高低溫試驗箱是開展溫度環境適應性試驗必不可少的硬件設備。定期校準是保證設備性能指標有效性的常用手段。本文闡明了影響溫度準確性的原因、風險和解決思路，有助于實驗室校準溫度的選擇。
引言
高(gao)低溫試驗(yan)箱(xiang)（以下簡(jian)稱“設(she)備”）是實現環境溫度(du)試驗(yan)的硬件設(she)備。為了(le)保(bao)證設(she)備性能滿足標準(zhun)(zhun)方法要求，實驗(yan)室(shi)一般都按照JJF 1101-2003《環境試驗(yan)設(she)備溫度(du)、濕度(du)校準(zhun)(zhun)規范》第6.1條款(kuan)開展(zhan)定期(qi)校準(zhun)(zhun)，校準(zhun)(zhun)項目包括溫度(du)偏差、溫度(du)均勻度(du)和溫度(du)波動(dong)度(du)。
在三個(ge)校準(zhun)項目中，溫(wen)度(du)(du)偏差(cha)用(yong)于(yu)評價(jia)設備空間點(dian)(dian)溫(wen)度(du)(du)與設備顯示溫(wen)度(du)(du)的偏離(li)情況，溫(wen)度(du)(du)均勻度(du)(du)用(yong)于(yu)評價(jia)設備工(gong)作艙空間溫(wen)度(du)(du)場分布，溫(wen)度(du)(du)波動度(du)(du)用(yong)于(yu)評價(jia)設備溫(wen)度(du)(du)重(zhong)復性(xing)(xing)。其中，溫(wen)度(du)(du)偏差(cha)是容易出問題的項目，而(er)且隱(yin)蔽性(xing)(xing)強，需要實驗室重(zhong)點(dian)(dian)關注。
在(zai)實際工作中，某(mou)些實驗室在(zai)選(xuan)(xuan)擇校準(zhun)(zhun)溫(wen)(wen)度(du)時，會選(xuan)(xuan)擇能體現(xian)設備溫(wen)(wen)度(du)范圍的(de)極限溫(wen)(wen)度(du)和(he)常用溫(wen)(wen)度(du)進(jin)行(xing)校準(zhun)(zhun)，認為只要(yao)(yao)這些溫(wen)(wen)度(du)點的(de)溫(wen)(wen)度(du)偏差滿足標準(zhun)(zhun)方法要(yao)(yao)求，則所有溫(wen)(wen)度(du)點的(de)溫(wen)(wen)度(du)偏差都(dou)滿足標準(zhun)(zhun)要(yao)(yao)求。這種校準(zhun)(zhun)溫(wen)(wen)度(du)的(de)選(xuan)(xuan)擇實際上存(cun)在(zai)一定的(de)局限性，不一定適用實驗室使用的(de)高低溫(wen)(wen)試驗箱(xiang)。
01、影響溫度偏差(cha)變化的主(zhu)要原因(yin)
高(gao)低溫(wen)(wen)試驗(yan)箱的(de)主要組成(cheng)包括溫(wen)(wen)度測(ce)量系統、電氣控制系統、制冷/加熱系統和空氣循環系統等四個(ge)部分。圖(tu)1位溫(wen)(wen)度調節過程示意圖(tu)。
溫(wen)(wen)(wen)度(du)測量(liang)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)通過(guo)溫(wen)(wen)(wen)度(du)傳感器把感受到(dao)的(de)溫(wen)(wen)(wen)度(du)轉化成(cheng)電(dian)信號傳輸給電(dian)氣(qi)(qi)控(kong)(kong)(kong)(kong)制(zhi)(zhi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)，同時也通過(guo)A/D轉換(huan)顯示在(zai)設(she)備面板，即顯示溫(wen)(wen)(wen)度(du)。由于溫(wen)(wen)(wen)度(du)測量(liang)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)的(de)溫(wen)(wen)(wen)度(du)傳感器參(can)與控(kong)(kong)(kong)(kong)制(zhi)(zhi)，所(suo)以又叫溫(wen)(wen)(wen)度(du)控(kong)(kong)(kong)(kong)制(zhi)(zhi)傳感器。