高溫試驗（高溫運行、高溫貯存）的目的是確定軍民用設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。

    為能正確觀察與(yu)(yu)驗(yan)證產品在高溫(wen)環(huan)境下之熱(re)效應(ying)，同時避免因濕度(du)效應(ying)影響試(shi)驗(yan)結(jie)果，標準中(zhong)(zhong)對于(yu)試(shi)驗(yan)前處(chu)(chu)理、試(shi)驗(yan)初始檢測、樣品安裝、中(zhong)(zhong)間檢測、試(shi)驗(yan)后處(chu)(chu)理、升溫(wen)速度(du)、溫(wen)度(du)柜(ju)負載條(tiao)件、被測物與(yu)(yu)溫(wen)度(du)柜(ju)體積(ji)比等均有規范要求。

    高溫條件下試件的失效模式 產品所使用零件、材料在高溫時可能發生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現象。
    高溫環境對設備的主要影響有：
    a. 填充物和密封條軟化或融化；
    b. 潤滑劑粘度降低，揮發加快，潤滑作用減小；
    c. 電子電路穩定性下降，絕緣損壞；
    d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應等；
    e. 材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大。

    參考標準

    IEC 60068-2-2:2007《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》
    GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
    MIL-STD-810F《環境工程考慮與實驗室試驗》
    GJB4.2-83《艦船電子設備環境試驗 高溫試驗》
    GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
    MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
    GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
    MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
    SJ/T 10325-92《汽車收放機環境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
    SJ/T 10325-92《汽車收放機環境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
    GB/T13543-92《數字通信設備環境試驗方法》
    QC/T 413-2002《汽車電氣設備基本技術條件》
    YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術要求和測試方法》  

    實驗目的

    為了考察高溫負載對試樣的影響，確定試樣在高溫負載條件下工作的適應性。該實驗一般用到 高溫試驗箱。

    實驗原理

    在高溫直流負載條件下，被試樣品會受到高溫應力和電應力的雙向作用，其電性能和內部結構 都會有一定程度的變化。試驗后對被試樣品的電性參數及外觀進行檢查，就能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負載的能力。