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電子元器件壓力蒸煮試驗

一、工作原理:

將被試元器件放入密封高壓加速老化試驗箱,試驗箱中加入幾個大氣壓的蒸汽強迫濕氣進入元器件的封裝層中,以此來評價元器件的防潮性能,使用這種方法與恒溫、恒濕試樣方法相比較,能在短得的多的時間內對元器件性能作出評價,使元器件的防潮性能在研制階段便可清楚。

二、主要用途:

采用加速方式來檢驗器件耐濕、耐熱的能力及可靠性水平。

三、試驗儀器:

R-HAST-350高壓加速(su)老化試驗箱(121℃0. 215Mpa)TVR6000 綜測(ce)儀(yi)

四、操作規范:

4.1要(yao)嚴格按照R-HAST-350高(gao)壓加速老化試驗箱“技術說明書”操作順序操作。

4.2常規(gui)產(chan)品規(gui)定每(mei)季(ji)度做一次周(zhou)期試驗,試驗條件及判據采用(yong)或等(deng)效采用(yong)產(chan)品標準(zhun);新產品、新工藝、用戶特殊要求產品等按計劃進行。

4.3采用(yong)LTPD的抽(chou)樣方法,在次(ci)試驗不合格(ge)時,可采用追加樣品抽(chou)樣方法或(huo)采用篩選方法重新(xin)抽(chou)樣,但無論何種方法只能重新抽樣或追加一次。

4.4LTPD=10%,則(ze)抽22只(zhi),0 1退,追加抽樣為38只(zhi),1 收(shou) 2退(tui)。抽樣必須在0QC檢驗合格(ge)成(cheng)品中抽取。

五、環境條件

(1)標準狀(zhuang)態

標準狀態是指預處理,后續處理及試驗中的環境條件。論述如下: .

環境溫度: 15~35 

相對濕度:  4575%

(2)判(pan)定狀態

判定狀態是指初測及終測時的環境條件。論述如下:

環境溫度:  25±3

相對濕度:  4575%

六、試驗條件及判據:


蒸煮試驗

七、注意事項:

①每次做試驗合上槽蓋以前(特別是在循環做試驗情況下),務必檢查槽內水量;
②務必保持槽內清潔,經常去除槽內污物;
③此試驗臺時間設定(ding)較短,務必(bi)注意(yi)時間的(de)再(zai)設定(ding)。 

八、高壓加速老化試驗箱簡介:

HAST高壓加速老化試驗箱是使用(yong)在加(jia)(jia)(jia)壓(ya)和(he)溫(wen)度(du)受控的(de)環境(jing)中施(shi)加(jia)(jia)(jia)過熱蒸汽的(de)非冷凝(不(bu)飽和(he)方法),將外部保護材(cai)料(liao)、密封劑(ji)或外部材(cai)料(liao)和(he)導(dao)體之(zhi)間通過加(jia)(jia)(jia)速水分(fen)滲透的(de)作用(yong)進(jin)行試驗;一般是在設(she)定(ding)的(de)溫(wen)度(du)和(he)濕度(du)條件(jian)下連(lian)續(xu)施(shi)加(jia)(jia)(jia)壓(ya)力(li)來(lai)完成的(de)。本(ben)設(she)備廣泛用(yong)于IC半導(dao)體、連(lian)接器、線路板、磁(ci)性材(cai)料(liao)、高分(fen)子材(cai)料(liao)、EVA、光伏組件(jian)等(deng)行業相關之(zhi)產品作加(jia)(jia)(jia)速老化壽(shou)命試驗。

HAST高壓加速老化試驗箱

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