HAST試驗箱用于評估非氣(qi)(qi)密性(xing)封(feng)(feng)裝(zhuang)IC器件(jian)、金(jin)屬(shu)材(cai)(cai)(cai)料(liao)等在濕(shi)度(du)環境(jing)下的(de)可靠性(xing)。通(tong)過(guo)溫度(du)、濕(shi)度(du)、大氣(qi)(qi)壓力條(tiao)(tiao)件(jian)下應用于加(jia)(jia)速(su)濕(shi)氣(qi)(qi)的(de)滲透，可通(tong)過(guo)外部保(bao)護材(cai)(cai)(cai)料(liao)（塑封(feng)(feng)料(liao)或(huo)封(feng)(feng)口(kou)），或(huo)在外部保(bao)護材(cai)(cai)(cai)料(liao)與(yu)金(jin)屬(shu)傳導材(cai)(cai)(cai)料(liao)之間界面。它采用了嚴(yan)格(ge)的(de)溫度(du)，濕(shi)度(du)，大氣(qi)(qi)壓、電(dian)壓條(tiao)(tiao)件(jian)，該條(tiao)(tiao)件(jian)會加(jia)(jia)速(su)水分滲透到(dao)材(cai)(cai)(cai)料(liao)內部與(yu)金(jin)屬(shu)導體之間的(de)電(dian)化學反應。
適(shi)用范圍: 該試(shi)驗檢(jian)查芯(xin)片長期貯存條件(jian)下，高(gao)溫(wen)和時間(jian)對器件(jian)的(de)(de)影響。本規范適用于量產芯(xin)片驗證測(ce)試(shi)階段(duan)的(de)(de)HAST測(ce)試(shi)需求，僅針對非密(mi)封(feng)封(feng)裝(zhuang)（塑料封(feng)裝(zhuang)），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的(de)(de)測(ce)試(shi)。
溫度(du)、濕度(du)、氣壓、測試時間
? 通(tong)常選擇(ze)HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣壓(ya)，96hour測(ce)試(shi)時間。
? 測試過程中，建議調試階段監控芯片殼溫、功耗數據推(tui)算芯片結(jie)溫，要保證(zheng)結(jie)溫不(bu)能過 高，并(bing)在測試過程中定(ding)期記錄。結(jie)溫推(tui)算方法參考《HTOL測試技術(shu)規范》。
? 如果殼(ke)溫(wen)(wen)(wen)與環(huan)溫(wen)(wen)(wen)差值或者功(gong)耗(hao)滿足下表三種關系時，特別(bie)是當殼(ke)溫(wen)(wen)(wen)與環(huan)溫(wen)(wen)(wen)差值超(chao)過 10℃時，需(xu)考慮周期性的電壓(ya)拉(la)偏策略。
? 注意測試起始(shi)時(shi)間(jian)(jian)是(shi)從環(huan)境條件(jian)達(da)到規定條件(jian)后開始(shi)計算；結束時(shi)間(jian)(jian)為(wei)開始(shi)降溫降壓操
作的時(shi)間(jian)(jian)點。
電(dian)壓拉(la)偏(pian)
uHAST測試不帶(dai)電(dian)壓拉偏， 不需要關注該節；
bHAST需要帶電(dian)壓拉(la)偏 ，遵循以(yi)下原則：
（1） 所有電(dian)源上電(dian)，電(dian)壓：推薦操作范圍電(dian)壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片(pian)、材料功耗小（數字部分不(bu)翻轉、輸入晶振短接、其他降(jiang)功耗方法）；
（3） 輸入(ru)管腳(jiao)在輸入(ru)電壓允許范圍內拉(la)高(gao)。
（4） 其(qi)他管(guan)腳(jiao)(jiao)，如時鐘(zhong)端、復位端、輸出管(guan)腳(jiao)(jiao)在(zai)輸出范圍(wei)內(nei)隨機拉(la)高或(huo)者拉(la)低(di)；
PRODUCT RECOMMENDATION產(chan)品推薦
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01 恒溫恒濕試驗箱
是模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作與儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗...等），檢測產品本身的適應能力與特性是否改變的測試設備。
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02 冷熱沖擊試驗箱
是用來(lai)測試(shi)材料結構或復合材料，在瞬間下(xia)經極高溫及(ji)極低(di)溫的連續(xu)環境(jing)下(xia)所(suo)能(neng)忍受(shou)的程度，借以(yi)在短(duan)時間內試(shi)驗其(qi)因熱脹(zhang)冷縮所(suo)引起(qi)的化(hua)(hua)學(xue)變化(hua)(hua)或物理傷害。
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03 快速溫變試驗箱
是(shi)通過向待(dai)測品(pin)施加(jia)合(he)理的(de)環境應力和(he)電應力，使得由不良元(yuan)器件、零部件或工(gong)藝(yi)缺陷(xian)等(deng)引起的(de)產(chan)品(pin)早期缺陷(xian)加(jia)速(su)變成(cheng)故(gu)障，并加(jia)以發現和(he)排除的(de)過程，是(shi)一個經濟有效的(de)工(gong)程研究、制造改進手(shou)段(duan)。
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04 HAST試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。在溫度/濕度/偏壓條件下應用于加速濕氣的滲透，可通過外部保護材料(塑封料或封口)，或在外部保護材料與金屬傳導材料之間界面。
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05 步入式恒溫恒濕試驗室
測試產品在不同溫度、濕度等氣候條件下的性能和壽命。應用于國防工業、航天工業、自動化零組件、汽車部件、電子電器件以及塑膠、化工、制藥工業相關產品的耐熱、耐寒測試。
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