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電容屏帶電雙85老化測試
來源: bibil.cn 時(shi)間:2019-09-21
    電容屏在不帶電條件下通過行業內嚴酷的雙85可靠性測試后,為了進一步驗證電容屏在經過持續通電條件下是否仍具有優異的可靠性和穩定性。近期,某品牌技術團隊專門對應用低阻透明導電膜生產的電容屏產品進行了更為苛刻的帶電壓雙85老化測試(即抗銀遷移測試)。

    一、測試裝置及條件

    1、測試裝置: 高低溫交變濕熱試驗箱(RK-TH-408L)
    2、測試條件:通電32V(85℃+85%RH);
    3、測試時間:持續240H
    4、測試標準:環測前/后的數據對比差異值小

    二、測試內容

    1、測試產品:某品牌65寸TP
    2、測試數量:1片

    3、物料情況:

物料情況

    三、測試結果

    1、某(mou)品牌(pai)電容屏測試前后的基本性能(neng)

某品牌電容屏測試前后的基本性能

    2、電容屏測試后的基本性能:經帶電壓(32V)85℃/85%RH.測試后,某品牌電容屏依然保持原有的性能特性,對比測試前后的充電電壓數據及充電時間數據均在要求范圍內,證明透明導電膜無機材料制成的TP可以通過帶電壓雙85環測,不會出現納米銀線導電膜常有的銀遷移現像,性能穩定可靠。
    本次帶電壓雙85測試結果再次充分表明,應用某品牌技術制成的49寸、55寸、65寸、75寸、86寸電容屏產品,相比納米銀線、金屬網格等產品更具有穩定性和可靠性優勢,不存在銀遷移隱患,可以放心應用于商用顯示及智能家居等領域。

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