電(dian)氣(qi)(qi)控(kong)(kong)(kong)(kong)制(zhi)(zhi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)將測量(liang)結(jie)果與設(she)備內置的(de)溫(wen)(wen)(wen)度(du)特征參(can)數進行比對，然后通過(guo)一(yi)系(xi)(xi)(xi)列的(de)動作調(diao)節(jie)(jie)制(zhi)(zhi)冷/加(jia)熱系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)的(de)能量(liang)輸出。輸出能量(liang)通過(guo)空(kong)氣(qi)(qi)循環系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)散布到(dao)設(she)備工作空(kong)間(jian)，形(xing)成(cheng)一(yi)個(ge)閉環系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)進行溫(wen)(wen)(wen)度(du)調(diao)節(jie)(jie)。
設備空間的(de)(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)值與溫(wen)(wen)度(du)(du)測(ce)(ce)量系統的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量值之間的(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)值就是(shi)溫(wen)(wen)度(du)(du)偏(pian)差(cha)。影響溫(wen)(wen)度(du)(du)偏(pian)差(cha)的(de)(de)(de)(de)(de)因(yin)(yin)素包括溫(wen)(wen)度(du)(du)測(ce)(ce)量系統的(de)(de)(de)(de)(de)穩定性和精(jing)度(du)(du)，控制系統的(de)(de)(de)(de)(de)能量輸出和空氣循環系統的(de)(de)(de)(de)(de)能量傳(chuan)遞效(xiao)果。在這些因(yin)(yin)素綜合作用下，溫(wen)(wen)度(du)(du)偏(pian)差(cha)是(shi)不可避免(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)。
當設(she)(she)備加工調試完(wan)畢(bi)后(hou)，控制系(xi)統和空氣循(xun)環(huan)系(xi)統的(de)對溫(wen)度(du)偏(pian)差(cha)的(de)影響基(ji)本就固(gu)化(hua)下來，一般不會發(fa)生(sheng)(sheng)大的(de)變(bian)(bian)化(hua)。而(er)溫(wen)度(du)測量系(xi)統在設(she)(she)備使用(yong)過(guo)程(cheng)中，相(xiang)關(guan)參數容易產生(sheng)(sheng)偏(pian)移，導致溫(wen)度(du)偏(pian)差(cha)發(fa)生(sheng)(sheng)變(bian)(bian)化(hua)。所以設(she)(she)備投(tou)用(yong)后(hou)，溫(wen)度(du)測量系(xi)統的(de)穩定性和精度(du)是溫(wen)度(du)偏(pian)差(cha)發(fa)生(sheng)(sheng)變(bian)(bian)化(hua)的(de)主(zhu)要原因(yin)和常見(jian)原因(yin)。
02、溫度測量系統的(de)設計原理(li)簡介
2.1溫度-阻值非線(xian)性原理
溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)測量系統由溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)傳感器和接口電(dian)(dian)路(lu)(lu)構成。溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)傳感器有熱(re)電(dian)(dian)阻(zu)和熱(re)電(dian)(dian)偶兩(liang)類。在(zai)不(bu)同溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)作(zuo)用下，熱(re)電(dian)(dian)阻(zu)的(de)電(dian)(dian)阻(zu)值或熱(re)電(dian)(dian)偶的(de)電(dian)(dian)流會產生變化(hua)(hua)。接口電(dian)(dian)路(lu)(lu)把電(dian)(dian)阻(zu)或電(dian)(dian)流變化(hua)(hua)情況轉變成可(ke)用電(dian)(dian)信號，經(jing)過調(diao)(diao)校(xiao)后輸出到電(dian)(dian)氣控(kong)制(zhi)系統對設備進行溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)調(diao)(diao)節。因此，溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)測量系統的(de)輸出是否準確與溫(wen)(wen)度傳感器和接(jie)(jie)口電路都有直接(jie)(jie)關系。
