1、流程
    艦(jian)船通用微(wei)電(dian)子(zi)器件的(de)(de)老化(hua)篩(shai)選(xuan)(xuan)項月，一般都與(yu)個或(huo)多個故(gu)障模代有(you)關(guan)。所(suo)以其老化(hua)篩(shai)選(xuan)(xuan)的(de)(de)順(shun)序大(da)有(you)講究，本文推薦的(de)(de)艦(jian)船通用微(wei)電(dian)子(zi)器件老化(hua)篩(shai)選(xuan)(xuan)順(shun)序（流程）是：

    常溫(wen)初測(ce)、低(di)(di)溫(wen)測(ce)試、高(gao)溫(wen)測(ce)試、高(gao)低(di)(di)溫(wen)沖擊動(dong)(dong)態(tai)老化(hua)/高(gao)溫(wen)存(cun)儲(chu)(chu)檢漏常溫(wen)終測(ce)這里的/是條(tiao)件(jian)或。即如(ru)果已(yi)做動(dong)(dong)態(tai)老化(hua)，高(gao)溫(wen)存(cun)儲(chu)(chu)可(ke)省：如(ru)果由于條(tiao)件(jian)限制(zhi)做不了動(dong)(dong)態(tai)老化(hua)，那么(me)可(ke)用高(gao)溫(wen)存(cun)儲(chu)(chu)作補償性篩選。

    2、技術條(tiao)件和方(fang)法
    2.1常溫(wen)初/終測
    2.1.1條(tiao)件
    檢測的環境溫度：23℃±2℃
    確保被檢(jian)器件在檢(jian)測(ce)的環境溫度下已保持30min。
    2.1.2方法
    在有能力檢測被測器件(jian)的測試(shi)系(xi)(xi)統(tong)(tong)上，按器件(jian)數(shu)據(ju)手冊的技術要求檢測器件(jian)是(shi)否滿足規定的各項指(zhi)標(biao)要求。一般，這(zhe)些測試(shi)系(xi)(xi)統(tong)(tong)需(xu)要經(jing)(jing)過認可/計(ji)確認，測試(shi)軟件(jian)經(jing)(jing)過認可/計(ji)量確認。
    2.2低(di)溫測(ce)試
    2.2.1條件(jian)
    檢測的環(huan)境溫度：工作Tmin ±3℃
    確保(bao)被檢器件在(zai)檢測的環境溫度下已保(bao)持120min。
    2.2.2方法
    在有能力檢(jian)測(ce)(ce)被測(ce)(ce)器件(jian)的測(ce)(ce)試(shi)系(xi)統上，按器件(jian)數(shu)據(ju)于(yu)冊的技術要求(qiu)檢(jian)測(ce)(ce)器件(jian)是(shi)否滿足規定的各項指標要求(qiu)。一般，這些(xie)測(ce)(ce)試(shi)系(xi)統需要經過認(ren)可/計量確認(ren)，測(ce)(ce)試(shi)軟件(jian)經過認(ren)可/計量確認(ren)。
    2.3高溫測試
    2.3.1條(tiao)件
    檢測(ce)的(de)環(huan)境溫(wen)度：工作Tmax±3℃
    ;確保被(bei)檢(jian)器件在(zai)檢(jian)測的環境溫(wen)度下已保持120min。
    2.3.2方(fang)法
    在(zai)有能力檢測(ce)被測(ce)器件的測(ce)試(shi)(shi)系統上，按器件數據手冊的技術要(yao)求(qiu)檢測(ce)器件是否(fou)滿足規(gui)定的務項指標要(yao)求(qiu)。一般，這些測(ce)試(shi)(shi)系統蓿要(yao)經(jing)過認可/計量(liang)確(que)認，測(ce)試(shi)(shi)軟(ruan)件經(jing)過認可/計量(liang)確(que)認。
    2.4高低溫(wen)沖擊
    2.4.1條(tiao)件
    沖擊低溫(wen)：存儲(chu)/工作(zuo) Tmin ±3℃
    沖擊高溫：存儲(chu)/工作 Tmax ±3℃
    沖擊保持時(shi)間：30min。
    沖擊(ji)交替時(shi)問：<3min。
