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非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗
來源: bibil.cn
時間:2020-10-20
1、目(mu)的
提供一種標準的試驗程序,用以確定(ding)經受(shou)溫度(du)突變不致產(chan)生損傷作用的非散熱(re)電工、電子產(chan)品(包括元件、設備及其他產(chan)品)低溫下貯存和使用的適應性。
試(shi)驗樣品應在低溫下放置足夠長(chang)時間(jian)達(da)(da)到(dao)溫度(du)穩定(ding)。試(shi)驗持(chi)續(xu)時間(jian)通常從樣品達(da)(da)到(dao)溫度(du)穩定(ding)時開始計算,不能滿足這一條件(jian)時,則參見引言第1章。
2、一般說明(ming)
本試(shi)(shi)驗是(shi)將具有室溫的(de)試(shi)(shi)驗樣品(pin)(pin)放人(ren)溫度為相關規范規定(ding)的(de)符合嚴(yan)酷(ku)等級的(de)高低溫試(shi)(shi)驗箱(室)內。試(shi)(shi)驗樣品(pin)(pin)達到溫度穩(wen)定(ding)后,在該條件下暴(bao)露規定(ding)的(de)持續時間。試(shi)(shi)驗樣品(pin)(pin)通常(chang)處于不(bu)工作狀態下。本試(shi)(shi)驗通常(chang)采用強迫空氣循環。
3、試驗(yan)設(she)備
3.1
高低溫試驗箱
(室)工作空間內,應能提供4.1所規定的溫度條件,可以用強迫空氣循環來保持溫度均勻。
3.2為了(le)限制(zhi)輻射(she)影(ying)響,箱(室(shi))內壁各部分溫度與規定試驗(yan)溫度之(zhi)差不(bu)應超(chao)過8%(按開爾文(wen)溫度計算),且試驗(yan)樣(yang)品不(bu)應受到不(bu)符合上述要(yao)求的(de)任何(he)加熱(re)與冷卻元件(jian)的(de)直接輻射(she)。
4、嚴(yan)酷等級
試驗的(de)嚴酷等級主要由試驗溫度和試驗持續時間決定,相關(guan)規范(fan)應優(you)先(xian)從(cong)4.1和4.2所給數值中選取。
4.1 溫(wen)度(du)
-65℃±3℃ .
-55℃±3℃
-40℃±3℃
-25℃±3℃
-10℃±3℃
+5℃±3℃
-5℃±3℃
4.2持續時間
2 h,16 h,72 h,96 h
當(dang)本標準作(zuo)為與耐久(jiu)性或可靠(kao)性相(xiang)聯(lian)系的有關試驗時(shi),則其試驗所需的持續時(shi)間(jian)由相(xiang)關規(gui)范規(gui)定。
若試驗的目的僅(jin)僅(jin)是檢查試驗樣(yang)品在低溫時(shi)能否(fou)正常工作,則試驗的時(shi)間只限于使樣(yang)品溫度達到(dao)穩定。
5、預處(chu)理
按相關規(gui)范規(gui)定的要(yao)求(qiu)進行。
6、初始檢測
按相關規范(fan)規定對(dui)試驗樣品進行外觀(guan)檢(jian)查(cha)及電氣和機(ji)械(xie)性能(neng)的檢(jian)測。
7、條件(jian)試驗
7.1將(jiang)處于室溫(wen)下的試(shi)(shi)驗(yan)樣品,在不包裝、不通電(dian)、“準備(bei)使用”狀態,按正常位(wei)置或其他規(gui)定的位(wei)置放人高低溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(室)內。此時,該(gai)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(室)的溫(wen)度也為(wei)室溫(wen)。
當(dang)實際上試驗(yan)樣品是和某(mou)種(zhong)特定(ding)的安裝架(jia)-起使用時,試驗(yan)時就應使用這些(xie)裝置(zhi)一起進行試驗(yan)。
試驗箱
溫度測量按GB/T 2421-1999 中4.4的規定進行。
7.2將高低溫(wen)(wen)(wen)試驗箱(室)的溫(wen)(wen)(wen)度(du)調控到符合嚴酷等級的溫(wen)(wen)(wen)度(du)值,并有足夠時間使樣品達到溫(wen)(wen)(wen)度(du)穩(wen)定(ding)(溫(wen)(wen)(wen)度(du)穩(wen)定(ding)的定(ding)義參見GB/T 2422- 1995 的4.8)。
7.3對(dui)于(yu)功(gong)(gong)能性(xing)試驗(yan),必須按(an)相(xiang)關(guan)規(gui)(gui)范(fan)規(gui)(gui)定對(dui)試驗(yan)樣品給予通電(dian)或加電(dian)氣(qi)負載,并檢查確定其能否達(da)到規(gui)(gui)定功(gong)(gong)能。
若相關規(gui)范(fan)有所(suo)要(yao)求,試驗樣(yang)品應按(an)其規(gui)定的工作循(xun)環和負載條件(jian)(若可行(xing)時)處于運行(xing)狀(zhuang)態,或(huo)者不(bu)予通電。
