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電子產品老化溫度及時間確認
來源： bibil.cn 時(shi)間：2021-05-11
    所謂老(lao)化試驗是在不破壞產品失效的基礎上施加合(he)理的環境應(ying)(ying)(ying)力和電應(ying)(ying)(ying)力，將其內部的潛在缺(que)陷(xian)加速變成故障，盡(jin)快(kuai)達到浴盆曲線中期失效。通常(chang)(chang)都(dou)以(yi)溫度作(zuo)為應(ying)(ying)(ying)力而常(chang)(chang)見，公(gong)式參見下面。
    SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t] 
    式中，SS——篩選(xuan)(xuan)強度(篩選(xuan)(xuan)出的缺陷品數(shu)的平均值/總的潛在缺陷品) 
    R——高溫(wen)與室溫(wen)（一(yi)般(ban)取25℃）的差值
    t——恒定高溫持續時間（h）
    e= 2.718282

    篩選(xuan)強度與溫度、時間對應表：

電子產品老化溫度及時間確認

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