冷熱沖擊試驗箱的(de)(de)(de)(de)溫(wen)度沖擊適(shi)用于可(ke)能會在空氣溫(wen)度發生急劇(ju)變(bian)化(hua)(hua)(指溫(wen)度變(bian)化(hua)(hua)率(lv)(lv)大(da)于10℃ /min)的(de)(de)(de)(de)地方使(shi)用的(de)(de)(de)(de)電子產品,也可(ke)作為一(yi)個環境應(ying)力篩選(ESS)試(shi)驗,用來激發故障。溫(wen)度沖擊是以不大(da)于Imin 的(de)(de)(de)(de)轉(zhuan)換時間將產品依次暴露在高(gao)溫(wen)區(qu)域和低溫(wen)區(qu)域,并循環一(yi)定(ding)的(de)(de)(de)(de)次數按實際(ji)需要(yao)確定(ding)) ,通常是為了揭示產品在低于極端(duan)溫(wen)度變(bian)化(hua)(hua)速(su)率(lv)(lv)只(zhi)要(yao)試(shi)驗條件不超過(guo)產品的(de)(de)(de)(de)設計極限)下出現的(de)(de)(de)(de)安全性問題和潛在的(de)(de)(de)(de)缺陷,而ESS試(shi)驗一(yi)般按GJB1032進行(xing),高(gao)溫(wen)和低溫(wen)的(de)(de)(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)速(su)率(lv)(lv)為5C/min,當溫(wen)度變(bian)化(hua)(hua)速(su)率(lv)(lv)大(da)于10℃/min時,將使(shi)用溫(wen)度沖擊來替代(dai)環境應(ying)力篩選。
1)程序(xu)I恒定。主要(yao)用(yong)(yong)于(yu)揭示“溫(wen)度(du)(du)急(ji)劇變化(hua)”對裝備的影(ying)響(xiang),該試驗中“溫(wen)度(du)(du)急(ji)劇變化(hua)”要(yao)比(bi)單純的高溫(wen)試驗和(he)低(di)溫(wen)試驗對產(chan)品的影(ying)響(xiang)更重要(yao)。特別是(shi)要(yao)用(yong)(yong)“更嚴酷的溫(wen)度(du)(du)變化(hua)”來評價電子(zi)產(chan)品的安全(quan)性或初始設計是(shi)否(fou)滿足要(yao)求(qiu)或必須用(yong)(yong)“極(ji)值(zhi)溫(wen)度(du)(du)”對產(chan)品進行考核時,均需采用(yong)(yong)程序(xu)I ,如(ru)圖1所示。
2)程序II 循環。主(zhu)要用(yong)于對真(zhen)實環境進行模擬(ni),因為(wei)高(gao)溫(wen)值是隨日循環全(quan)國1%工作極值相應溫(wen)度及濕度日變(bian)化(hua),見GJB1172.2- 1991)而(er)變(bian)化(hua)的。如圖2所示。