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手機數據線可靠性測試

1、范圍

本標(biao)準(zhun)規定了(le)手機數(shu)據線需要滿足(zu)的可靠性能要求,以(yi)及其試驗方法(fa)及質(zhi)量評定標(biao)準(zhun)。
本標準(zhun)適用于(yu)新產品開發及生產和出貨過程中數(shu)據(ju)線樣品的確認、周期性(xing)質量(liang)監控、出貨可靠性(xing)能檢(jian)測標準(zhun)。

2、檢測項日(ri)與要求

2.1常規(gui)性(xing)能指標(biao)
2.1.1搖擺(bai)試驗
a)測試(shi)區(qu)域(yu):數(shu)據線(xian)插頭網(wang)尾處。
b)測試條件:搖擺(bai)試驗機(要求:當(dang)導線開路時能(neng)夠自(zi)動停止:能(neng)夠數顯白動計數)。
c)測試要(yao)求:
1)對要進行測試部(bu)分引(yin)(yin)出處(chu)的母體(插頭(tou))固定,使(shi)引(yin)(yin)出線采(cai)直朝下。
2)負載100g,擺動角度+60°、25 次(來回) 1分鐘,搖擺半徑(jing)800mm,擺動1000次;
d)測試結果:試驗(yan)完后對線體進(jin)行導通性測試,不應出現開路、短路等電性能不良。


手機數據線可靠性測試

2.1.2鹽(yan)霧(wu)測試(shi)
a)測試區(qu)域:數據線五金電鍍插頭
b)測(ce)試(shi)條(tiao)件: 1.實(shi)驗(yan)溶液: 濃度為5%的Nacl溶液,PH值6.5-7.2;
2.實驗箱溫度(du): 35±1℃, 壓力桶(tong)溫度(du): 47±1℃;
3.噴霧壓力: 1.0+0.01kg/cm2 ;
4.噴霧時間(jian): 24H。 
c)測(ce)試結果:試驗完后,被測(ce)試物體表面不可(ke)有腐蝕(shi)及生銹現象,具體判(pan)定標(biao)準見《鹽霧實驗標(biao)準》
2.1.3拉力(li)測(ce)試(shi)
a)測試(shi)區(qu)域:數據線(xian)線(xian)體(ti)
b)測(ce)試條件:將被測(ce)數據線-端固定并(bing)垂直朝下(xia),另一端加2kg砝碼(ma),靜止受力1分鐘。
c)測試結果:數據(ju)線不可有斷路等(deng)電(dian)性能不良。
2.1.4插拔壽命測試
a)測(ce)試區(qu)域:插(cha)頭。
b)測試條件:適配(pei)的插頭母座
c)測(ce)試要求(qiu):
1)將數據線插(cha)座固定,插(cha)頭插(cha)進(jin)、拔出算(suan)一次(ci), 作插(cha)拔試驗3000次(ci);
2)試驗過程(cheng)中1000 次(ci)、2000次(ci)、3000次(ci)左(zuo)右對數(shu)據線插頭(tou)進行外觀和功能檢測(ce)一次(ci);
3)試驗后檢查(cha)數據線(xian)插頭的外觀和功能,插頭不(bu)得出(chu)現斷裂,插頭插入(ru)母(mu)座時(shi)不(bu)得出(chu)現松(song)動(應(ying)可以承受住手機本身的重量(liang)) , 數據線(xian)同手機連接可正常充電及下載。
2.1.5高(gao)溫貯存試驗
a)測試區域:數據(ju)線整(zheng)體。
b)測試條件:恒溫恒濕試驗箱
c)測(ce)試要求:
1)調節恒(heng)溫恒(heng)濕試驗箱溫度(du),逐步升高至(zhi)60℃ (±2℃), 溫度(du)穩定后持續(xu)24h;
2)試驗(yan)完成(cheng)后將(jiang)數據(ju)線從(cong)試驗(yan)箱中取(qu)出,取(qu)出后在(zai)常溫下(xia)恢(hui)復2小時后無變色等現象,進行電性能測試正(zheng)常。
2.1.6低溫(wen)貯存試驗
a)測試區城:數據線整(zheng)體(ti)。
b)測(ce)試(shi)條件(jian):恒溫(wen)恒濕試(shi)驗箱(xiang)。
c)測試要(yao)求: 
1)調節恒溫恒濕試驗箱(xiang)溫度,逐步(bu)升高全-20℃ (±2℃) ,溫度穩定后(hou)持續24h;
2)試驗完(wan)成后將數據線從試驗箱中取出(chu),取出(chu)后在常溫下恢復2小時后無變色等現象,進(jin)行電性能測(ce)試正常。
2.1.7恒(heng)定濕(shi)熱試驗
a)測(ce)試區域:數據(ju)線(xian)整體。
b)測試(shi)條件:恒(heng)溫恒(heng)濕試(shi)驗箱。
c)測試要求:
1)啟(qi)動(dong)恒溫(wen)恒濕試驗箱(xiang)(xiang)電源使箱(xiang)(xiang)內(nei)溫(wen)度達到(dao)40℃(±2℃) , 相對(dui)濕度達到(dao)90%~95%,溫(wen)度穩定后持(chi)續24h; 
2)試驗(yan)完(wan)成后(hou)(hou)將數據線從(cong)試驗(yan)箱中取(qu)出(chu),取(qu)出(chu)后(hou)(hou)在(zai)常溫下恢(hui)復2小時(shi)后(hou)(hou)外觀檢查無變(bian)色等現象,進(jin)行電性(xing)能測試正常。
2.1.8高低(di)溫循環試驗
a)測試區域:數據線(xian)整體(ti)。
b)測試條件:溫度沖擊試驗箱
c)測試要求:
1)將低溫(wen)(wen)試驗箱調(diao)到(dao)(dao)規定的(de)貯(zhu)存溫(wen)(wen)度(du)-20℃ (±2℃) , 高溫(wen)(wen)試驗箱調(diao)到(dao)(dao)規定的(de)高溫(wen)(wen)貯(zhu)溫(wen)(wen)度(du)50℃ (±2℃) ;
2)數(shu)據線放入低(di)溫箱(xiang)中,在(zai)規(gui)(gui)定的貯存溫度(du)下持續1h后,在(zai)5min內(nei)將試(shi)驗樣品移到(dao)高溫箱(xiang)內(nei),在(zai)規(gui)(gui)定的貯存溫度(du)下保持1h, 如此循環三次;
3)試驗(yan) 完(wan)成(cheng)后(hou)將數據線從試驗(yan)箱中取出(chu),取出(chu)后(hou)在常溫下恢(hui)復2小(xiao)時后(hou)外觀檢查無變色(se)等現象,進行電性能測試正(zheng)常。

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