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聚焦瑞凱，傳遞環境檢測行業新動態
技(ji)術(shu)文章
按有關標準進行ESS時常遇到的問題
來源(yuan)： 網絡 時間：2020-11-14
    自20世紀70年代，以美國(guo)為(wei)首的(de)(de)(de)(de)發(fa)達(da)國(guo)家在嘗到(dao)(dao)ESS的(de)(de)(de)(de)甜頭之后，紛紛以文件(jian)或標準的(de)(de)(de)(de)形(xing)式要求裝備(bei)研(yan)(yan)制(zhi)(zhi)生(sheng)產(chan)(chan)(chan)(chan)中須開展(zhan)此(ci)項工(gong)作(zuo)。其中具影響力(li)的(de)(de)(de)(de)文獻(xian)當屬(shu)MIL-STD-2164《電(dian)(dian)子(zi)設備(bei)環境(jing)(jing)應(ying)(ying)(ying)力(li)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)方(fang)法》和DoD-HDBK-344《(電(dian)(dian)子(zi)設備(bei)環境(jing)(jing)應(ying)(ying)(ying)力(li)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)》，前(qian)者明確了常(chang)規(gui)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法，后者為(wei)定量(liang)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)提供(gong)了指導。緊密(mi)跟蹤國(guo)外先(xian)(xian)進的(de)(de)(de)(de)科研(yan)(yan)生(sheng)產(chan)(chan)(chan)(chan)技術(shu)，我國(guo)以2164標準為(wei)藍本(ben)制(zhi)(zhi)定了GJB1032-1990《電(dian)(dian)子(zi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)環境(jing)(jing)應(ying)(ying)(ying)力(li)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)方(fang)法》，以344手(shou)冊為(wei)藍本(ben)制(zhi)(zhi)定了GJB/Z34-1993《電(dian)(dian)子(zi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)定量(liang)環境(jing)(jing)應(ying)(ying)(ying)力(li)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)指南》。CJB/Z34內容先(xian)(xian)進、方(fang)法科學(xue)合理，但由于(yu)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)條件(jian)的(de)(de)(de)(de)制(zhi)(zhi)定要依據元器件(jian)的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)率(lv)和所(suo)施(shi)加應(ying)(ying)(ying)力(li)的(de)(de)(de)(de)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)度等，而元器件(jian)缺(que)陷(xian)(xian)率(lv)是一(yi)估計值，且隨著(zhu)大(da)規(gui)模集成電(dian)(dian)路和新研(yan)(yan)模塊在產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)上(shang)的(de)(de)(de)(de)大(da)量(liang)應(ying)(ying)(ying)用，缺(que)陷(xian)(xian)率(lv)估計值的(de)(de)(de)(de)可信性越(yue)來(lai)越(yue)小，加上(shang)GJB/Z34只適用于(yu)純電(dian)(dian)子(zi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)，所(suo)以武器裝備(bei)研(yan)(yan)制(zhi)(zhi)和生(sheng)產(chan)(chan)(chan)(chan)中很少按(an)GJB/Z34進行定量(liang)篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)。相反，GJB1032在裝備(bei)研(yan)(yan)制(zhi)(zhi)與生(sheng)產(chan)(chan)(chan)(chan)中得到(dao)(dao)了廣泛應(ying)(ying)(ying)用，為(wei)剔除產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)早期故障提供(gong)了有(you)效手(shou)段，在保證裝備(bei)的(de)(de)(de)(de)質量(liang)與可靠性方(fang)面發(fa)揮了積(ji)極(ji)作(zuo)用。