注:此時試驗樣品(pin)處于運(yun)行或在負載(zai)條件下,只要表(biao)面(mian)溫度不超過周圍大氣溫度5K,均認(ren)為是非(fei)散熱的。
7.4試驗樣品在低溫(wen)條件下暴露(lu)的(de)持(chi)續時(shi)間(jian),應(ying)由相關規范規定。
持續時(shi)間從溫(wen)度達到穩定(ding)時(shi)算起。
注:對于一些小試(shi)驗樣品,沒有(you)必(bi)要(yao)通(tong)過測量來(lai)檢查(cha)其是(shi)否達(da)到溫度(du)穩(wen)定,見GB/T2421-1999的(de)4.8注2”。
7.5 若相關規范要求(qiu)進行(xing)中間(jian)檢測,按本標準篇中第8章的要求(qiu)進行(xing)。
7.6在(zai)條件(jian)試驗(yan)結束時,應使試驗(yan)樣品恢復原狀,對通電(dian)運行或加電(dian)氣負載(zai)的試驗(yan)樣品,應在(zai)恢復程序前(qian)停止(zhi)通電(dian)或卸去負載(zai)。
8、中間檢(jian)測
相關規(gui)范可規(gui)定在條件(jian)試(shi)驗(yan)期間或結束時(shi)(shi)(試(shi)驗(yan)樣品仍在試(shi)驗(yan)箱(室(shi))內)加負(fu)載和(或)測(ce)量(liang)(liang),若需(xu)要時(shi)(shi)應(ying)規(gui)定測(ce)量(liang)(liang)的項目(mu)和時(shi)(shi)間。測(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi),試(shi)驗(yan)樣品不應(ying)從試(shi)驗(yan)箱(室(shi))中取出(chu)。
注:在(zai)條(tiao)件(jian)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)期(qi)間,不允(yun)許把試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品(pin)從試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(室)內(nei)取(qu)出進行(xing)恢復前的測量后又重新放入試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(室)內(nei)。如(ru)果在(zai)持續時間結東前需要了解試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品(pin)在(zai)特定時間的性能,則(ze)對每(mei)個特定的時間應另外(wai)增(zeng)加一批(pi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品(pin),進行(xing)恢復和后的測量,應對每(mei)一批(pi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品(pin)分別進行(xing)。
9、恢復
9.1試驗樣品應(ying)在標準大氣條件(jian)下進行恢復直(zhi)到(dao)解凍。
9.2為了除去水滴,可用手(shou)抖動試驗樣品,或用室溫的空氣進行短時(shi)吹風。
9.3試(shi)驗樣品(pin)在標準大氣條件下恢(hui)(hui)復(fu)時,恢(hui)(hui)復(fu)時間(jian)(jian)要足以(yi)使其達到溫(wen)度穩(wen)定,少為1h,當幾個(ge)樣品(pin)同時進行試(shi)驗,而1 h的恢(hui)(hui)復(fu)時間(jian)(jian)又足夠(gou)時,則(ze)長恢(hui)(hui)復(fu)時間(jian)(jian)為2 h,所有測量必須(xu)在這一一時間(jian)(jian)終(zhong)了前(qian)進行完畢。
9.4若相關(guan)規范有要求(qiu),要在(zai)恢復期間對試驗樣品通(tong)電(dian)或(huo)加負載,并連續地(di)測量其性能(neng)。
9.5當標(biao)準大氣條 件(jian)對試驗樣品不適(shi)宜時,相關規范可規定其他(ta)恢復條件(jian)。
10 后檢測
按相關(guan)規范的(de)規定對試驗樣(yang)品(pin)進(jin)行外觀(guan)檢查及電氣和機械性能(neng)的(de)檢測(ce)。.
11、 相關規范應給出的(de)信息
當相關規范包含(han)低溫試驗時(shi),應給出下列項目(mu)的盡可能適(shi)用的細節(jie):
a)預處理;
b)初始檢測;
c)條件(jian)試驗期間,試驗樣(yang)品的安裝狀態(tai);
d)嚴(yan)酷(ku)等(deng)級(溫(wen)度和試驗持(chi)續時間);
e)條件(jian)試驗(yan)期(qi)間的(de)測量(liang)和(或)負載(zai);
f)恢(hui)復(如不是標準(zhun)條件(jian)下恢(hui)復);
g)后檢測;
h)供需雙方同意的(de)對試驗程序的(de)任何更改(gai)。
本文標簽:
非散熱試驗樣品
高低溫試驗箱
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