產品 · 詳情product details

: 設備用途Equipment use

HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設備，用于評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
該試(shi)(shi)驗(yan)(yan)檢查芯片及(ji)其他材料(liao)長期貯存條件下(xia)，高溫(wen)和(he)(he)時間對器件的(de)影(ying)響。本規(gui)范(fan)適(shi)用于量產芯片驗(yan)(yan)證測(ce)試(shi)(shi)階段的(de)HAST測(ce)試(shi)(shi)需求(qiu)，僅(jin)針對非密(mi)封(feng)封(feng)裝(zhuang)（塑料(liao)封(feng)裝(zhuang)），帶(dai)偏置（bHAST）和(he)(he)不帶(dai)偏置（uHAST）的(de)測(ce)試(shi)(shi)。
189-3856-3648

產品 · 特點Product features

標準設計更安全
內膽采用圓弧設(she)計防止結露滴水，符合國家安全(quan)容器規(gui)范；
多重保護功能
三道高(gao)溫保護(hu)裝置、濕度用水斷水保護(hu)與(yu)電熱斷水空焚保護(hu)、機(ji)(ji)臺停機(ji)(ji)時自動(dong)排(pai)除(chu)飽和(he)蒸氣壓力、氣動(dong)機(ji)(ji)構壓力保護(hu)等
穩定性更高
壓力值(zhi)采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值(zhi)準確度；
濕度自由選擇
濕度(du)自(zi)由(you)選(xuan)擇飽(bao)和(he)（100%R.H濕度(du)）與非飽(bao)和(he)（75%R.H濕度(du)）自(zi)由(you)設定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導出保存

HAST試驗箱

HAST試驗箱規格參數

滿足測試標準(zhun)

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試驗第2-66部分:試驗方法試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)