高(gao)低溫試驗(yan)箱常(chang)用的(de)溫度(du)傳感器(qi)是(shi)PT100鉑(bo)電(dian)阻(zu)傳感器(qi)。PT表示(shi)傳感器(qi)材質(zhi)為(wei)鉑(bo)金，100表示(shi)0℃的(de)電(dian)阻(zu)為(wei)100歐姆。PT100溫度(du)測量(liang)范圍為(wei)-200℃～650℃，屬于正電(dian)阻(zu)型傳感器(qi)，即溫度(du)傳感器(qi)的(de)阻(zu)值隨(sui)著溫度(du)升高(gao)變大，反之則變小。阻(zu)值與溫度(du)的(de)對應關系如圖2中實線所示(shi)。
鉑(bo)電阻的(de)阻值與溫度(du)的(de)對應關(guan)系可以表(biao)示成(cheng)兩個數學函數關(guan)系：
200 ℃～0 ℃，阻值與溫度的函數(shu)關系：
Rt=R0[1+At+Bt2+C（t-100）t3]
; 0 ℃～650 ℃，阻(zu)值與溫(wen)度的(de)函數關系：
Rt=R0[1+At+Bt2]
其中，Rt是t ℃的電阻(zu)值，R0是0 ℃時的電阻(zu)值。
A、B、C為特定常數。
從(cong)以(yi)上兩個(ge)函數關(guan)系(xi)表達式可以(yi)看出，兩個(ge)函數中都包含變量Bt2，所以(yi)Rt特征曲(qu)線(xian)是(shi)一(yi)條單調(diao)上凸(tu)的曲(qu)線(xian)，溫(wen)度和電阻值不是(shi)線(xian)性(xing)對應關(guan)系(xi)。PT100作(zuo)為鉑電阻溫(wen)度傳感器，其電阻值與溫(wen)度也是(shi)非(fei)線(xian)性(xing)關(guan)系(xi)。
溫度(du)傳感(gan)器輸(shu)出(chu)的(de)是非(fei)線(xian)性(xing)信(xin)號，試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)電(dian)氣控制系統需要(yao)輸(shu)入的(de)是線(xian)性(xing)信(xin)號，兩者之間就需要(yao)接口電(dian)路(lu)進(jin)行線(xian)性(xing)化信(xin)號調(diao)校。目前(qian)，鉑電(dian)阻的(de)線(xian)性(xing)化調(diao)校方法有讀表(biao)(biao)(biao)法、作(zuo)圖法和數(shu)學(xue)公(gong)式法。讀表(biao)(biao)(biao)法就是按照公(gong)開發(fa)布的(de)阻值-溫度(du)分度(du)表(biao)(biao)(biao)，選(xuan)取(qu)特定的(de)參數(shu)作(zuo)為基準進(jin)行信(xin)號處理(li)設(she)計。其余溫度(du)點，則通過(guo)阻值補償，使輸(shu)出(chu)信(xin)號貼近分度(du)表(biao)(biao)(biao)給出(chu)的(de)參數(shu)。
在(zai)GB/T 30121-2013/IEC60751：2008《工業鉑熱電阻及鉑感溫(wen)元件》分度表中，明確(que)規定了PT100各溫(wen)度點下的溫(wen)度-阻值對應值，數(shu)據詳細統(tong)一(yi)，廣泛(fan)應用在(zai)國內外高低溫(wen)試驗箱接口(kou)電路線(xian)性化調校算法中，屬于高低溫(wen)試驗箱測(ce)量系統(tong)設計(ji)的基礎參數(shu)之(zhi)一(yi)。
2.2設(she)備調校方式
雖然設備(bei)廠(chang)家在(zai)信(xin)(xin)號處理算(suan)法設計中，基(ji)本上都采用(yong)GB/T30121-2013/IEC60751：2008標準中溫度-阻值分度表(biao)給出的(de)參(can)數，但由(you)于廠(chang)家算(suan)法不一樣，信(xin)(xin)號調(diao)校(xiao)(xiao)的(de)方式也存在(zai)差異，歸(gui)納起(qi)來就是(shi)存在(zai)整體(ti)調(diao)校(xiao)(xiao)和(he)多點調(diao)校(xiao)(xiao)兩種。具(ju)體(ti)是(shi)采用(yong)哪種方式進行調(diao)校(xiao)(xiao)的(de)，需要查詢(xun)廠(chang)家提供的(de)設備(bei)資料。
