瑞凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試驗箱_冷熱沖擊試驗箱
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HAST設備

HAST設備

產(chan)品特(te)點：

可定制BIAS偏壓端子組(zu)數(shu)，提(ti)供產品通(tong)電測試

通過電腦安全便捷(jie)的遠程訪問

多層級(ji)的敏感數據保護

便(bian)捷的程(cheng)序入口、試驗(yan)設(she)置和產品監控(kong)

試驗數據(ju)可以導出為Excel格式并通過USB接口(kou)進(jin)行傳輸

可提供(gong)130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件

服務熱線： 400-088-3892
產品簡介 / Introduction

產品 · 詳情product details

HAST

設備用途Equipment use

HAST設備(bei)用于評估非氣(qi)密性(xing)封(feng)裝IC器件(jian)、金(jin)(jin)屬材料(liao)(liao)等在(zai)濕(shi)度環境下的(de)可(ke)靠性(xing)。通過溫(wen)度、濕(shi)度、大(da)氣(qi)壓(ya)力條件(jian)下應用于加速(su)濕(shi)氣(qi)的(de)滲透，可(ke)通過外(wai)部保護材料(liao)(liao)（塑封(feng)料(liao)(liao)或封(feng)口），或在(zai)外(wai)部保護材料(liao)(liao)與(yu)金(jin)(jin)屬傳(chuan)導(dao)材料(liao)(liao)之間界(jie)面。它采用了嚴格的(de)溫(wen)度，濕(shi)度，大(da)氣(qi)壓(ya)、電壓(ya)條件(jian)，該條件(jian)會加速(su)水分滲透到(dao)材料(liao)(liao)內部與(yu)金(jin)(jin)屬導(dao)體之間的(de)電化學反應。失效機制：電離腐蝕，封(feng)裝密封(feng)性(xing)。


準時交貨準時交貨率高達99%

產品 · 特點Product features

  • 設計三種控制模式

    不飽(bao)(bao)和控(kong)制(zhi)(zhi)(干濕(shi)球溫度控(kong)制(zhi)(zhi))、不飽(bao)(bao)和控(kong)制(zhi)(zhi)(升溫溫度控(kong)制(zhi)(zhi))、濕(shi)潤飽(bao)(bao)和控(kong)制(zhi)(zhi)。

  • 安全多重保護功能

     各種超壓(ya)超溫(wen)、干燒漏電及(ji)誤操作等(deng)多重(zhong)人(ren)機保護；

  • 穩定可帶電測試

     可定制BIAS偏壓端子組數(shu)，提(ti)供產品通電測試； 

  • 選擇濕度自由選擇

    飽和(he)（100%R.H濕度）與非飽和(he)（75%R.H濕度）自由設(she)定；

  • 智能智能化高

    支持電腦連接，
    利用USB數據、
    曲(qu)線導出保存

HAST高壓加速老化試驗箱

HAST試驗箱參數規格


    滿足測試標準

    GB-T 2423.40-1997 電工(gong)電子產(chan)品(pin)環(huan)境試(shi)驗(yan)(yan) 第(di)2部分：試(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)驗(yan)(yan)Cx：未飽和高(gao)壓蒸汽恒(heng)定濕(shi)熱
   ; IEC 60068-2-66-1994 環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan) 第(di)2-66部分:試(shi)驗(yan)方法 試(shi)驗(yan)Cx:穩態濕(shi)熱(不飽合(he)加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環溫濕度偏(pian)置壽命
    JESD22-A101 THB加(jia)速式溫(wen)濕度及偏壓測試
    JESD22-A102 加速水汽(qi)抵抗性(xing)-無偏置高(gao)壓(ya)蒸(zheng)煮
    JESD22-A108 溫度，偏(pian)置電(dian)壓，以及(ji)工(gong)作壽命（IC壽命試(shi)驗）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
    JESD22-A118 加速(su)水汽(qi)抵(di)抗(kang)性--無偏壓(ya)HAST(無偏置(zhi)電(dian)壓(ya)未飽和高壓(ya)蒸汽(qi))等

