熱門關鍵詞： 高低溫試驗箱 可程式恒溫恒濕試驗箱 PCT高壓加速老化試驗機 無風烤箱 鹽霧試驗箱
TCT溫度(du)循環測試(shi)箱標準機型有：100L、150L、225L、408L、800L、1000L的(de)內箱尺寸(cun)；
備(bei)注：50L~100L及1000L以上是非標定制(zhi)產(chan)品(pin)，具體規格參數以方案書為準。
低溫可選：-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20 ℃、0℃和常(chang)溫；
高溫(wen)可選：+150℃、+180℃、+200℃；
濕度范圍有：20%~98%RH（非標(biao)可選：5%~~98%RH、10%~98%RH）
TCT溫度循環測試箱適(shi)合電(dian)子元器件(jian)，半導體IC、芯片、光伏組件(jian)，電(dian)器，食品，車(che)輛，金(jin)屬，化學，建材等工廠(chang)，科(ke)研(yan)單位(wei)，院(yuan)校之(zhi)用(yong)。
TCT溫(wen)(wen)度循環(huan)測(ce)試(shi)箱（Temperature Cycling Test）是利用(yong)(yong)高溫(wen)(wen)低溫(wen)(wen)循環(huan)變化(hua)測(ce)試(shi)來(lai)評估電子元器件、半導體、IC芯(xin)片等(deng)(deng)產品(pin)對(dui)溫(wen)(wen)度變化(hua)的抵抗能力。主要是利用(yong)(yong)高溫(wen)(wen)低溫(wen)(wen)循環(huan)變化(hua)，來(lai)測(ce)試(shi)電子元器件、半導體、IC芯(xin)片等(deng)(deng)產品(pin)上各層不同物質之熱膨(peng)脹(zhang)俘(fu)數不同，而可能引起之故(gu)障(zhang)機(ji)制。在此(ci)測(ce)試(shi)中因所用(yong)(yong)之溫(wen)(wen)度介質為氣相，故(gu)一般(ban)亦稱為air to air測(ce)試(shi)。
滿足GB/T2423.1(IEC60068-2-1)；GB/T2423.2(IEC60068-2-2)；
ISO16750；GB/T14710；GB/T13543；
JESD22等系列標(biao)準中的溫度試驗(yan)。
準時交貨率高達99%
高度穩定
恒(heng)定狀(zhuang)態波動低(di)于(yu)±0.3℃；
極限低溫
超低溫試(shi)驗(yan)可達-85℃，亦可做(zuo)液氮(dan)控溫，低溫可達-200℃；
控制器
控制(zhi)器具(ju)有可進行(xing)可靠性(xing)試驗(yan)用的(de)恒(heng)定(ding)值運(yun)轉設定(ding)，還有針對溫(wen)度特性(xing)試驗(yan)用的(de)溫(wen)濕度組合交變等的(de)編(bian)程設定(ding)功能(neng) 。
濕度范圍廣
高性能設備極限(xian)達95℃98%R.H
現場報警
現場(chang)溫濕度(du)偏(pian)差聲光報警(jing),獨立超溫報警(jing)
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