恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)實(shi)驗箱(xiang)亦(yi)稱“恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)試驗箱(xiang)、恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)機、高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)測(ce)試機、高(gao)低溫(wen)(濕(shi)熱)試驗箱(xiang)”等
溫度范圍:-70~150℃(可選:-60~150℃,-40~150℃)
升溫速(su)率:1~3℃/min(可定(ding)制)
降(jiang)溫(wen)速率:1℃/min 線性 (可(ke)定(ding)制)
濕度(du)范圍(wei):20%R.H~98%R.H
恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)(shi)(shi)實驗(yan)(yan)箱(xiang)亦(yi)稱(cheng)“恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)(shi)(shi)試驗(yan)(yan)箱(xiang)、高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)(濕(shi)(shi)(shi)熱)試驗(yan)(yan)箱(xiang)、高(gao)溫(wen)(wen)高(gao)濕(shi)(shi)(shi)試驗(yan)(yan)箱(xiang)等”,溫(wen)(wen)度(du)(du)范(fan)圍一般在-40℃~150℃,濕(shi)(shi)(shi)度(du)(du):20%~98%RH,是(shi)模擬(ni)產(chan)品在氣(qi)候環(huan)境溫(wen)(wen)濕(shi)(shi)(shi)組(zu)合條件下(高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)操作與儲存、溫(wen)(wen)度(du)(du)循環(huan)、高(gao)溫(wen)(wen)高(gao)濕(shi)(shi)(shi)、低(di)(di)溫(wen)(wen)低(di)(di)濕(shi)(shi)(shi)、結露試驗(yan)(yan)...等),檢測產(chan)品本(ben)身的適(shi)應能(neng)力與特性(xing)是(shi)否改變(bian)的測試設(she)備(bei)。而恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)(shi)(shi)培養箱(xiang)是(shi)植物(wu)、生(sheng)物(wu)、微(wei)生(sheng)物(wu)、遺傳、病毒、BOD檢測、醫學(xue)、環(huan)保(bao)等科(ke)研、教學(xue)部門不可缺少(shao)的實驗(yan)(yan)室設(she)備(bei),溫(wen)(wen)度(du)(du)范(fan)圍一般為5~50℃、濕(shi)(shi)(shi)度(du)(du)范(fan)圍:50%~95%RH。
大(da)型彩色液(ye)晶觸(chu)摸控(kong)制器(qi),側面纜線孔方(fang)便外部負載及內部數據連(lian)接,通過選購接口可進(jin)行網絡(luo)監控(kong);
專利外置(zhi)帶壓加(jia)濕(shi)系統,配合進(jin)口高品質蒸汽電磁閥,設備極(ji)限測試范圍可(ke)達95℃、98%R.H;
采(cai)用(yong)風量風速自動調節、高(gao)速處(chu)理溫(wen)度(du)控(kong)制器(qi)及(ji)電子膨脹閥(fa)等先進技(ji)術,實現(xian)線性(xing)控(kong)制精度(du);
低溫運行1000小時不(bu)結霜,保證長期連續(xu)運轉;
采用進(jin)口高(gao)(gao)精度(du)電容(rong)濕度(du)傳(chuan)感器,高(gao)(gao)精度(du)A級PT100,溫濕度(du)測量精度(du)更高(gao)(gao);
經國家環境試驗設備質量監督檢測檢測,符合“環境試驗設備技術條件”系列標準中的:
GB/T 2423.1-2008 電工(gong)電子產品(pin)環境試(shi)驗 第2部(bu)分(fen):試(shi)驗方法 試(shi)驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境(jing)試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定(ding)濕(shi)熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱 (12h+12h循環)
GB/T 2423.22-2002 電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品環(huan)境試(shi)驗 第2部分:試(shi)驗方法 試(shi)驗N:溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗
GB/T 2423.50-1999 電(dian)工電(dian)子產品環境試(shi)(shi)驗(yan) 第2部分(fen):試(shi)(shi)驗(yan)方法 試(shi)(shi)驗(yan)Cy:恒定濕熱主要用(yong)于元(yuan)件的加速試(shi)(shi)驗(yan)
GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB/T 10592-2008
高低溫試驗箱技術條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條(tiao)件
濕熱試驗(yan)標(biao)準介紹-GB/T 2423.4-2008
濕熱試(shi)驗標準介(jie)紹-GB/T 2423.3-2016環境(jing)試(shi)驗
信(xin)息技術設(she)備 室外安裝設(she)備安全試驗GB/T4943.22
GB/T 2424.1-2005 電工電子產品基本環(huan)境試驗 高(gao)溫低溫試驗導(dao)則
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