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技(ji)術(shu)文章
電子元器件冷熱沖擊試驗的目的及操作流程
來源: bibil.cn 時間:2019-08-10
    1、前言
    1.1 目的
    確定元件曝露于高低溫極值下,以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力。
    1.2 應用
    試驗樣品的失效數應以后檢測為依據。
    2、試驗條件
    2.1極值溫度及循環次數
    見表1.

表1

續表1

    2.2 極值溫度下的試驗時間
    見表2

表2

  ;  3、對(dui)試驗 設備的要求(qiu)

    3.1 冷熱沖擊試驗箱應能提供第2章表1所規定的極值溫度條件。
    3.2 冷熱沖擊試驗箱應符合GJB360.1-87《電子及電氣元件試驗方法 總則》第4.4條a的規定。
    3.3冷熱沖擊試驗箱應有足夠的熱容量,以便試驗樣品放入試驗箱后,在5min內工作空間就能達到所規定的溫度值。
    3.4試驗樣品的安裝和支撐架的導熱率應低,以保證試驗樣品與安裝和支撐架間處于一種絕熱狀態。
    4、試驗程序
    4.1初始檢測

    在試驗的(de)(de)標準(zhun)大氣條件下,按有關標準(zhun)的(de)(de)規定對試驗樣(yang)品進行外觀檢查和性能檢測(ce)。

    4.2試(shi)驗 樣品的安裝

    試驗樣品的安裝由有關標準規定,當裝入冷熱沖擊試驗箱時,應使氣流暢通無阻地穿過及繞過試驗樣品。
    4.3試驗
    4.3.1將試驗樣品置于低溫箱中,此時,低溫箱的溫度已調至表1規定的極值溫度,并在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
    4.3.2保溫 時間到,在5min內將試驗樣品從低溫箱移至高溫箱中。此時,高溫箱的溫度已調至表1規定的極值溫度,并在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
    4.3.3保溫時間到,在5min內將試驗樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時,低溫箱的溫度已調至4.3.1款的極值溫度,并在此溫度下按4.3. 1款的試驗時間進行保溫。
    4.3.4按表1規定的循環次數,重復4.3.1至4.3.3款。一次循環包括表1中的步驟1至步驟4。

    初的5次(ci)循(xun)環應連續(xu)地進行。5次(ci)循(xun)環后,在任何一次(ci)循(xun)環完成之后都可以中斷試(shi)驗。再(zai)恢復(fu)試(shi)驗之前可允許試(shi)驗樣品恢復(fu)到試(shi)驗的標準大氣條件。

    4.4中間檢(jian)測(ce)

    由有關標準規定
    4.5 恢復
    后循環結束,試驗樣品置于試驗的標準大氣條件下達到溫度穩定。4.6 后檢測
    按有關標準規定對試驗樣品進行外觀檢查和性能測量。
    5、失效數據
由有關標準規定。
    6、采用本標準時應規定的細則
    a.安裝方法(見4.2條);
    b.以字母為代號的試驗條件(見4.3.1.4.3.2及4.3.4款);c. 初始、中間及后檢測(見4.1.4.4及4.6條)。

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