隨著(zhu)實踐(jian)的(de)(de)(de)(de)不(bu)斷(duan)深人，人們發(fa)現GJB1032中的(de)(de)(de)(de)一(yi)些規(gui)定過于(yu)死(si)板，嚴格按(an)該標準進行篩(shai)(shai)(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)(xuan)時往(wang)(wang)往(wang)(wang)達(da)不(bu)到(dao)(dao)應(ying)(ying)(ying)有(you)的(de)(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)(de)。下面就(jiu)結合工(gong)程實踐(jian)中常(chang)遇到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)一(yi)些問題談一(yi)些體(ti)會。
    1.1 適用范圍
    GJB1032第1節明確(que)，本(ben)標(biao)準適用(yong)(yong)于地面(mian)固(gu)定(ding)設(she)備、地面(mian)移動(dong)設(she)備艦船用(yong)(yong)設(she)備、飛(fei)機用(yong)(yong)設(she)備及外掛、導彈用(yong)(yong)設(she)備上(shang)(shang)的(de)電子產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)，且(qie)在(zai)其(qi)(qi)第五節明確(que)了篩(shai)選(xuan)條件:80~ 120h的(de)溫度(du)循環(huan)(huan)(huan)(huan)和10 ~ 20min .0.04g/Hz的(de)隨機振動(dong)。這(zhe)是(shi)(shi)不合適的(de)，因為ESS的(de)目的(de)是(shi)(shi)剔除早期缺(que)陷(xian)，同(tong)樣(yang)的(de)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)用(yong)(yong)在(zai)不同(tong)環(huan)(huan)(huan)(huan)境(jing)中表現出(chu)的(de)故(gu)障(zhang)特征是(shi)(shi)不一樣(yang)的(de)。舉一個簡單(dan)的(de)例(li)子來說(shuo)，設(she)某電子產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)中存在(zai)固(gu)有(you)缺(que)陷(xian)a.b.c .d。當將(jiang)其(qi)(qi)用(yong)(yong)在(zai)導彈上(shang)(shang)時因為使(shi)用(yong)(yong)環(huan)(huan)(huan)(huan)境(jing)嚴酷，其(qi)(qi)固(gu)有(you)缺(que)陷(xian)ab.e可能會以(yi)早期故(gu)障(zhang)的(de)形式(shi)暴露(lu)出(chu)來，因此應針(zhen)對固(gu)有(you)缺(que)陷(xian)a、b、c設(she)計(ji)合理(li)的(de)篩(shai)選(xuan)方案(an)(an)X，將(jiang)a、b、c以(yi)早期故(gu)障(zhang)的(de)形式(shi)暴露(lu)出(chu)來。當將(jiang)其(qi)(qi)用(yong)(yong)在(zai)地面(mian)固(gu)定(ding)設(she)備上(shang)(shang)時，因為使(shi)用(yong)(yong)環(huan)(huan)(huan)(huan)境(jing)溫和則可能僅固(gu)有(you)缺(que)陷(xian)a會以(yi)早期故(gu)障(zhang)的(de)形式(shi)暴露(lu)出(chu)來，因此應針(zhen)對固(gu)有(you)缺(que)陷(xian)a設(she)計(ji)合理(li)的(de)篩(shai)選(xuan)方案(an)(an)Y。顯(xian)然方案(an)(an)Y明顯(xian)不同(tong)于方案(an)(an)X。所以(yi)，篩(shai)選(xuan)條件雖不模擬產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)實際使(shi)用(yong)(yong)環(huan)(huan)(huan)(huan)境(jing)，但在(zai)制定(ding)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)篩(shai)選(xuan)方案(an)(an)時應考慮產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)使(shi)用(yong)(yong)環(huan)(huan)(huan)(huan)境(jing)。
    1.2 每(mei)個溫度循環的時間.