    舉例：

    適用(yong)范圍(wei):  該試(shi)驗檢查(cha)芯片及其他(ta)產品材料長期(qi)貯存條(tiao)件下(xia)，高溫和時間對(dui)器件的(de)影(ying)響。本(ben)規范適用(yong)于量產芯片驗證測試(shi)階段的(de)HAST測試(shi)需(xu)求，僅針對(dui)非密封封裝（塑料封裝），帶(dai)偏(pian)置（bHAST）和不帶(dai)偏(pian)置（uHAST）的(de)測試(shi)。
    溫度、濕度、氣壓、測試時(shi)間
    ? 通常(chang)選(xuan)擇(ze)HAST-96，即(ji)：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間(jian)。 
    ? 測(ce)試(shi)過(guo)(guo)程(cheng)中，建議調試(shi)階段監控芯片(pian)殼溫、功耗數據推算芯片(pian)結溫，要保證結溫不能過(guo)(guo) 高，并在測(ce)試(shi)過(guo)(guo)程(cheng)中定期記錄。結溫推算方(fang)法參考《HTOL測(ce)試(shi)技術(shu)規范》。
    ? 如果殼(ke)溫(wen)與環溫(wen)差值或者功耗滿足(zu)下(xia)表三種關系時，特別是(shi)當(dang)殼(ke)溫(wen)與環溫(wen)差值超過(guo) 10℃時，需考慮周期性的(de)電壓拉偏(pian)策略。
    ? 注意測(ce)試起始時間是從環境條件達到(dao)規定(ding)條件后(hou)開始計算；結束時間為開始降(jiang)溫(wen)降(jiang)壓操 作的(de)時間點(dian)。

    電壓拉偏

    uHAST測試不帶電壓拉偏， 不需要關注該節；
    bHAST需(xu)要帶電壓拉偏 ，遵循(xun)以下原則：
    （1） 所有電(dian)(dian)源上電(dian)(dian)，電(dian)(dian)壓：推薦操(cao)作(zuo)范圍(wei)電(dian)(dian)壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2） 芯(xin)片(pian)、材料功(gong)耗小（數字(zi)部分不翻轉、輸(shu)入晶振短(duan)接、其他降功(gong)耗方法）；
    （3） 輸入(ru)管腳在(zai)輸入(ru)電壓(ya)允許范(fan)圍內拉高。
    （4） 其他管(guan)腳，如時鐘端(duan)、復(fu)位(wei)端(duan)、輸出管(guan)腳在輸出范圍內隨(sui)機拉高或(huo)者拉低；

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HAST試驗箱

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產品特點：用戶可以查看他們希望查看任何數據通過電腦安全便捷的遠程訪問多層級的敏感數據保護便捷的程序入口、試驗設置和產品監控試驗數據可以導出為Excel格式并通過USB接口進行傳輸HAST測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。
快速溫度變化試驗箱

快速溫度變化試驗箱

產品特點：·多層級密碼安全保護系統來保護用戶的寶貴數據·可以使用電子表格格式下載試驗數據·產品溫度控制：通過提高環境空氣目標溫度來控制產品溫度，進而提高產品溫度變化率·系統監控：檢測制冷系統的壓力和溫度是否過高，并在故障出現時提醒用戶控制器程序編輯·在單一界面完成程序的所有編輯和查看在單一界面完成程序的所有編輯和查看工作·支持線性溫度控制
步入式高低溫濕熱試驗箱

步入式高低溫濕熱試驗箱

品牌：RIUKAI產地：廣東·東莞內箱容積：17000L（可定制）溫度范圍：-40℃～+150℃（可定制低溫-70℃、-60℃、-20℃等）濕度范圍：20%～98%RH（可定制5%~98%RH、10%~98%RH）步入式高低溫濕熱試驗箱是用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬測試的儀器。
冷熱沖擊試驗箱

冷熱沖擊試驗箱

高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃（非標可定制180℃、200℃）低溫槽溫度范圍：A(-55℃～-10℃);B(-65℃～-10℃);C(-80℃～-10℃)升溫時間：+60℃～+200℃≤35min降溫時間：A(+20℃～-55℃)≤70min;B(+20℃～-65℃)≤80min;C(+20℃～-80℃)≤90min試驗方式：氣動切換，吊籃移動式沖擊恢復時間：≤5min吊籃移動時間：10S以內

東莞市瑞凱環境檢測儀器有限公司 版權所有

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