芯片（IC）可靠性測試好幫手——瑞凱儀器HAST試驗箱系列
作(zuo)者：
salmon范
編輯：
瑞(rui)凱儀器
來(lai)源：
bibil.cn
發布日期： 2021.08.04
芯(xin)片是電(dian)子(zi)信息產(chan)品重要(yao)的(de)元器件，是高(gao)端制(zhi)(zhi)造業(ye)的(de)是核心基(ji)石(shi)！幾(ji)乎每(mei)種電(dian)子(zi)設備，電(dian)腦(nao)、手(shou)機、家電(dian)、汽(qi)車(che)、高(gao)鐵、電(dian)網、醫療儀器、機器人、工業(ye)控(kong)制(zhi)(zhi)等都使用芯(xin)片。
由(you)此可知，芯片(pian)在我們日常生活(huo)中(zhong)充當了極其(qi)重(zhong)要(yao)的(de)角色(se)，當然其(qi)品質也受到了人們的(de)高度重(zhong)視，但你(ni)知道一(yi)塊芯片(pian)需要(yao)做哪些環境可靠性測試呢？
瑞凱儀器來告(gao)訴(su)你吧(ba)。
1、高(gao)低溫試驗：模(mo)擬IC在使用之(zhi)前在一定濕度(du)，溫度(du)條件下存儲(chu)的耐久(jiu)力，也就是IC從(cong)生產到使用之(zhi)間存儲(chu)的可靠(kao)性。
2、高(gao)溫高(gao)濕試驗（THB）：評估(gu)IC產(chan)品在高(gao)溫，高(gao)濕，偏壓(ya)條(tiao)件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進(jin)程。
3、高(gao)(gao)壓(ya)蒸(zheng)煮試驗（PCT）：評估IC產品在高(gao)(gao)溫，高(gao)(gao)濕，高(gao)(gao)氣壓(ya)條件(jian)下對(dui)濕度的抵抗能力，加(jia)速其失效過程(cheng)。
4、高(gao)低(di)(di)溫循環試驗（TCT）: 評估(gu)IC產品中具有不同熱膨脹系(xi)數的(de)(de)金屬之(zhi)間的(de)(de)界面(mian)的(de)(de)接觸良率。方法是通過循環流動(dong)的(de)(de)空氣從高(gao)溫到低(di)(di)溫重(zhong)復變化。
5、高溫(wen)儲存(cun)試驗（HTST）: 評(ping)估IC產品在實際使(shi)用之(zhi)前在高溫(wen)條件下保持幾年不工作條件下的生命時間。
此(ci)外，還有一(yi)個為重要的性能測(ce)試(shi)，即高加速(su)(su)溫濕(shi)度及偏壓測(ce)試(shi)（HAST），評估IC產品在(zai)偏壓下高溫，高濕(shi)，高氣(qi)壓條件下對濕(shi)度的抵抗能力，加速(su)(su)其(qi)失效過(guo)程。
可是怎么(me)知道芯片是否存在(zai)失效(xiao)呢？
那當然要使(shi)用瑞凱儀器所研制的HAST試驗箱(xiang)啦！
瑞凱HAST試驗箱主要應用于芯片、半導體器件、金屬材料領域，通過爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。一般通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導體的交接面。
HAST試驗箱特征：
1、可定制BIAS偏壓端子組數，提供(gong)產品通電測試；
2、通過電(dian)腦安(an)全便(bian)捷的遠程訪問(wen)；
3、多層級的敏感(gan)數(shu)據保護；
4、便捷的(de)程序入口(kou)、試驗設置(zhi)和產(chan)品監控；
5、試驗數據可以導出為Excel格式并(bing)通過(guo)USB接口(kou)進行傳輸(shu)；
6、可(ke)提供(gong)130℃溫度(du)、濕度(du)85%RH和(he)230KPa大氣壓的測(ce)試(shi)條(tiao)件；
7、出(chu)色(se)的溫(wen)濕度精(jing)密控制邏輯，防止待測品潮濕與結露的模式選擇；
8、壓力(li)值(zhi)采實際(ji)感應(ying)偵測，確(que)(que)保溫度(du)、濕度(du)及壓力(li)值(zhi)準確(que)(que)度(du)。
芯片(pian)不僅僅要(yao)進行環境可靠性(xing)測試，每一步品(pin)質檢測關卡都(dou)要(yao)嚴格把控(kong)，只有(you)符合所有(you)性(xing)能要(yao)求的芯片(pian)才能算(suan)得上(shang)是品(pin)質優(you)良，真正(zheng)確保電子產品(pin)的穩定(ding)性(xing)和安全(quan)性(xing)。
客服微信