    G，JB1032第1節明確:“篩(shai)選產品(pin)可(ke)以是(shi)印刷(shua)電路(lu)板組裝件、電子組件或整機”。從(cong)理(li)論上講，對于(yu)簡(jian)(jian)單的印刷(shua)電路(lu)板組裝件，沒(mei)有必要(yao)(yao)進行80~ 120h的溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)循環(huan)(huan)。因(yin)(yin)為溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)循環(huan)(huan)不同于(yu)溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)老煉，其激發產品(pin)潛在缺陷(xian)的有效性(xing)主(zhu)要(yao)(yao)在于(yu)溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)變化導致產品(pin)熱(re)脹(zhang)冷縮(suo)而產生的應力，而不是(shi)較長時間(jian)的恒定(ding)溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)累積效應。從(cong)測試的一些數(shu)據看，對由印刷(shua)電路(lu)板組成的簡(jian)(jian)單組裝件，一般0.5h的溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)保持時間(jian)已足夠使產品(pin)達到(dao)(dao)熱(re)平(ping)衡。再考慮升降(jiang)溫(wen)時間(jian)，一般一個循環(huan)(huan)需要(yao)(yao)2h左右就可(ke)以，而不需要(yao)(yao)取GJB1032中的3h20min或4h。相(xiang)反，對于(yu)熱(re)慣性(xing)較大的復雜電子設備，即使4h的循環(huan)(huan)時間(jian)也達不到(dao)(dao)應有的篩(shai)選效果。如(ru)某型(xing)導引頭的溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)穩定(ding)時間(jian)大于(yu)3h，再考慮升降(jiang)溫(wen)時間(jian)，一般一個循環(huan)(huan)約需要(yao)(yao)7h。因(yin)(yin)此應根據產品(pin)的溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)穩定(ding)時間(jian)確定(ding)溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)循環(huan)(huan)持續時間(jian)。
    1.3溫度(du)循環高低溫保持時間的確定
    GJB1032附錄B詳(xiang)細規(gui)定(ding)了(le)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)循環(huan)(huan)中(zhong)高低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)保持時(shi)(shi)間(jian)(jian)的(de)(de)確定(ding)方法(fa)，具(ju)有很強的(de)(de)操(cao)作性，但(dan)±10℃的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)允差(cha)范圍明顯不(bu)(bu)合(he)適。雖然(ran)篩(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)循環(huan)(huan)效(xiao)應(ying)(ying)主要在(zai)于通(tong)過溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)變化導致不(bu)(bu)同材料(liao)的(de)(de)變形(xing)不(bu)(bu)一(yi)(yi)而使缺(que)(que)陷激發(fa)為故障，但(dan)對(dui)大(da)多數(shu)電(dian)子(zi)元(yuan)(yuan)器件(jian)而言，-45~ - 55℃的(de)(de)低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)極限(xian)是一(yi)(yi)關。如某(mou)器件(jian)在(zai)-45℃能(neng)(neng)正常(chang)工作，但(dan)在(zai)-50℃很可能(neng)(neng)不(bu)(bu)能(neng)(neng)工作。再者，許(xu)多電(dian)子(zi)元(yuan)(yuan)器件(jian)的(de)(de)失(shi)效(xiao)率(lv)隨著(zhu)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)的(de)(de)升高呈幾何級數(shu)增加。設(she)某(mou)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)篩(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)極限(xian)為-50~ 70℃，按GJB1032的(de)(de)規(gui)定(ding)，只(zhi)要產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)上2/3的(de)(de)典(dian)型(xing)(xing)部(bu)位(wei)(wei)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)達(da)(da)到(dao)(dao)-40℃，就(jiu)可通(tong)電(dian)測(ce)試(shi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(測(ce)試(shi)時(shi)(shi)間(jian)(jian)一(yi)(yi)般較短(duan)，測(ce)試(shi)時(shi)(shi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)降不(bu)(bu)到(dao)(dao)- 50℃);然(ran)后升溫(wen)(wen)(wen)(wen)，只(zhi)要產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)上2/3的(de)(de)典(dian)型(xing)(xing)部(bu)位(wei)(wei)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)達(da)(da)到(dao)(dao)60℃ ，就(jiu)可通(tong)電(dian)測(ce)試(shi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(測(ce)試(shi)時(shi)(shi)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)升不(bu)(bu)到(dao)(dao)70℃)。即產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)上典(dian)型(xing)(xing)部(bu)位(wei)(wei)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)大(da)都在(zai)- 40~ 60℃之間(jian)(jian)變化。