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瑞凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試驗箱_冷熱沖擊試驗箱
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恒溫恒濕試驗箱
  • 可程式恒溫恒濕試驗箱
可程式恒溫恒濕試驗箱

品(pin)牌:Riukai/瑞(rui)凱儀(yi)器

內箱(xiang)大小(標(biao)準(zhun)):100L/150L/225L/408L/800L/1000L(可非(fei)標(biao)定制更多尺寸)

溫度范圍(可選):低溫-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃;高溫+150℃(可定(ding)制180℃、250℃、350℃)

濕度范圍(可選):10%~98%R.H、20%~98%R.H

應用范圍(wei):電子(zi)產品(pin)、光伏照明、LED、汽車零部件、電路板集(ji)成電路、軍工產品(pin)、化學(xue)品(pin)等(deng)

產品 · 詳(xiang)情product details

可程式恒溫恒濕試驗箱生產廠家

設備用途Equipment use

可程(cheng)式恒(heng)(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)(heng)濕(shi)試驗(yan)箱是測試產(chan)(chan)品(pin)、零部件及(ji)材料(liao)在濕(shi)熱(re)環境下貯存(cun)、運輸、使用(yong)時的適(shi)應(ying)性能,如(ru):高溫(wen)、低(di)溫(wen)、濕(shi)熱(re)度或恒(heng)(heng)(heng)定等條件下檢測產(chan)(chan)品(pin)耐(nai)高溫(wen)、耐(nai)低(di)溫(wen)、耐(nai)潮濕(shi)循環試驗(yan)的儀(yi)器設備。對應(ying)于汽車零件(例(li)如(ru),車載(zai)鋰離子電(dian)池(chi)模(mo)塊,電(dian)動渦輪增壓器,中冷器,散熱(re)器和(he)車載(zai)逆變器),電(dian)子電(dian)器(例(li)如(ru),ECU,PCU)、集成電(dian)路、LED燈(deng)等產(chan)(chan)品(pin)的可靠性評估測試。


準時交貨準時交貨率高達99%

產品 · 特點Product features

  • 設計編程控制

    7英(ying)寸寬彩色LCD可編(bian)程控制系統,具有制冷PID控制和高速處理(li)能力;

  • 安全遠程監控

     局域網監控設(she)備的(de)運行狀態,更(geng)改程序設(she)置,啟動/停(ting)止操作(zuo)等;

  • 穩定測試下載

     通過將測試條(tiao)件(jian)程序模式下載到連接到設備的PC來(lai)執行(xing)測試條(tiao)件(jian);

  • 選擇高性能

     恒溫恒濕試驗箱極限試驗范圍(wei)可達(da)95℃、98%R.H;

  • 智能定制生產

    可以(yi)滿足門的規格(ge)、制冷(leng)方式、供水和(he)語言(yan)選擇(ze)等定制需求(qiu)。

瑞凱可程式恒溫恒濕試驗箱

瑞凱可程式恒溫恒濕試驗箱


經國家環境試驗設備質量監督檢測檢測,符合“環境試驗設備技術條件”系列標準中的:
    GB/T 2423.1-2008 電工(gong)電子(zi)產品(pin)環境試(shi)驗(yan) 第2部分:試(shi)驗(yan)方法 試(shi)驗(yan)A:低溫
    GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
    GB/T 2423.3-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境(jing)試驗(yan) 第2部分:試驗(yan)方法 試驗(yan)Cab:恒定(ding)濕(shi)熱
    GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱 (12h+12h循環)
  ;  GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環(huan)境試驗 第(di)2部分(fen):試驗方(fang)法 試驗N:溫(wen)度(du)變(bian)化
    GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗
    GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chan)品(pin)環境試(shi)驗 第2部分:試(shi)驗方法 試(shi)驗Cy:恒定濕熱主要(yao)用于元件(jian)的加速試(shi)驗
    GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
    GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
    GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
    GB/T 11158-2008 高溫試(shi)驗箱技術條件(jian)

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