整(zheng)體(ti)調校設(she)(she)計是(shi)以設(she)(she)備溫(wen)度(du)(du)范圍的(de)上下(xia)限溫(wen)度(du)(du)對應的(de)阻值(zhi)作(zuo)為(wei)(wei)基(ji)準，將兩點連線(xian)作(zuo)為(wei)(wei)基(ji)準線(xian)，選(xuan)取(qu)中間某幾點溫(wen)度(du)(du)的(de)阻值(zhi)作(zuo)為(wei)(wei)參照，模(mo)擬出一條溫(wen)度(du)(du)-阻值(zhi)線(xian)性(xing)變(bian)(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)線(xian)段作(zuo)為(wei)(wei)特(te)征(zheng)曲線(xian)。整(zheng)體(ti)調校的(de)設(she)(she)備，整(zheng)個(ge)溫(wen)度(du)(du)范圍內的(de)溫(wen)度(du)(du)變(bian)(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)趨勢是(shi)相(xiang)互關聯的(de)。當某個(ge)溫(wen)度(du)(du)點出現(xian)變(bian)(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)，整(zheng)條特(te)征(zheng)曲線(xian)都(dou)會發(fa)(fa)生變(bian)(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)，上下(xia)限溫(wen)度(du)(du)一定(ding)會同時(shi)或單獨發(fa)(fa)生同向變(bian)(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)。
多(duo)點(dian)(dian)調(diao)校設計是將設備溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)范圍分成多(duo)個溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)段，每(mei)段選取兩(liang)個端(duan)點(dian)(dian)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)阻(zu)值作(zuo)為基準，將兩(liang)點(dian)(dian)連線(xian)(xian)(xian)作(zuo)為基準線(xian)(xian)(xian)，模擬出一(yi)條溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)-阻(zu)值線(xian)(xian)(xian)性變化特征(zheng)曲(qu)線(xian)(xian)(xian)。由于(yu)設備整(zheng)個溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)范圍內的(de)(de)(de)特征(zheng)曲(qu)線(xian)(xian)(xian)通過多(duo)條折線(xian)(xian)(xian)模擬的(de)(de)(de)，業(ye)界也稱之為多(duo)點(dian)(dian)折線(xian)(xian)(xian)調(diao)校。多(duo)點(dian)(dian)調(diao)校的(de)(de)(de)設備，只有處于(yu)同一(yi)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)段的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)才存在關聯關系(xi)。當某一(yi)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)發生偏移，只有處于(yu)同一(yi)段的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)才會受影(ying)響(xiang)，不影(ying)響(xiang)其他溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)段的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)。