這樣(yang)會(hui)導致2個(ge)(ge)問題:一(yi)(yi)是低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)環(huan)(huan)境(jing)考核不(bu)(bu)足，通(tong)過了(le)篩(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)的(de)(de)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)可能(neng)(neng)在(zai)- 50℃的(de)(de)使用環(huan)(huan)境(jing)下(xia)(xia)不(bu)(bu)能(neng)(neng)正常(chang)工作;另一(yi)(yi)個(ge)(ge)是高溫(wen)(wen)(wen)(wen)階段的(de)(de)失(shi)效(xiao)率(lv)明顯下(xia)(xia)降，即高溫(wen)(wen)(wen)(wen)階段本來應(ying)(ying)暴露的(de)(de)多個(ge)(ge)潛在(zai)缺(que)(que)陷只(zhi)能(neng)(neng)暴露較少一(yi)(yi)部(bu)分(fen)，達(da)(da)不(bu)(bu)到(dao)(dao)篩(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)效(xiao)果。這一(yi)(yi)點可從國(guo)外某(mou)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)篩(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)方案得(de)到(dao)(dao)印證:某(mou)電(dian)子(zi)設(she)備溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)循環(huan)(huan)中(zhong)的(de)(de)高低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)保持時(shi)(shi)間(jian)(jian)是以探針測(ce)得(de)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)為準，即篩(shai)(shai)選(xuan)(xuan)(xuan)中(zhong)將探針連接到(dao)(dao)受篩(shai)(shai)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)典(dian)型(xing)(xing)部(bu)位(wei)(wei)，當探針指(zhi)示溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)在(zai)極限(xian)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)的(de)(de)±2℃時(shi)(shi)，才認(ren)為達(da)(da)到(dao)(dao)要求(qiu)，所以應(ying)(ying)以±2℃的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)允差(cha)來確定(ding)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)(du)循環(huan)(huan)中(zhong)的(de)(de)高低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)保持時(shi)(shi)間(jian)(jian)。
    1.4 溫度變化速(su)率
    GJB1032第5.1節明確:“溫度循環的溫度變化率為5℃/min”。這一規定顯然不適用于所有層次的產品，因為溫度循環的有效性取決于產品上響應的溫度變化，而不是由溫度循環試驗箱內空氣溫度的變化率來決定。筆者曾對某復雜飛控設備B進行過溫度測試，設定溫度范圍為-55~ 70℃，溫度變化率為5℃/min，以設備上關鍵器件的溫度達到規定值(上下限溫度值的±2℃ )計算溫度響應時間。測得結果為:全程平均的升、降溫速率分別為1.56℃/min.- 1.40℃/min。假設將某簡單電子組件A和飛控設備B放在溫度循環試驗箱內，按上述條件進行溫度循環。由于產品A的熱慣性較小，產品A能很快響應試驗箱內的溫度變化，設其全程平均的升降溫速率均為4.5℃/min。按GJB/Z34提供的溫度循環篩選度公式(見式1)，假設都進行5個溫度循環，可計算出產品A和設備B的篩選度分別為:0.697和0.366(飛控B的溫度變化率按升降溫速率的平均值1.48℃/min 計算)。
    SS=1-exp{-0.0017(R+0.6 )0[In(e+ζ)]3xN }
    式中:R——溫度循環中的溫度變化范圍，℃
    ζ——溫度(du)變化速率(lv)， ℃/min;
    N——循環次數;
    E——自然對數的底。
    可見(jian)同(tong)樣(yang)的(de)(de)(de)篩(shai)選(xuan)條件，不同(tong)產(chan)(chan)品(pin)內的(de)(de)(de)缺陷以(yi)故障形(xing)式(shi)(shi)析出的(de)(de)(de)概率(lv)(lv)(lv)明顯不同(tong)。要(yao)想使設備B達到與產(chan)(chan)品(pin)A同(tong)樣(yang)的(de)(de)(de)篩(shai)選(xuan)度(du)(du)、同(tong)樣(yang)的(de)(de)(de)篩(shai)選(xuan)溫(wen)(wen)度(du)(du)范圍和溫(wen)(wen)變(bian)率(lv)(lv)(lv)，需(xu)要(yao)將溫(wen)(wen)度(du)(du)循環數增加到13個，因(yin)此實(shi)際(ji)應用中應根(gen)據產(chan)(chan)品(pin)熱(re)慣(guan)性和試驗(yan)設備的(de)(de)(de)能力等確(que)定溫(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化率(lv)(lv)(lv)。對于熱(re)慣(guan)性大的(de)(de)(de)產(chan)(chan)品(pin)，較大的(de)(de)(de)箱內溫(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化率(lv)(lv)(lv)要(yao)求不但對設備要(yao)求苛刻、浪(lang)費了資源，更主要(yao)的(de)(de)(de)是(shi)篩(shai)選(xuan)度(du)(du)的(de)(de)(de)提(ti)高(gao)很(hen)有限。筆者曾對飛控(kong)設備B用10℃/min的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化率(lv)(lv)(lv)進行摸底測試，測得結果為:全(quan)程( -55 ~ 70℃)平均的(de)(de)(de)升、降溫(wen)(wen)速率(lv)(lv)(lv)分別為1.80℃/min .-1.64℃/min，按(an)式(shi)(shi)(1)計(ji)算，其篩(shai)選(xuan)度(du)(du)提(ti)高(gao)到0.400，僅提(ti)高(gao)了不到10個百分點。
    1.5 溫度(du)循環數(shu)
