芯片是(shi)電子信息產品重(zhong)要的(de)元(yuan)器(qi)件，是(shi)高端制造業(ye)的(de)是(shi)核心(xin)基(ji)石(shi)！幾乎每種電子設備(bei)，電腦、手機、家電、汽(qi)車、高鐵、電網、醫療儀器(qi)、機器(qi)人、工業(ye)控制等都(dou)使用芯片。
由此可(ke)(ke)知(zhi)，芯(xin)片在我(wo)們日常生活中充當(dang)了(le)極其重要的角色，當(dang)然其品質也受到了(le)人們的高度重視，但你知(zhi)道一塊芯(xin)片需(xu)要做哪(na)些環境可(ke)(ke)靠性測試呢？
瑞凱儀器來告訴你吧。
1、高(gao)低溫試(shi)驗：模擬IC在使用之前在一定濕度，溫度條件下存儲(chu)的耐久力，也(ye)就是(shi)IC從生產到使用之間(jian)存儲(chu)的可靠性。
2、高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)試驗（THB）：評估IC產品在高(gao)溫(wen)，高(gao)濕(shi)，偏壓條件下對濕(shi)氣(qi)的抵(di)抗能力，加速其(qi)失效(xiao)進程。
3、高(gao)(gao)壓蒸煮(zhu)試(shi)驗（PCT）：評(ping)估IC產品在高(gao)(gao)溫，高(gao)(gao)濕(shi)(shi)，高(gao)(gao)氣壓條件下對濕(shi)(shi)度的抵抗能力(li)，加速其失(shi)效過程。
4、高低(di)溫(wen)循環試驗（TCT）: 評估IC產(chan)品中具有不(bu)同熱膨脹系數的金屬之(zhi)間的界(jie)面(mian)的接(jie)觸良率。方法是通過循環流動的空氣從高溫(wen)到(dao)低(di)溫(wen)重復(fu)變化。
5、高溫儲存試驗（HTST）: 評估IC產(chan)品在實(shi)際使用之前在高溫條件下(xia)保(bao)持幾(ji)年(nian)不工作條件下(xia)的生命(ming)時間。
此外，還有一個為(wei)重要的性(xing)能測試，即高(gao)(gao)加(jia)速溫濕度及偏壓(ya)測試（HAST），評估IC產(chan)品在偏壓(ya)下高(gao)(gao)溫，高(gao)(gao)濕，高(gao)(gao)氣壓(ya)條件(jian)下對濕度的抵抗(kang)能力，加(jia)速其失效(xiao)過程。
可是怎么知(zhi)道芯片是否存在失(shi)效(xiao)呢？
那(nei)當然要使用(yong)瑞凱儀器所研制的HAST試驗箱啦！
瑞凱HAST試驗箱主要應用于芯片、半導體器件、金屬材料領域，通過爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。一般通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導體的交接面。
HAST試驗箱特征：
1、可定制BIAS偏壓(ya)端子組數(shu)，提供產品通電測試；
2、通過電腦安全便捷的遠(yuan)程訪問；
3、多層(ceng)級的敏感(gan)數據保(bao)護；
4、便捷的程序入口、試驗(yan)設置和產(chan)品監控；
5、試(shi)驗數據可以(yi)導出(chu)為(wei)Excel格式并通過USB接(jie)口進行傳(chuan)輸；
6、可(ke)提供130℃溫度(du)(du)、濕度(du)(du)85%RH和230KPa大氣壓(ya)的測(ce)試條(tiao)件；
7、出(chu)色的溫濕(shi)度精(jing)密(mi)控(kong)制邏輯，防止待(dai)測品潮濕(shi)與結露的模式選(xuan)擇(ze)；
8、壓(ya)力值采實際感(gan)應偵測(ce)，確保溫度、濕度及壓(ya)力值準(zhun)確度。
芯(xin)片(pian)不僅僅要進行環境可靠性(xing)(xing)(xing)測試，每(mei)一步(bu)品(pin)質檢測關卡都要嚴格(ge)把控，只(zhi)有符合(he)所有性(xing)(xing)(xing)能要求(qiu)的芯(xin)片(pian)才(cai)能算得上是品(pin)質優良，真正確(que)保電子產品(pin)的穩定性(xing)(xing)(xing)和安(an)全性(xing)(xing)(xing)。
