一、測試裝置及條件
二、測試內容
三、測試結果
1、電(dian)容(rong)屏測試(shi)前后的基本性能(neng)
2、電容屏測試后的基本(ben)性能(neng):
經(jing)過(guo)1000小時(shi)的(de)(de)“雙(shuang)(shuang)85”測(ce)試(shi)后,電容屏依然保持原有的(de)(de)性(xing)能特性(xing),環測(ce)前后數(shu)值變(bian)化在(zai)10%以(yi)內(nei)(nei),1000小時(shi)的(de)(de)高溫高濕環測(ce)的(de)(de)TP測(ce)試(shi)功(gong)能數(shu)據對(dui)比(bi)和環測(ce)前測(ce)試(shi)功(gong)能的(de)(de)數(shu)據對(dui)比(bi)都在(zai)要求范圍內(nei)(nei),證(zheng)明(ming)透(tou)明(ming)導電膜材料(liao)制成(cheng)的(de)(de)TP可以(yi)通過(guo)環測(ce)1000小時(shi)“雙(shuang)(shuang)85”項(xiang)目,性(xing)能穩定可靠。

環測(ce)前后數(shu)值變化(hua)在10%以內