    G，JB1032第(di)5.1節明確(que)(que):“在(zai)(zai)(zai)缺(que)陷剔除試(shi)(shi)驗(yan)中(zhong)(zhong)(zhong)，溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)為10次(ci)(ci)或(huo)12次(ci)(ci)，相應時間為40h。在(zai)(zai)(zai)無故(gu)(gu)(gu)障(zhang)檢(jian)驗(yan)中(zhong)(zhong)(zhong)為10~20次(ci)(ci)或(huo)12~24次(ci)(ci)，時間為40~80h”。這一規定顯然也不適用(yong)(yong)于所有產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)。從不同環(huan)(huan)(huan)(huan)境對產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)壽命(ming)的(de)(de)(de)效應影響(xiang)來看(kan)，雖然極限溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)范圍內的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)對產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)壽命(ming)影響(xiang)遠(yuan)比隨(sui)機振動小.得(de)多，但篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)尤其會(hui)影響(xiang)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)生產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)周期。實踐中(zhong)(zhong)(zhong)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)數(shu)的(de)(de)(de)多少應視產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)復雜程度(du)(du)而(er)定:組成簡(jian)單的(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)，溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)數(shu)可(ke)適當減少;組成復雜的(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)，溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)數(shu)可(ke)適當增多。如某精確(que)(que)制導炸彈在(zai)(zai)(zai)科研試(shi)(shi)制階段(duan)(duan)曾按(an)GJB1032的(de)(de)(de)規定嚴格進行20個(ge)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)，該階段(duan)(duan)研制的(de)(de)(de)20多發(fa)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)(zai)(zai)篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)中(zhong)(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)表現(xian)是:若(ruo)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)(zai)(zai)前4個(ge)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)中(zhong)(zhong)(zhong)無故(gu)(gu)(gu)障(zhang)，則(ze)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)(zai)(zai)以(yi)后(hou)的(de)(de)(de)16個(ge)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)中(zhong)(zhong)(zhong)也無故(gu)(gu)(gu)障(zhang)。基于這-.實踐，在(zai)(zai)(zai)設計(ji)(ji)定型(xing)階段(duan)(duan)調整(zheng)(zheng)了(le)(le)篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)方(fang)案(an)(an):將(jiang)試(shi)(shi)制階段(duan)(duan)的(de)(de)(de)20個(ge)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)數(shu)調整(zheng)(zheng)為5個(ge)，即(ji)保(bao)證產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)經歷5個(ge)完整(zheng)(zheng)的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)，且應無故(gu)(gu)(gu)障(zhang)通過后(hou)1個(ge)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)。由于針(zhen)對試(shi)(shi)制階段(duan)(duan)的(de)(de)(de)問題采取了(le)(le)有效的(de)(de)(de)糾正措施，設計(ji)(ji)定型(xing)階段(duan)(duan)研制的(de)(de)(de)18發(fa)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)(zai)(zai)篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)中(zhong)(zhong)(zhong)僅有3發(fa)在(zai)(zai)(zai)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)中(zhong)(zhong)(zhong)出現(xian)故(gu)(gu)(gu)障(zhang)，分(fen)別是在(zai)(zai)(zai)第(di)1.2.3循(xun)(xun)(xun)(xun)環(huan)(huan)(huan)(huan)中(zhong)(zhong)(zhong)出現(xian)的(de)(de)(de)，經分(fen)析都是偶發(fa)性故(gu)(gu)(gu)障(zhang)。從通過了(le)(le)篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)的(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)(zai)(zai)設計(ji)(ji)定型(xing)環(huan)(huan)(huan)(huan)境鑒定試(shi)(shi)驗(yan)、可(ke)靠性鑒定試(shi)(shi)驗(yan)和外場(chang)靶試(shi)(shi)的(de)(de)(de)表現(xian)來看(kan)，未(wei)發(fa)現(xian)因(yin)篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)不充分(fen)導致(zhi)的(de)(de)(de)早期故(gu)(gu)(gu)障(zhang)，因(yin)此(ci)(ci)在(zai)(zai)(zai)產(chan)(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)設計(ji)(ji)定型(xing)后(hou)仍采用(yong)(yong)了(le)(le)此(ci)(ci)篩(shai)(shai)(shai)選(xuan)方(fang)案(an)(an)。