03、案(an)例分析
國(guo)內某知名科研院(yuan)所實驗室的(de)年度(du)校準計劃中(zhong)，按照(zhao)GB/T5170.2-2017/8.1.2條款(kuan)推(tui)薦，結合實驗室使用需求(qiu)，校準溫度(du)統一選(xuan)取了-70℃、-55℃、-10℃、40℃、85℃、125℃、150℃等7個(ge)溫度(du)點(dian)。
案例一
查(cha)閱某型號的高低溫試驗(yan)箱校準(zhun)證(zheng)書，其溫度偏差(cha)數據見表1。查詢設備(bei)相關資料，設備(bei)容積為1立方(fang)米(mi)，溫度范圍為-70℃～150℃，滿足(zu)GB/T2423.1和GB/T2423.2試驗(yan)方(fang)法要求。根據廠方(fang)提供(gong)的資料，該設備(bei)溫度屬于多點(dian)調校設計，溫度調校點(dian)為-70℃、-45℃、-10℃、-5℃、40℃、70℃、125℃、150℃。
如(ru)果只(zhi)看校準數據，按照(zhao)GB/T2423.1或GB/T2423.2對溫(wen)度偏(pian)(pian)差的要(yao)求，這些溫(wen)度點的溫(wen)度偏(pian)(pian)差都小于±2℃，滿足標準方法規定。但是，當(dang)利用這些校準數據進一步分(fen)析設備整個溫(wen)度范圍的溫(wen)度偏(pian)(pian)差時，就會發現(xian)以下(xia)兩個方面問(wen)題(ti)：
1）校準溫(wen)(wen)度(du)-70℃和(he)(he)-55℃屬(shu)于(yu)設(she)備-70℃～-45℃溫(wen)(wen)度(du)調(diao)校段(duan)。由于(yu)同一溫(wen)(wen)度(du)段(duan)的溫(wen)(wen)度(du)偏移變化(hua)趨勢(shi)是一致的，所以(yi)按(an)此(ci)趨勢(shi)經(jing)過推算(suan)，-45℃溫(wen)(wen)度(du)偏差約為+2.5℃，已經(jing)超(chao)出了標準方法規定(ding)。同理，校準溫(wen)(wen)度(du)85℃和(he)(he)125℃屬(shu)于(yu)設(she)備70℃～125℃溫(wen)(wen)度(du)調(diao)校段(duan)，則可以(yi)算(suan)出70℃的溫(wen)(wen)度(du)偏差約為-0.6℃。
2）設備(bei)-10℃～-5℃和-5℃～40℃溫(wen)度段分別都(dou)只(zhi)有一個(ge)溫(wen)度點，無(wu)法推算出(chu)-5℃的溫(wen)度偏(pian)差(cha)，無(wu)法判斷這兩段溫(wen)度的變化趨勢，因此無(wu)法判斷-10℃～-5℃～40℃區間的溫(wen)度偏(pian)差(cha)是否(fou)滿足不(bu)大于±2℃的要(yao)求。
案例二
查閱(yue)某型號的高低溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)校(xiao)準證書，其(qi)溫度偏差數(shu)據(ju)見表2。查詢(xun)設(she)(she)備(bei)(bei)相關資料，設(she)(she)備(bei)(bei)容積(ji)為0.2立(li)方米，溫度范圍為-70℃～150℃，滿足GB/T2423.1和GB/T2423.2試(shi)驗(yan)方法要求。根據(ju)廠(chang)方提(ti)供的資料，該設(she)(she)備(bei)(bei)溫度屬于(yu)整體調(diao)校(xiao)設(she)(she)計。
以X軸為(wei)溫度(du)(du)軸，Y軸作為(wei)溫度(du)(du)偏差軸。根據校(xiao)準數據，將-70℃和(he)150℃的溫度(du)(du)偏差連起(qi)來(lai)，可以發現該連線圍繞X軸的某一(yi)溫度(du)(du)點發生了旋轉(zhuan)，其它溫度(du)(du)都(dou)隨著(zhu)連線的旋轉(zhuan)方向產(chan)生同(tong)向偏移。所有校(xiao)準溫度(du)(du)的溫度(du)(du)偏差都(dou)滿(man)足標準方法(fa)要(yao)求。
案例一(yi)中的(de)設(she)(she)備(bei)(bei)屬于(yu)多點調校(xiao)(xiao)，實驗室選(xuan)取的(de)校(xiao)(xiao)準溫度(du)(du)就(jiu)不(bu)足以(yi)反(fan)映(ying)設(she)(she)備(bei)(bei)的(de)整體(ti)性(xing)能，只能代表(biao)校(xiao)(xiao)準溫度(du)(du)的(de)偏移情況(kuang)。案例二中的(de)設(she)(she)備(bei)(bei)屬于(yu)整體(ti)調校(xiao)(xiao)，實驗室選(xuan)取的(de)校(xiao)(xiao)準溫度(du)(du)能反(fan)映(ying)設(she)(she)備(bei)(bei)的(de)整體(ti)性(xing)能。所以(yi)實驗室選(xuan)取的(de)校(xiao)(xiao)準溫度(du)(du)不(bu)恰當，不(bu)能完全適用(yong)實驗室所用(yong)的(de)試驗設(she)(she)備(bei)(bei)。
