目前(qian)我司生產的二極管(guan)使(shi)用的老化(hua)(hua)篩選(xuan)項目有高(gao)溫(wen)儲存老化(hua)(hua)、高(gao)低溫(wen)循(xun)環老化(hua)(hua)、高(gao)低溫(wen)沖擊老化(hua)(hua)和(he)高(gao)溫(wen)功(gong)率老化(hua)(hua)等。下(xia)面把各個試驗方法作一(yi)簡要介紹： 

    （1）、高溫儲存老化：把二極管器件置于150℃的高低溫試驗箱內放置168小時，考慮到我司實際情況，目前放置時間為48小時。 
    （2）、高低溫循環老化：把二極管器件置于-55℃的低溫中15分鐘，然后置于25℃的環境中5分鐘，再置于150℃的環境中15分鐘，如此循環10次。 
    （3）、高低溫沖擊老化：把二極管器件置于0℃的環境中5分鐘，然后取出馬上置于100℃的環境中5分鐘，接著取出馬上置于0℃的環境中5分鐘，如此循環10次。 
    （4）、高溫功率老化：對于普通整流管、開關管等施加80％的VR額定電壓，然后置于125℃的環境中168小時，考慮到我司實際情況，目前是置于105℃的環境中48小時；對穩壓管我司目前是施加66％的功率置于70℃的環境中48小時。 

    二極管的加速壽命試驗 

    加速壽命試驗是指采用加大應力的方法促使樣品在短期內失效，以預測在正常工作條件或儲存條件下的可靠性，但不改變受試樣品的失效分布。 
    通過加速壽命試驗可達到以下目的： 
    （1）、在較短時間里，對高可靠元器件的可靠性水平進行評估，可用外推法快速預測在規定條件下的失效率； 
    （2）、在較短時間內，對元器件可靠性設計、工藝改進和可靠性增長的效果進行評估； 
    （3）、在較短時間內，加速暴露元器件失效模式和機理，從而可正確地制定失效判據和篩選條件。 
    必須指出，元器件的電氣規格參數指標與其性能穩定可靠是不同的概念，兩者之間并沒有直接的聯系。規格參數良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，規格參數差一些的元器件，其可靠性也不一定低。電子元器件的大部分規格參數都可以通過儀表立即測量出來，但是它們的可靠性和穩定性卻必須通過各種可靠性試驗，或者大量（或長期）的使用之后才能判斷出來。 
    電子元器件的失效率數據，可以通過對它的可靠性試驗求得： 
    λ＝失效率＝失效數÷（試驗器件的總數×運用時間） 
    失效率的常用單位是Fit（1Fit＝10-9/h），一百萬個元器件運用1000h有1個失效，就叫做1Fit。失效率越低，說明元器件的可靠性越高。 

    二極管使用的一些注意事項 

    二極管應該按照極性接入電路，大部分情況下，應該使二極管的正極（或稱陽極）接電路的高電位，而穩壓二極管的負極（或稱陰極）要接電源的正極，其正極接電源負極。 
    二極管正常工作需要一定的條件，如果工作條件超過允許的范圍，則不能正常工作，甚至造成永久性的損壞。為使二極管能夠長期穩定運行，必須注意下列事項： 
    （1）、切勿使電壓、電流超過器件手冊中規定的極限值，并應根據設計原則選取一定的裕量。 
    （2）、允許使用小功率電烙鐵進行焊接，焊接時間應該小于3～5s，在焊接點接觸型二極管時，要注意保證焊點與管芯之間有良好的散熱。 
    （3）、玻璃封裝的二極管引線的彎曲處距離管體不能太小，一般不少于2mm。 
    （4）、二極管的位置盡可能不要靠近電路中的發熱元件。 
    （5）、用穩壓管時應注意，二極管的反向電流不能無限增大，否則會導致二極管中的熱量過高而燒毀。因此，穩壓管在電路中一般需要串聯限流電阻，以限制耗散功率。