筆記本電腦可靠性檢測方案
作者：
salmon范
編輯(ji)：
瑞(rui)凱儀器
來源：
bibil.cn
發(fa)布日期： 2020.10.23
筆記本電(dian)腦(nao)在生產、投(tou)入量產、投(tou)入市場前均要進行可(ke)靠性檢測，那么筆記本電(dian)腦(nao)有哪(na)些可(ke)靠性檢測項目呢？
恒溫恒濕箱：整機耐濕熱、高溫老化、冷溫儲存試驗，-40 ℃～+150 ℃，30～98% R.H.。
冷熱沖擊箱：用于產品研發，整機、電路板及電子元件篩選，低溫 -65 ℃，高溫 150 ℃。
靜電(dian)放電(dian)發生器(qi)：用(yong)(yong)于(yu)產品研發，電(dian)路(lu)板上電(dian)子元件在儲運、裝配及較為干燥環境(jing)使用(yong)(yong)時，可能因靜電(dian)導(dao)致損(sun)壞，靜電(dian)電(dian)壓 20 KV (正、負)。
鹽(yan)霧試(shi)驗箱：用(yong)于模擬筆記本(ben)電(dian)腦真實使用(yong)情況耐汗、潮(chao)濕及含鹽(yan)環(huan)境(jing)。
紫外(wai)(wai)燈（UV）試(shi)驗箱：用于模擬手(shou)機(ji)曝曬環境，筆記本電腦放(fang)在(zai)烈日下的汽車里、郊外(wai)(wai)、沙灘使用時遇到的情況。
防(fang)塵(chen)試驗(yan)箱：用(yong)于(yu)模擬(ni)筆記本電腦在沙漠地(di)帶(dai)、多沙、多塵(chen)等惡劣(lie)環境的(de)使用(yong)情況。
落球沖(chong)擊(ji)試驗機：用(yong)于筆記本電腦外殼(ke)涂料及殼(ke)體抗(kang)沖(chong)擊(ji)測試，鋼球重量(liang) 100、200、300、500、1000、2000g 沖(chong)擊(ji)高度200~2000mm。
振動(dong)試(shi)驗(yan)：用于產品(pin)(pin)研發，模擬產品(pin)(pin)在運輸過(guo)程中的(de)振動(dong)環(huan)境，提(ti)前發現產品(pin)(pin)設計及裝配過(guo)程存在的(de)缺(que)陷，頻率(lv) 5000 Hz，位移 25 mm，電腦(nao)控制。
印刷體耐(nai)磨(mo)擦試(shi)(shi)驗機：用于筆記(ji)本電腦(nao)表面(mian)噴涂耐(nai)磨(mo)、劃(hua)痕性能測(ce)試(shi)(shi)，介質酒(jiu)精棉布、鉛(qian)筆、橡皮擦 荷重 80 ～ 1000 克。
按(an)鍵壽命(ming)測(ce)(ce)試機：用于筆(bi)記(ji)本(ben)電腦鍵盤之疲勞測(ce)(ce)試，荷重(zhong) 80 克～500 克。
NOTE-BOOK 轉軸(zhou)壽命試驗機：用(yong)于筆記本(ben)電腦轉軸(zhou)疲勞壽命測(ce)試，角度 5～ 1800，速(su)率 5～15 次(ci)。
混合記錄儀：用于測試筆記本電(dian)腦研發，測量電(dian)腦運行時多個部件溫度、電(dian)壓、電(dian)流等(deng)特性變化(hua)。
插拔力(li)測試機：用(yong)于筆記本電腦 USB、1394、音頻輸(shu)出端、電源(yuan)適配器輸(shu)入端及外(wai)掛設備連接(jie)端等(deng)端口插入、拔出力(li)疲勞測試等(deng)，速率
10～60 次/min，數顯(xian)荷(he)重(zhong)容量(liang) 50Kg。
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