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瑞凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試驗箱_冷熱沖擊試驗箱
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HAST試驗箱
  • HAST老化試驗箱非標定制
HAST老化試驗箱非標定制

產品特(te)點：

可(ke)定制BIAS偏壓端子組(zu)數，提供產品通電測試(shi)

通過(guo)電腦安(an)全便捷的遠程訪問

多(duo)層級的(de)敏感數據保護

便捷的程(cheng)序(xu)入口、試驗設(she)置和產(chan)品監控

試驗數據可以導出為Excel格式并通過USB接口進行(xing)傳(chuan)輸

型號：HAST系列                生產方式(shi)： 非標定制

品(pin)牌： RIUKAI                      產地(di)： 廣(guang)東(dong)·東(dong)莞

非標定制(zhi)產品(pin)詳情請咨詢客服

產品 · 詳情product details

HAST

設備用途Equipment use

HAST設(she)備用于(yu)評估非氣(qi)密性封裝(zhuang)IC器件、金(jin)屬(shu)材(cai)料等在濕(shi)(shi)度(du)環境下(xia)的可靠性。通過溫度(du)、濕(shi)(shi)度(du)、大氣(qi)壓力(li)條(tiao)(tiao)件下(xia)應用于(yu)加(jia)(jia)速濕(shi)(shi)氣(qi)的滲透，可通過外(wai)部保護(hu)材(cai)料（塑封料或封口(kou)），或在外(wai)部保護(hu)材(cai)料與(yu)金(jin)屬(shu)傳導材(cai)料之間界面(mian)。它(ta)采(cai)用了嚴格的溫度(du)，濕(shi)(shi)度(du)，大氣(qi)壓、電(dian)壓條(tiao)(tiao)件，該條(tiao)(tiao)件會加(jia)(jia)速水分滲透到材(cai)料內(nei)部與(yu)金(jin)屬(shu)導體之間的電(dian)化學反應。失(shi)效機制：電(dian)離腐(fu)蝕，封裝(zhuang)密封性。


準時交貨準時交貨率高達99%

產品 · 特點Product features

  • 設計三種控制模式

     不(bu)飽和(he)控(kong)(kong)制(干濕(shi)(shi)球溫度控(kong)(kong)制)、不(bu)飽和(he)控(kong)(kong)制(升溫溫度控(kong)(kong)制)、濕(shi)(shi)潤飽和(he)控(kong)(kong)制。

  • 安全多重保護功能

    各(ge)種(zhong)超(chao)(chao)壓(ya)超(chao)(chao)溫、干燒(shao)漏電及誤操作等多重人機保護；

  • 穩定可帶電測試

    可定制(zhi)BIAS偏壓(ya)端子組數，提供產品通電測(ce)試；

  • 選擇濕度自由選擇

    飽(bao)和（100%R.H濕度）與非飽(bao)和（75%R.H濕度）自由設定(ding)；

  • 智能智能化高

    支持電腦連接，
    利用USB數據、
    曲線(xian)導出保存

HAST-900L高壓加速老化試驗箱

HAST試驗箱參數規格


    滿足測試標(biao)準

    GB-T 2423.40-1997 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環境試(shi)驗 第2部(bu)分：試(shi)驗方法(fa) 試(shi)驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定(ding)濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試(shi)驗 第2-66部分:試(shi)驗方法 試(shi)驗Cx:穩態(tai)濕熱(不(bu)飽合(he)加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環溫(wen)濕(shi)度偏置壽(shou)命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及(ji)偏壓測(ce)試(shi)
    JESD22-A102 加速(su)水汽抵抗(kang)性-無偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度(du)，偏置電(dian)壓，以及工作(zuo)壽命(ming)（IC壽命(ming)試驗）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應(ying)力試(shi)驗(yan)（HAST）
    JESD22-A118 加(jia)速水汽(qi)抵抗(kang)性--無(wu)(wu)偏(pian)壓HAST(無(wu)(wu)偏(pian)置電壓未(wei)飽和高壓蒸汽(qi))等(deng)

    舉例：

    適用(yong)范(fan)圍:  該(gai)試驗檢查芯(xin)片及其他產品材料長(chang)期貯存條件(jian)下，高溫和時間對器件(jian)的影響(xiang)。本規范(fan)適用(yong)于量產芯(xin)片驗證測試階(jie)段的HAST測試需求，僅針對非(fei)密封封裝(zhuang)（塑料封裝(zhuang)），帶偏(pian)置（bHAST）和不帶偏(pian)置（uHAST）的測試。
    溫(wen)度(du)、濕度(du)、氣壓、測試時間
    ? 通常選(xuan)擇HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。 
    ? 測(ce)(ce)試過程中(zhong)，建議(yi)調(diao)試階段監控(kong)芯(xin)片殼溫(wen)、功耗數(shu)據推算芯(xin)片結溫(wen)，要保證結溫(wen)不能(neng)過 高，并在測(ce)(ce)試過程中(zhong)定(ding)期記錄。結溫(wen)推算方法(fa)參考《HTOL測(ce)(ce)試技術規范》。
   ; ? 如果殼(ke)溫與環溫差值(zhi)或者功耗滿足下表(biao)三種關系(xi)時，特別是當殼(ke)溫與環溫差值(zhi)超過 10℃時，需考(kao)慮周(zhou)期性的電壓拉偏策略。
    ? 注意測試(shi)起始(shi)(shi)時間(jian)是(shi)從(cong)環(huan)境條件(jian)達到(dao)規定條件(jian)后開始(shi)(shi)計(ji)算；結束時間(jian)為開始(shi)(shi)降溫降壓操 作的時間(jian)點。

    電壓拉偏

    uHAST測試不帶電壓拉偏(pian)， 不需要關注該節(jie)；
    bHAST需要帶電壓拉偏 ，遵循以下原則：
    （1） 所(suo)有電(dian)源上電(dian)，電(dian)壓：推薦操(cao)作范圍電(dian)壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2） 芯(xin)片、材料(liao)功(gong)耗(hao)小（數字部分不翻轉、輸入晶振短接、其他(ta)降功(gong)耗(hao)方法）；
    （3） 輸入管腳在輸入電壓允許范圍內拉高。
    （4） 其他管腳，如時鐘端、復位端、輸出(chu)管腳在輸出(chu)范圍內隨機拉高或(huo)者拉低；

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