04、風險與防范
選擇的(de)校準溫度不合理，會(hui)給實驗室(shi)帶來(lai)技術(shu)風險和(he)經(jing)濟風險，進而影響(xiang)(xiang)相關組織或用戶對實驗室(shi)質量控制工作的(de)質疑(yi)，造成社會(hui)負面影響(xiang)(xiang)。
技(ji)術風險(xian)方面，會(hui)(hui)影(ying)響實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)檢(jian)(jian)測結(jie)(jie)(jie)果(guo)的有(you)效性，導(dao)致(zhi)實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)報告(gao)的檢(jian)(jian)測結(jie)(jie)(jie)果(guo)存在錯誤。溫(wen)度(du)(du)(du)試驗(yan)(yan)有(you)兩種(zhong)形式：白盒(he)(he)法(fa)和黑(hei)盒(he)(he)法(fa)。白盒(he)(he)法(fa)就是(shi)已知試驗(yan)(yan)溫(wen)度(du)(du)(du)，考核產(chan)品在該溫(wen)度(du)(du)(du)下(xia)的性能(neng)和功能(neng)。黑(hei)盒(he)(he)法(fa)則(ze)是(shi)根據產(chan)品的某(mou)個(ge)信號，要(yao)求實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)給(gei)出(chu)對(dui)應的溫(wen)度(du)(du)(du)值。對(dui)于多點(dian)調校的設備，實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)如(ru)使(shi)用非校準(zhun)溫(wen)度(du)(du)(du)點(dian)開展白盒(he)(he)法(fa)試驗(yan)(yan)，或試驗(yan)(yan)方法(fa)屬于黑(hei)盒(he)(he)法(fa)，校準(zhun)溫(wen)度(du)(du)(du)選擇不合理則(ze)檢(jian)(jian)測結(jie)(jie)(jie)果(guo)存在風險(xian)，影(ying)響實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)的外部質(zhi)量(liang)控制結(jie)(jie)(jie)果(guo)，進而影(ying)響相關組織(zhi)對(dui)實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)資質(zhi)的認可或認定，造成社(she)會(hui)(hui)負面影(ying)響。
經濟(ji)風險方面，會增加實(shi)驗室(shi)校準(zhun)(zhun)(zhun)成本，耽誤設備投用(yong)時(shi)(shi)間。計量(liang)機構的標準(zhun)(zhun)(zhun)報價(jia)中一般都(dou)只包含(han)4～5個溫度(du)點。校準(zhun)(zhun)(zhun)溫度(du)選擇(ze)的不合理，除(chu)了不能(neng)反(fan)映設備的整體性能(neng)以外，還可能(neng)因為校準(zhun)(zhun)(zhun)溫度(du)點數(shu)量(liang)過多，增加校準(zhun)(zhun)(zhun)支出。同(tong)時(shi)(shi)，實(shi)驗室(shi)對設備校準(zhun)(zhun)(zhun)前(qian)狀態不清楚，在溫度(du)偏差已經超差的情況下進(jin)行(xing)校準(zhun)(zhun)(zhun)，導致二(er)次校準(zhun)(zhun)(zhun)，不僅耽誤時(shi)(shi)間也會造(zao)成額外的校準(zhun)(zhun)(zhun)成本。
測量人(ren)員(yuan)應充分(fen)理解GB/T 2423.1-2008和為(wei)了避(bi)免(mian)校準(zhun)(zhun)溫度(du)選擇風險，兼顧(gu)實驗室的(de)設備(bei)校準(zhun)(zhun)成(cheng)本支出(chu)，實驗室在開展設備(bei)校準(zhun)(zhun)管(guan)理時，應注意以下(xia)幾個事項：