    沖擊交替(ti)次(ci)數：5次(ci)。
    2.4.2方法
    2.4.2.1 .二箱法
    本方法使用兩箱式冷熱沖擊試驗箱完成試驗。從常溫開始，將非工作狀態的器件放入低溫箱，使其達到存儲/工作Tmin±3℃，保持30min,取出被試件在常溫下放置2-3min，再放入溫度已達存儲/工作Tmax±3℃的高溫箱，保持30min。取出被試件在常溫下放置2-3min，再放入溫度已達存儲/工作Tmin±3℃的，低溫箱，保持30min ...，如此循環重復5次。剔除外觀受損部分。一般，這些試驗設備也需要經過認可/計量確認。
    2.4.2.2一箱(xiang)法
    在三箱式(shi)（換(huan)氣(qi)式(shi)）冷熱沖(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱上(shang)完成，將試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱的二個試(shi)(shi)區(qu)溫度分別(bie)置為：存(cun)儲/工(gong)作(zuo)Tmin±3℃和存(cun)儲/工(gong)作(zuo)Tmax±℃，并(bing)設(she)置它相關的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)參(can)(can)數和上(shang)作(zuo)參(can)(can)數。將受試(shi)(shi)作(zuo)放入低(di)(di)溫區(qu)開始試(shi)(shi)驗(yan)(yan)。應確(que)保試(shi)(shi)驗(yan)(yan)從低(di)(di)溫開始并(bing)能白動切換(huan)5個循(xun)環。一般，這些(xie)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)設(she)備也需要經過認(ren)可/計量確(que)認(ren)。
   ; 2.5動(dong)態老化3.5.1條(tiao)件
    老化的環境溫度：工作Tmax±3℃
    老化時(shi)間：48h/96h。
    2.5.2方法(fa)
    在步入式高溫老化房上完成，按器件數據手冊規定的技術要求設定老化電源、電流、電壓等具體的老化條件。確保每個被試器件已安全地固定在相應老化板的老化夾具上，并確保老化器件的每個輸入管腿都有圖形脈沖進入。一般，這樣的老化系統也需要經過認可/計量確認。48h/96h應由客戶或程序文件確定。
    2.6高溫存儲3.6.1條件
    高溫存貯(zhu)溫度：存貯(zhu)/工(gong)作Tmax±3℃
    高溫存貯時間：48h/96h
    2.6.2方法(fa)
    將元器件(jian)放(fang)在(zai)滿足試驗能力要求的高(gao)低(di)溫(wen)試驗箱中，設置高(gao)溫(wen)存貯溫(wen)度和保持(chi)時間，啟動(dong)試驗，當溫(wen)度到達Tmax后確保保持(chi)96h，取(qu)出自(zi)然降溫(wen)。一般，這樣的設備(bei)也需要經過認可/計崇確認。48h/96h 應由客戶或程(cheng)序文(wen)件(jian)確定(ding)。
    2.7粗檢漏
    2.7.1條件(jian)
    檢漏液(ye)沸點溫度：120℃±5℃
    確保被檢(jian)器件能承受該溫度，否則不(bu)進行(xing)粗檢(jian)漏。如：民品器件。
    確保檢(jian)漏液無大于1um粒子，否則(ze)過濾后再使用。
    2.7.2方法
    將被(bei)檢(jian)器件(jian)放入加壓(ya)容(rong)器，充(chong)氮氣達411Kpa保持(chi)2h。然后,將恢復(fu)常壓(ya)的被(bei)檢(jian)件(jian)逐個(ge)放入120℃±5℃的檢(jian)漏液(ye)中，確保被(bei)檢(jian)件(jian)淹(yan)沒深(shen)度超過5cm.借助(zhu)放大鏡觀察(cha)30s 以(yi)上，剔除連續旨(zhi)泡者。一般，這樣(yang)的壓(ya)力容(rong)器和(he)壓(ya)力表也需要經(jing)過認可/計量確認。
