閃存（Flash Memory）是一(yi)種(zhong)長壽命的非易失性(xing)（在斷電情況下(xia)仍(reng)能保持(chi)所存(cun)儲(chu)的數(shu)據信息）的存(cun)儲(chu)器，并且是非揮(hui)發性(xing)內存(cun)的一(yi)種(zhong)，不需電力來(lai)維持(chi)數(shu)據的儲(chu)存(cun)，可(ke)分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種(zhong)，前者用(yong)于儲(chu)存(cun)程序(xu)代(dai)碼(ma)，后者用(yong)于儲(chu)存(cun)數(shu)據。閃存(cun)應(ying)用(yong)范圍(wei)涵蓋汽車(che)電子(zi)、因特網(wang)、存(cun)儲(chu)器、DSL 電纜調(diao)制(zhi)解調(diao)器、數(shu)字電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業(ye)電子(zi)…等等。

    閃存溫度測試原因

     為確保閃存可在極端溫度環境（例如: 油氣探勘、重工業以及航空領域）可正常實現穩健的閃存讀/寫操作功能，因此在出廠前需要進行溫度測試，RIUKAI超高速高低溫交變濕熱試驗箱憑借可測試溫度 -70℃至+150℃，每秒可快速升溫或降溫30℃，溫度精度±0.1℃等優勢廣泛應用于閃存制造行業。瑞凱儀器作為中國自主品牌環境溫濕度試驗設備制造商，從高低溫交變濕熱試驗箱的研發、生產、銷售及售后等一系列服務，為用戶提供更便捷、可靠的技術產品。

    閃存溫度測試方法

    通過與 內存 IC 測試系統搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據客戶實際要求，小編推薦選用RK-TH-408高低溫交變濕熱試驗箱，并提供兩種溫度操作模式：高低溫及恒定溫濕度測試。
    閃存多采用恒定溫濕度測試模式來進行交變濕熱測式，將閃存與RK-TH-408使用t型熱電偶相互連接，如此即可掌控受測物達到機臺所設定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內嵌式記憶體eMMC 溫度測試。RK-TH-408高低溫交變濕熱試驗箱可與多種類型工程機聯用，進行芯片高低溫測試。