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電子產品老化溫度及時間確認
來源: bibil.cn
時(shi)間:2021-05-11
所謂老(lao)化試驗是在不破壞產品失效的基礎上施加合(he)理的環境應(ying)(ying)(ying)力和電應(ying)(ying)(ying)力,將其內部的潛在缺(que)陷(xian)加速變成故障,盡(jin)快(kuai)達到浴盆曲線中期失效。通常(chang)(chang)都(dou)以(yi)溫度作(zuo)為應(ying)(ying)(ying)力而常(chang)(chang)見,公(gong)式參見下面。
SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t]
式中,SS——篩選(xuan)(xuan)強度(篩選(xuan)(xuan)出的缺陷品數(shu)的平均值/總的潛在缺陷品)
R——高溫(wen)與室溫(wen)(一(yi)般(ban)取25℃)的差值
t——恒定高溫持續時間(h)
e= 2.718282
篩選(xuan)強度與溫度、時間對應表:
本文標簽:
電子產品老化試驗
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