    3、試檢判別依(yi)據
    3.1測試判別依據
    常溫初/終測、高、低溫測試(shi)的(de)(de)(de)判(pan)別依據是由各微電(dian)子(zi)器(qi)(qi)件生(sheng)產(chan)廠商(shang)發布的(de)(de)(de)柑(gan)應器(qi)(qi)件于冊(ce)所規定的(de)(de)(de)技術指標。在(zai)無本手冊(ce)的(de)(de)(de)前(qian)提下，不(bu)同(tong)(tong)商(shang)規定的(de)(de)(de)技術指標可(ke)參照(zhao)執行。測試(shi)時，只要存在(zai)一項指標不(bu)合(he)格(ge)(ge)，該器(qi)(qi)件應視為(wei)不(bu)合(he)格(ge)(ge)品(pin)處置。在(zai)這樣(yang)的(de)(de)(de)情(qing)況下，后序的(de)(de)(de)篩選過程(cheng)不(bu)再執行。除非該器(qi)(qi)件的(de)(de)(de)不(bu)合(he)格(ge)(ge)程(cheng)度并(bing)不(bu)嚴(yan)重，同(tong)(tong)時已通知并(bing)經用戶認(ren)可(ke)，方能繼(ji)續進(jin)行。
    3.2試驗判(pan)別(bie)依(yi)據(ju)
    3.2.1高溫(wen)存儲/高低溫(wen)沖(chong)擊/動(dong)態老化判(pan)別依據
    這兩項(xiang)試驗的(de)目(mu)的(de)是(shi)加速(su)/誘發(fa)微電子器(qi)件(jian)(jian)(jian)的(de)早期失效。一般存(cun)在缺陷的(de)器(qi)件(jian)(jian)(jian)在早期失效后不能恢復，由(you)于高低溫(wen)沖擊/動(dong)態老化(hua)設備，無能力對其電氣特性(xing)是(shi)否發(fa)生了(le)變化(hua)進(jin)行(xing)判(pan)別，所以(yi)對高低溫(wen)沖擊/動(dong)態老化(hua)后的(de)器(qi)件(jian)(jian)(jian)的(de)性(xing)能判(pan)別將在終(zhong)測(ce)時(shi)進(jin)行(xing)。此時(shi)只(zhi)需(xu)要對高低溫(wen)沖擊/動(dong)態老化(hua)后的(de)器(qi)件(jian)(jian)(jian)進(jin)作肉(rou)眼(yan)觀察，看其外觀物理(li)狀態是(shi)否發(fa)生了(le)明(ming)顯的(de)變化(hua)，例如：龜裂、爆(bao)炸(zha)等等，如果有(you)這類情況，器(qi)件(jian)(jian)(jian)應立(li)即剔除，不再參加以(yi)后的(de)篩(shai)選試驗。
    3.2.2粗(cu)檢漏判別依據
    根(gen)據粗(cu)檢漏(lou)的技術條件(jian)(jian)和(he)要求，用(yong)放大鏡觀察浸入高溫檢漏(lou)液的器件(jian)(jian)，剔除連續詈泡者。
    4、記錄和(he)報告
    在(zai)微電子(zi)器件(jian)的老化篩選過程中，對本文(wen)推(tui)薦流程的每個階段都(dou)應(ying)形成記錄，并出具一(yi)(yi)個初(chu)測(ce)報(bao)(bao)告(gao)、低(di)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)報(bao)(bao)告(gao)、高溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)報(bao)(bao)告(gao)、一(yi)(yi)個完整（包括(kuo)高低(di)溫(wen)沖擊和(he)動態老化和(he)粗檢漏）的試(shi)(shi)駿(jun)報(bao)(bao)告(gao)和(he)一(yi)(yi)個終測(ce)報(bao)(bao)告(gao)。完整的試(shi)(shi)驗(yan)報(bao)(bao)告(gao)也應(ying)將所(suo)作的全(quan)部試(shi)(shi)驗(yan)條件(jian)和(he)結果描述消(xiao)楚(chu)。