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技術文章(zhang)
高低溫試驗箱非散熱與散熱樣品試驗方法應用對比
來(lai)源： bibil.cn 時間：2020-06-04
    高低溫試驗箱的制造和確認按照GB/T 2424.5和GB/T 2424.7的規定進行。
    高溫和低溫試驗導則見GB/T 2424. 1，總則見GB/T 2421.3) 
    只有在以下(xia)(xia)情況下(xia)(xia)，才認為試驗樣品(pin)是散(san)熱(re)的(de)(de)(de)(de)：當溫度(du)達到(dao)穩定(ding)時(見GB/T2421中相應內容)，在自(zi)由(you)空氣(qi)的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件下(xia)(xia)(例(li)如，低氣(qi)流(liu)速(su)度(du)循環)測量的(de)(de)(de)(de)試驗樣品(pin)表(biao)面熱(re)點的(de)(de)(de)(de)溫度(du)超過(guo)試驗樣品(pin)周圍空氣(qi)溫度(du)5K以上。當相關規范要求進行(xing)貯存(cun)或運輸試驗，或未指定(ding)在試驗期(qi)間施加負載(zai)，低溫試驗Ab是適用的(de)(de)(de)(de)。
    1、工(gong)作空間是高氣(qi)流(liu)(liu)速度(du)或是低氣(qi)流(liu)(liu)速度(du)的確定(ding)
    在測(ce)量和試(shi)驗(yan)的標準(zhun)環境條件下(xia)(見GB/T2421)，以及(ji)氣流速度(du)<0.2m/s，按照待試(shi)驗(yan)的低(di)溫條件下(xia)的規定給(gei)試(shi)驗(yan)樣品(pin)通電或加電氣負載。
   &nbsp;當(dang)試驗(yan)樣(yang)品(pin)的溫(wen)(wen)度達到穩定，應使用合適(shi)的監測裝置測量試驗(yan)樣(yang)品(pin)上(shang)或(huo)其周圍若干個(ge)有代表性的位置的溫(wen)(wen)度。之后，每(mei)一個(ge)位置的溫(wen)(wen)升應予以記(ji)錄。
    開啟試(shi)驗箱(xiang)的(de)通風(feng)裝(zhuang)置(zhi)使(shi)空(kong)氣(qi)(qi)循(xun)環(huan)，當(dang)溫(wen)度達到穩定(ding)時(shi)(shi)，重新測(ce)量上(shang)述位置(zhi)處的(de)溫(wen)度。如果此次(ci)測(ce)得的(de)溫(wen)度與上(shang)次(ci)無空(kong)氣(qi)(qi)流動(dong)時(shi)(shi)測(ce)得的(de)溫(wen)度相(xiang)差超(chao)過5K(或相(xiang)關規范(fan)規定(ding)的(de)其他值(zhi))，應在檢測(ce)報告中(zhong)記錄這些溫(wen)度值(zhi)，并(bing)且認為該(gai)試(shi)驗箱(xiang)具有高氣(qi)(qi)流速度循(xun)環(huan)。然后給試(shi)驗樣(yang)品斷(duan)電，并(bing)去掉(diao)任何負(fu)載條件(jian)。
    2、非散熱試(shi)驗樣品的(de)試(shi)驗
    在溫度(du)漸變試(shi)(shi)(shi)驗Ab中(zhong)，試(shi)(shi)(shi)驗樣品(pin)放人處于試(shi)(shi)(shi)驗室(shi)溫度(du)的高低溫試(shi)(shi)(shi)驗箱中(zhong)，然后慢慢降低試(shi)(shi)(shi)驗箱中(zhong)溫度(du)，防止由于溫度(du)改變而對(dui)試(shi)(shi)(shi)驗樣品(pin)產(chan)生有害作用。建議采(cai)用高氣流速度(du)循環，因為(wei)這樣可以減少達到溫度(du)穩定所需要的時間(jian)。
    3、散熱試驗樣品的試驗
    試(shi)驗Ad和試(shi)驗Ae描(miao)述了散(san)熱試(shi)驗樣(yang)品在低氣流速度(du)循環下的試(shi)驗程(cheng)序(xu)。這允許(xu)試(shi)驗樣(yang)品的局部發熱點在其內部擴展的情況(kuang)，類似于安裝后的產品在應(ying)用中發生的情況(kuang)。
    4、溫度監控
    應(ying)使用溫(wen)度(du)傳(chuan)感器(qi)來測量試驗(yan)箱里的(de)空氣溫(wen)度(du)，溫(wen)度(du)傳(chuan)感器(qi)的(de)位(wei)置離試驗(yan)樣(yang)品的(de)距離應(ying)確保(bao)其(qi)受熱(re)擴散的(de)影響可忽略不計。應(ying)適當注意以避免熱(re)輻射影響這些測量，更(geng)多信息見GB/T2424.5。
    5、包裝.
    對于貯存和運輸試驗，設備可以帶(dai)(dai)包裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)進(jin)行(xing)試驗。然而，由(you)于本部(bu)分規定的(de)低(di)溫試驗是穩(wen)態試驗，設備終將穩(wen)定在(zai)試驗箱溫度，所(suo)以，應去(qu)掉(diao)包裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)進(jin)行(xing)試驗，除非相關規范要(yao)求帶(dai)(dai)包裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)，或者發(fa)熱(re)元件(jian)是與包裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)合為一(yi)體的(de)。

    6、圖示(shi)

低溫試驗方框圖

本文標簽： 高低溫試驗箱

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