1、范(fan)圍
本(ben)規范規定了(le)公司(si)產品(pin)、半成品(pin)、及主要(yao)功能模塊(kuai)的高溫老化過程及操作規則。
本規范適用于公(gong)司(si)需進行高溫老化的產品。
2、高溫老化篩選目的
為(wei)提(ti)高產(chan)品(pin)可(ke)靠(kao)度,消除加工(gong)應力和殘余溶(rong)劑(ji)等(deng)物(wu)質，模擬嚴酷(ku)工(gong)作(zuo)環(huan)境，以鑒別和剔除產(chan)品(pin)工(gong)藝和元(yuan)件引起(qi)的早期(qi)故障(zhang)，確保整機優秀品(pin)質和期(qi)望壽命，進入高可(ke)靠(kao)的穩(wen)定期(qi)。
3、基本要求
3.1老化篩選對象
3.1.1進(jin)行高溫(wen)老化試(shi)驗的(de)產品應是裝配調測合格品；
3.1.2公司產品、半成(cheng)品、及主(zhu)要功能模塊。
3.2模擬(ni)狀態要求
3.2.1為保證產品的性(xing)能(neng)穩(wen)定可(ke)靠，老化時(shi)應(ying)模擬產品工作(zuo)狀(zhuang)態(tai)，
3.2.2當老(lao)化的產品(pin)需(xu)輸(shu)入(ru)信(xin)號時，應在額定輸(shu)出功率(lv)狀態下進行，同時做好散(san)熱措施(shi)。
3.2.3對(dui)于射頻(pin)設備應
a)設(she)備的信號線(xian)和負載線(xian)的接入、接出應按(an)照基本(ben)操作要(yao)求進(jin)行,并(bing)模擬(ni)設(she)備的實際工作狀態；
b)設備輸出(chu)端(duan)應(ying)與阻抗(kang)匹配的負(fu)載相連，負(fu)載的額(e)定(ding)功率(lv)應(ying)不小于整機額(e)定(ding)輸出(chu)功率(lv)2倍~3倍；
c)在信號源和設備之間，應加.上隔(ge)離器或環形器；、
d)嚴禁將大(da)功率功放的輸(shu)出信(xin)號通過合(he)(he)路器合(he)(he)路再進入負(fu)載的連接方式。
4、老化前的(de)準備及(ji)注意(yi)事項(xiang)
a)老化前應確認老化室(shi)設備是(shi)否完好；
b)當多臺老(lao)化(hua)產(chan)品一起(qi)進(jin)行試驗時，各老(lao)化(hua)產(chan)品之間應有足夠的間隙，以使(shi)溫度有足夠的均勻性。不應將老(lao)化(hua)產(chan)品堆積(ji)或擺放(fang)無序，以免影(ying)響老(lao)化(hua)效果和對產(chan)品造成損(sun)壞。
5、老(lao)化溫(wen)度(du)和時間(jian)
老化溫度、時間如下所(suo)示可任選一種:
a)室溫(wen)條件下通電連續(xu)老化(hua)不得(de)少于96h；
b) 40℃±2℃條件下通電連續老化不得少于72h；
c) 45℃±2℃條件下(xia)通電(dian)連續老(lao)化不得少(shao)于48h；
d) 50℃±2℃條件下通電連(lian)續老化(hua)不得少于(yu)24h；
e) 55℃±2℃條件(jian)下通電連續老化(hua)不得少于12h。
6、老化程序
6.1對老化產品施加產品標準中規定的工作(zuo)電壓。
6.2在(zai)老(lao)化產品通(tong)電的狀態下將老(lao)化室的溫度(du)(du)加熱至規定(ding)的試驗溫度(du)(du)，老(lao)化過(guo)程(cheng)中的環(huan)境溫度(du)(du)變(bian)化應(ying)在(zai)規定(ding)溫度(du)(du)的±2℃范圍內。
6.3老(lao)化溫(wen)(wen)度(du)達到規定值，恒溫(wen)(wen)后開始計時。
6.4老(lao)(lao)化(hua)過(guo)(guo)程(cheng)中應每隔2h查看老(lao)(lao)化(hua)室的運行是否穩定，特別是測量溫度。老(lao)(lao)化(hua)過(guo)(guo)程(cheng)中發現溫度異常時，應立即切斷電源。待老(lao)(lao)化(hua)室恢復正常后再繼續(xu)進(jin)行老(lao)(lao)化(hua)。
6.5老化產品在(zai)(zai)老化過程(cheng)中應(ying)定時進(jin)行主要(yao)性能指標檢測，具(ju)體指標種類(lei)及參數在(zai)(zai)轉產文件的技術說明中規定。
a)常規(gui)產(chan)品老化，每5h~6h測試一(yi)次(ci), 并記(ji)錄測試時的溫度；
b)常規產品老化，采用抽測(ce)方式(shi)，每次測(ce)試(shi)的產品應(ying)不少于10%；
c)遇(yu)到(dao)所測(ce)型(xing)號設備存(cun)在(zai)問題時，應根據實(shi)際情說，增加該(gai)類產品(pin)的(de)檢測(ce)數(shu)量,并不少于(yu)10%。
6.6老化過(guo)程中產品(pin)出現故障時，應在附錄(lu)A的備(bei)注欄中詳(xiang)細(xi)記錄(lu)故障情況。
6.7老化后的產品(pin)在室(shi)溫下至少放(fang)置2h后，由(you)生產計劃部進行復測，并做好測.試記錄，合格后提交檢(jian)驗部檢(jian)驗。
6.8單盤的測(ce)試在老化后進行(xing)，測(ce)試項目包括監控(kong)功能、輸出電壓(ya)值等。抽測(ce)數量應不少于20%，如老化后有不合格的試驗樣品，該批次需全(quan)部測(ce)試。
7、標識
a)老化測試合格的產(chan)品，應在產(chan)品易觀查的表面(mian)用綠色標簽做標識；
b)老化測試不合格(ge)的(de)產(chan)品(pin)(pin)，應在產(chan)品(pin)(pin)易(yi)觀查的(de)表面用紅色標簽做標識。
8、測試記錄
8.1根據測試的項目填(tian)寫老(lao)化測試記(ji)錄，見附錄A。
8.2老化測試記(ji)錄(lu)表應每月由指定(ding)人員歸(gui)檔。
9、老(lao)化設(she)備維護要求(qiu)
9.1老化試驗的所有測試器件(jian)應定期進行測試檢驗，
9.2所有老(lao)化設施(shi)的檢測應每月進行一次，主要檢測項目為:
——老化設備溫控(kong)系(xi)統的校應(ying)；
——老化負載的駐(zhu)波比(bi)測試；
——信(xin)號源的輸出(chu)信(xin)號準確(que)度(du)的測試(shi)；
——電(dian)(dian)源的輸出電(dian)(dian)壓測試(shi)。
9.3測(ce)試結果(guo)應記錄。