實驗室在制(zhi)定校準(zhun)計劃前，應查閱(yue)設(she)備(bei)資料，了解設(she)備(bei)溫度(du)調校設(she)計方式，編制(zhi)設(she)備(bei)校準(zhun)方案并(bing)實時更新，指導設(she)備(bei)校準(zhun)計劃制(zhi)定。
首(shou)次校準時，選擇的(de)(de)校準溫度(du)應能(neng)充分(fen)反(fan)映設備的(de)(de)整(zheng)體狀態。
每次校準(zhun)后(hou)，實驗室(shi)應盡(jin)量(liang)收集保存(cun)設備(bei)當前狀(zhuang)態的相關數據，留作(zuo)后(hou)續校準(zhun)計劃的制定參考。
在(zai)新一輪(lun)校(xiao)準計劃制定時，實驗室應對設備當前狀(zhuang)態(tai)進行確認，對比以前的(de)數據，分析可能存在(zai)的(de)溫度偏差超差點，采(cai)取必(bi)要的(de)維護維修工作。
如果實驗室(shi)選擇的(de)校準溫度值或溫度點(dian)數量(liang)不能(neng)充分(fen)反映設備(bei)的(de)整體(ti)性能(neng)，實驗室(shi)應分(fen)析可能(neng)存(cun)在的(de)風險，并告(gao)知設備(bei)使用者。
結(jie)論
實驗室在(zai)選擇高(gao)低(di)溫(wen)(wen)試驗箱校(xiao)準(zhun)(zhun)溫(wen)(wen)度時，應充分(fen)了解設(she)備的(de)相關信息，分(fen)析設(she)備使用狀態，制(zhi)定文件化的(de)校(xiao)準(zhun)(zhun)方案，建立科學(xue)系統(tong)的(de)管理方式，才(cai)能降低(di)校(xiao)準(zhun)(zhun)溫(wen)(wen)度選擇風(feng)險(xian)，避免可能遇到的(de)技(ji)術風(feng)險(xian)和(he)經濟風(feng)險(xian)，提升檢測結(jie)果的(de)有效性，實現低(di)風(feng)險(xian)、低(di)成本、高(gao)質量的(de)校(xiao)準(zhun)(zhun)管理。
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01 恒溫恒濕試驗箱
是模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作與儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗...等），檢測產品本身的適應能力與特性是否改變的測試設備。
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02 冷熱沖擊試驗箱
是用來(lai)測試(shi)材料結構或復合(he)材料，在瞬間(jian)下經極高溫(wen)及極低溫(wen)的連續環境(jing)下所能忍受的程度，借以在短時間(jian)內試(shi)驗(yan)其因熱脹冷縮所引起(qi)的化學變化或物理傷害。
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03 快速溫變試驗箱
是通過(guo)向待測品(pin)(pin)施加合(he)理的(de)環境(jing)應力和(he)電(dian)應力，使得(de)由不良元器件、零部件或(huo)工(gong)(gong)藝缺(que)陷(xian)等引起(qi)的(de)產品(pin)(pin)早期(qi)缺(que)陷(xian)加速變(bian)成故障，并加以發現和(he)排除的(de)過(guo)程，是一個經濟有效的(de)工(gong)(gong)程研究、制(zhi)造改進手段。
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04 HAST試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。在溫度/濕度/偏壓條件下應用于加速濕氣的滲透，可通過外部保護材料(塑封料或封口)，或在外部保護材料與金屬傳導材料之間界面。
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05 步入式恒溫恒濕試驗室
測試產品在不同溫度、濕度等氣候條件下的性能和壽命。應用于國防工業、航天工業、自動化零組件、汽車部件、電子電器件以及塑膠、化工、制藥工業相關產品的耐熱、耐寒測試。
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