    1.6 振動應(ying)力(li)
    GJB1032第(di)5.2節詳細(xi)規定了(le)篩選(xuan)用(yong)隨機振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)譜(pu)形、量(liang)值(zhi)、振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)時間、施(shi)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)軸向、振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)控(kong)制(zhi)點(dian)、監(jian)測點(dian)等(deng)試驗參數(shu)。筆者認為(wei)施(shi)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)軸向、振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen) 動(dong)(dong)控(kong)制(zhi)點(dian)、監(jian)測點(dian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)規定適用(yong)于工(gong)程實際，但(dan)對每(mei)種產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)都施(shi)加同(tong)樣(yang)譜(pu)型、同(tong)樣(yang)量(liang)值(zhi)、同(tong)樣(yang)時間的(de)(de)(de)(de)(de)(de)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)明顯不(bu)(bu)合適。雖然篩選(xuan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)目(mu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是剔除產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)中可能發展為(wei)早期故障的(de)(de)(de)(de)(de)(de)潛在缺陷(xian)，但(dan)其(qi)前(qian)提是不(bu)(bu)能過多消(xiao)耗產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)有效壽(shou)(shou)命(ming)。不(bu)(bu)同(tong)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)有不(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)壽(shou)(shou)命(ming)要求，篩選(xuan)用(yong)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)應考慮產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)壽(shou)(shou)命(ming)和使用(yong)環境而設置。如某制(zhi)導彈的(de)(de)(de)(de)(de)(de)掛飛壽(shou)(shou)命(ming)較(jiao)短(10h)，結合產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)外場(chang)實測結果(guo)，得(de)出其(qi)耐(nai)(nai)久振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)試驗譜(pu)型見(jian)圖1，耐(nai)(nai)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)時間為(wei)Y向20min，將其(qi)與GJB1032給(gei)出的(de)(de)(de)(de)(de)(de)試驗條件(見(jian)圖2，振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)敏感軸向至少振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)10min) 比較(jiao)可知:若(ruo)按GJB1032的(de)(de)(de)(de)(de)(de)規定嚴格進行篩選(xuan)，單隨機振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)- -項，幾(ji)乎(hu)消(xiao)耗掉了(le)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耐(nai)(nai)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)壽(shou)(shou)命(ming)。不(bu)(bu)但(dan)圖2中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)均(jun)方根值(zhi)( 6.06g)比產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耐(nai)(nai)久振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)均(jun)方根值(zhi)(5.17g)大，且圖2的(de)(de)(de)(de)(de)(de)功率譜(pu)密度曲線(xian)幾(ji)乎(hu)包含了(le)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耐(nai)(nai)久振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)功率譜(pu)密度曲線(xian)。因此應根據(ju)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)壽(shou)(shou)命(ming)特征值(zhi)、未來(lai)使用(yong)環境和設計(ji)極限等(deng)來(lai)確定篩選(xuan)中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)振(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)應力。

耐久振動試驗

振動試驗

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