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瑞凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試驗箱_冷熱沖擊試驗箱
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高低溫試驗箱
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高低溫試驗箱

瑞(rui)凱高低(di)溫試(shi)(shi)驗(yan)箱有R款、RS款、RK款可(ke)選(下(xia)面有外觀圖),適用于對工業產品(pin)進行濕(shi)熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)、高溫試(shi)(shi)驗(yan)、低(di)溫試(shi)(shi)驗(yan)及高低(di)溫漸變試(shi)(shi)驗(yan),具有極限(xian)溫( 濕(shi)) 度范圍(wei)廣和實(shi)際 溫( 濕(shi)) 度精度高的(de)特點。

溫度范圍:-70~150℃、-60~150℃、-40~150℃、-20~150℃、0~150℃(可非標(biao)定(ding)制)

濕度范圍:20%~98%RH(非標可定制5%~98%RH、10%~98%RH)

升(sheng)溫時間:1~3℃/min(可(ke)定制線(xian)性(xing)/非線(xian)性(xing)5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min)

降溫時間:約1℃/min(可定制)


產品 · 詳情(qing)product details

高低溫試驗箱控制器

設備用途Equipment use

高低溫試驗(yan)箱(xiang)適用(yong)產品零(ling)部(bu)件及材料在高溫、低溫(交變)循環變化(hua)的(de)情況下,檢(jian)驗(yan)其(qi)可靠性(xing)各項性(xing)能指(zhi)標的(de)儀器設備(bei)。

高溫時可測試產品(pin)零(ling)(ling)件、材(cai)料(liao)可能發(fa)(fa)生軟(ruan)化(hua)、效(xiao)能降低(di)、特性(xing)改變(bian)、潛在(zai)破(po)壞、氧化(hua)等(deng)現(xian)象(xiang)(xiang)(如:填充物和密封條軟(ruan)化(hua)或融化(hua)、電子電路穩定性(xing)下降,絕緣損(sun)壞、加速高分(fen)子材(cai)料(liao)和絕緣材(cai)料(liao)老(lao)化(hua)等(deng));在(zai)低(di)溫時可測試產品(pin)零(ling)(ling)件、材(cai)料(liao)可能發(fa)(fa)生龜(gui)裂、脆化(hua)、可動部(bu)卡(ka)死(si)、特性(xing)改變(bian)等(deng)現(xian)象(xiang)(xiang)(如:材(cai)料(liao)發(fa)(fa)硬變(bian)脆、電子元器(qi)件性(xing)能發(fa)(fa)生變(bian)化(hua)、水冷凝結冰、材(cai)料(liao)收縮(suo)造(zao)成機(ji)械(xie)結構變(bian)化(hua)等(deng))。

準時交貨準時交貨率高達99%

產品 · 特(te)點Product features

  • 設計穩定性高

    恒定狀態波動低于±0.3℃;

  • 安全溫度范圍廣

    超低溫(wen)(wen)試(shi)驗可達-196℃,超高溫(wen)(wen)試(shi)驗可達500℃;

  • 穩定運行效率高

    溫變速率(lv)可達3℃/min、5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min; 

  • 選擇啟動速度快:

    各種試驗(yan)條(tiao)件啟動速度快,且到達設定點后無溫(wen)度及(ji)濕度過沖抖動現象(xiang)(到達波動<0.5℃);

  • 智能智能化高

     支(zhi)持(chi)電腦連(lian)接,利(li)用(yong)USB數據、曲線(xian)導出保存;

國產高低溫試驗箱-

高低溫試驗箱-瑞凱儀器.jpg


    經國家環境試驗設備質量監督檢測檢測,符合“環境試驗設備技術條件”系列標準中的:
    GB/T 2423.1-2008 電工電子(zi)產(chan)品(pin)環(huan)境試(shi)驗 第2部分:試(shi)驗方法 試(shi)驗A:低溫
    GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
    GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chan)品環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan) 第2部分:試(shi)驗(yan)方(fang)法 試(shi)驗(yan)Cab:恒(heng)定濕熱
    GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱 (12h+12h循環)
    GB/T 2423.22-2002 電(dian)工電(dian)子(zi)產品環(huan)境試驗(yan) 第2部分:試驗(yan)方法 試驗(yan)N:溫(wen)度變化
    GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗
    GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chan)品環境試(shi)驗 第2部(bu)分:試(shi)驗方(fang)法 試(shi)驗Cy:恒定濕熱(re)主要用于元件的加速(su)試(shi)驗
    GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
    GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技(ji)術條件
    GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
    GB/T 11158-2008 高溫(wen)試驗箱技術條件


高低溫試驗箱適用范圍

高低溫試驗箱結構圖

高低溫試驗箱細節圖

高低溫試驗箱生產廠家

高低溫試驗箱廠家