1、范圍
本試驗適用于所有(you)固態(tai)樣品的(de)評估、篩選、監測和/或(huo)鑒定。高溫貯(zhu)存(cun)(cun)試(shi)驗(yan)通常用(yong)(yong)于確定貯(zhu)存(cun)(cun)條件下時間(jian)和溫度對熱(re)故障(zhang)(zhang)機制(zhi)的影響，以及固態電子(zi)設(she)備(bei)（包括(kuo)非易(yi)失(shi)性(xing)存(cun)(cun)儲設(she)備(bei)）的時間(jian)-故障(zhang)(zhang)分布（數(shu)據(ju)保留故障(zhang)(zhang)重建機制(zhi)）。在(zai)試(shi)驗(yan)過程中，在(zai)不(bu)施加(jia)(jia)電氣(qi)條件的情況下，使用(yong)(yong)加(jia)(jia)速應力(li)溫度，根(gen)據(ju)時間(jian)、溫度和包裝(zhuang)（如有），利用(yong)(yong)阿倫尼烏斯加(jia)(jia)速方程建立(li)了熱(re)失(shi)效機理模型(xing)。
本(ben)試驗可能具有破壞性。
2、參(can)考標準(zhun)
JEP122 半導體器(qi)件(jian)的失效機理(li)和(he)模型。JESD22-A113 可(ke)靠(kao)性測(ce)試前非密封表面貼裝裝置的(de)預處理
JESD22-B101 外部目(mu)檢
JESD47 集成電路應力測試驅(qu)動的鑒定
JESD94 基(ji)于知識的(de)測(ce)試方法進(jin)行特定應用的(de)資格鑒定
J-STD-020 IPC/JEDEC聯合標準，非密(mi)封(feng)固態表面(mian)貼裝(zhuang)設備的濕(shi)度(du)/回流敏感性分類(lei)。
3、試驗儀器
3.1 高低(di)溫試驗(yan)(yan)箱(xiang)：本試驗(yan)(yan)所需的裝置(zhi)應包括一個(ge)(ge)可在整個(ge)(ge)試驗(yan)(yan)樣品群中保持規定溫度的受控溫度試驗(yan)(yan)箱(xiang)。3.2 電性測試(shi)設(she)備：能夠對被測樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)適(shi)當測量的電氣設(she)備，包(bao)括寫(xie)入和驗證非易失(shi)性存儲(chu)器所需的數據(ju)保持模式。
4、程序(xu)
4.1高溫貯存(cun)條件試驗中的樣(yang)品應(ying)在表(biao)1中的某(mou)一(yi)溫度條件下進行連續(xu)貯存(cun)。
至少(shao)應考慮以(yi)下項目∶
1）存在金屬的熔點，尤(you)其(qi)是(shi)焊料。金屬降(jiang)解(jie)，包括冶(ye)金界面。
2）包裝退化。例如∶任何聚合物材料的玻璃化轉變溫度和熱穩定性（在空氣中）。
3）包裝的濕度等級（根據J-STD-020 ）
4）硅器件的溫度限制。例如︰非易失性存儲器中的電荷損失。
5）應選擇試驗條件（溫度、時間），以涵蓋相應失效機制的加速應力和樣品的預期壽命（運行時間）。
JESD47和可靠性監測協議(yi)等資格文件應提供表1所述應力(li)條件的(de)應力(li)持續(xu)時(shi)間。1000小時(shi)是條件B的(de)典(dian)型(xing)持續(xu)時(shi)間。其他條件和持續(xu)時(shi)間可酌情使用。JESD47還建議(yi)一些包裝類型(xing)在應力(li)前接受SMT回(hui)流模擬。
或者，應(ying)用基于jesd94提供的(de)使用期限的(de)測試(shi)方法和對可靠性模型及失效機制的(de)理解（jep122），可以(yi)為(wei)表1中的(de)任(ren)何選定(ding)(ding)應(ying)力(li)條(tiao)件提供試(shi)驗(yan)持續時(shi)(shi)間。樣品可返(fan)回到室(shi)溫或任(ren)何其(qi)他規定(ding)(ding)的(de)臨時(shi)(shi)電(dian)性測量溫度。
4.2 測量
除(chu)(chu)非另有規(gui)定(ding)(ding)，臨(lin)時(shi)和終電性測量應(ying)在樣品從規(gui)定(ding)(ding)試驗條件中(zhong)移出(chu)(chu)后(hou)168小時(shi)內完成。除(chu)(chu)非另有規(gui)定(ding)(ding)，臨(lin)時(shi)測量是可選的。如果(guo)(guo)提供給定(ding)(ding)技術的驗證數據，則不需要滿足時(shi)間窗口。如果(guo)(guo)超過了終的讀取點時(shi)間窗口，則單位(wei)可能會(hui)在超出(chu)(chu)該窗口的相同(tong)時(shi)間內被(bei)重新加載。電性(xing)(xing)測(ce)量(liang)應包括采購文件中(zhong)規(gui)定的(de)參數測(ce)量(liang)和(he)功能測(ce)量(liang)。對于(yu)非(fei)易失(shi)性(xing)(xing)存儲器(qi)，必須(xu)首先寫(xie)入(ru)數據(ju)(ju)指定的(de)數據(ju)(ju)保留模式，然后在(zai)不(bu)重(zhong)新寫(xie)入(ru)的(de)情況下(xia)進行驗證。
4.3失效標準(zhun)
如果(guo)超出參(can)數限制(zhi)，或在(zai)采購文件中規定(ding)的額定(ding)和壞情(qing)況下(xia)無(wu)法實現功能，則設備將被(bei)視為高溫貯儲(chu)故障。對于非易失性存儲(chu)器(qi)，應在(zai)存儲(chu)前后驗證規定(ding)的數據保留(liu)(liu)模式。裕度測試可用于檢測數據保留(liu)(liu)退化。
機械損傷(shang)，如塑(su)封(feng)破裂、碎(sui)裂或(huo)破裂（如JESD22-B101中(zhong)所定義）將被視為故障，前提是此類損傷(shang)不是由固定裝置或(huo)搬運引起(qi)的，并且對特定應用中(zhong)的塑(su)封(feng)性能至關重(zhong)要。
外觀(guan)包裝(zhuang)缺(que)陷、鉛表面處理退化或可焊性不被視為該應(ying)力的有效失效標準(zhun)。
5、總結
采購文件(jian)中應規(gui)定(ding)以下細(xi)節(jie)︰電性(xing)測量、故障標準和規范
樣本大小和失敗(bai)次數（如果(guo)未觀察到，則指定為零）
表1規定的條件和(he)應力持續時間
臨時電性測(ce)量（如需要(yao)）
非易失性存儲器數據保(bao)持模式(shi)（適(shi)用于(yu)適(shi)當的設備(bei)）
