)樣品進(jin)行性能測試，對(dui)比性能與常(chang)溫相比是否(fou)正(zheng)常(chang)。
3、進行老(lao)化測試(shi)，觀察是否有(you)數據對比錯誤。
4、升(sheng)溫到(dao)+90℃，保持4個(ge)小(xiao)時(shi)，與(yu)低溫測試相(xiang)反，升(sheng)溫過程不斷(duan)電，保持芯片內部的溫度一(yi)直處于高溫狀態，4個(ge)小(xiao)時(shi)后，執行(xing)2、3、4測試步驟(zou)。
5、高溫和(he)低溫測試分別重復(fu)10次(ci)。
如果測(ce)試過程出現任何一(yi)次不能正常工作的狀(zhuang)態，則(ze)視(shi)為測(ce)試失敗(bai)。
參考標準(zhun)：
GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法(fa)
GB/T2423.2-2008試(shi)驗B：高溫試(shi)驗方法
GB/T2423.22-2002試驗(yan)N：溫度變化試驗(yan)方法等。
除(chu)了高低(di)溫(wen)循環測(ce)(ce)試(shi)(shi)，電子產(chan)品(pin)(pin)還可能做(zuo)的可靠(kao)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)有恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕測(ce)(ce)試(shi)(shi)(Temperature
And Humidity test)、交變濕熱測(ce)(ce)試(shi)(shi)（Damp Heat, Cyclic test）、低(di)溫(wen)存儲測(ce)(ce)試(shi)(shi) (Low Temperature Storage test)、高溫(wen)存儲測(ce)(ce)試(shi)(shi) (High Temperature Storage test)、高低(di)溫(wen)沖擊測(ce)(ce)試(shi)(shi)(thermal shock test)、鹽霧(wu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)（Salt Spray Test）、振動(dong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)隨機/正(zheng)弦(Vibration test)、包裝(zhuang)箱(xiang)自由跌落測(ce)(ce)試(shi)(shi)(Drop test)、蒸氣老化(hua)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(Steam Aging test)、IP等級防護測(ce)(ce)試(shi)(shi)（IP
Test)、LED光衰壽命測(ce)(ce)試(shi)(shi)及認(ren)證（LED LM80 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources）等，根(gen)據廠商對產(chan)品(pin)(pin)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)要求(qiu)選擇(ze)。
瑞凱儀器研(yan)發、生產的(de)(de)溫度循(xun)環試驗(yan)箱、恒溫恒濕試驗(yan)箱、冷熱(re)沖擊試驗(yan)箱、三(san)綜(zong)合(he)試驗(yan)箱、鹽霧試驗(yan)箱等為電子(zi)(zi)產品的(de)(de)可(ke)靠性測試提供了解決(jue)方案，通(tong)過模(mo)擬(ni)自然(ran)環境中(zhong)的(de)(de)溫度、濕度、海水、鹽霧、沖擊、振(zhen)動、宇宙(zhou)粒子(zi)(zi)、各種輻(fu)射等，可(ke)以提前判斷(duan)產品適用的(de)(de)可(ke)靠度、失效率、平均無故障間隔(ge)。
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