高溫高濕試驗箱對光伏組件PID測試的必要性
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瑞凱儀(yi)器
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發(fa)布日期： 2021.05.14
01、引(yin)言(yan)
近十年，光伏組件PID（Potential Induced Degradation，電勢誘導衰減）效應導致組件功率大幅衰減的現象一直是業內人士關注的焦點，東莞市瑞凱環境檢測儀器有限公司是光伏組件PID測試設備——高溫高濕試驗箱生產廠家，也在不斷地對各種類型光伏組件的PID效應進行測試和研究，為光伏組件供應商提供更合理的PID測試解決方案。瑞凱儀器具有強大的PID測試設備研發能力，同時也提供潮濕滲透試驗設備，為客戶提供高效的測試服務。
02、什(shen)么(me)是PID測試？
光伏組(zu)(zu)件(jian)PID測試是指(zhi)在高(gao)溫(wen)高(gao)濕環境下(xia)（ 85℃和85%RH ）給組(zu)(zu)件(jian)內部帶電(dian)(dian)(dian)體與邊框之(zhi)間施加等(deng)于組(zu)(zu)件(jian)系統額定電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)（±1000 V 或(huo) ±1500 V）的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)偏差，當內部光伏電(dian)(dian)(dian)路相對(dui)于地(di)面(mian)(mian)為負偏壓(ya)(ya)時，框架和電(dian)(dian)(dian)池(chi)之(zhi)間的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)可導致玻(bo)(bo)璃(li)中(zhong)的(de)(de)(de)鈉(na)離子(zi)(zi)向電(dian)(dian)(dian)池(chi)表面(mian)(mian)漂移，電(dian)(dian)(dian)池(chi)表面(mian)(mian)通(tong)常具有氮化硅（SiN）抗反射(she)涂層(ceng)，如果這個(ge)涂層(ceng)上的(de)(de)(de)縫隙足夠大，允(yun)許鈉(na)離子(zi)(zi)進入電(dian)(dian)(dian)池(chi)或(huo)電(dian)(dian)(dian)荷流向玻(bo)(bo)璃(li)，形成的(de)(de)(de)漏電(dian)(dian)(dian)流就(jiu)會通(tong)過邊框或(huo)安裝支架流入大地(di)，從(cong)而出(chu)現(xian)(xian)PID效應。漏電(dian)(dian)(dian)流將使電(dian)(dian)(dian)池(chi)片(pian)的(de)(de)(de)載流子(zi)(zi)及耗盡層(ceng)狀態發(fa)生變化、電(dian)(dian)(dian)路中(zhong)的(de)(de)(de)接觸電(dian)(dian)(dian)阻(zu)和封裝材料受到電(dian)(dian)(dian)化學腐蝕，出(chu)現(xian)(xian)電(dian)(dian)(dian)池(chi)片(pian)功率衰減、串聯電(dian)(dian)(dian)阻(zu)增大、透光率降(jiang)低、脫層(ceng)等(deng)現(xian)(xian)象影(ying)響組(zu)(zu)件(jian)發(fa)電(dian)(dian)(dian)量及壽(shou)命。
圖1 PID效(xiao)應的漏(lou)電流路徑
03、PID測試(shi)的(de)必要性
PID效應對光伏組件的輸出功率影響巨大，是光伏電站發電量的“恐怖殺手”。因此，PID測試已成為光伏組件檢測項目中必不可少的項目之一。其標準IEC62804是由光伏組件性能測試標準IEC61215和光伏組件安全測試標準IEC61730結合而成，能夠很好的預判光伏組件在使用過程中是否會發生PID效應。瑞凱儀器高溫高濕試驗箱嚴格按照檢測標準開展測試，或應客戶要求進行加嚴PID測試。
圖(tu)2 PID測試流程圖(tu)
04、PID測試(shi)數據對比
迄今為止，東莞市瑞凱環(huan)境檢測儀(yi)器有限公司(si)以服務(wu)光(guang)(guang)伏新(xin)(xin)能源的(de)企業有漢能集團、東方日升新(xin)(xin)能源、晶科能源、弘(hong)晨光(guang)(guang)伏、帝龍光(guang)(guang)電(dian)、新(xin)(xin)奧光(guang)(guang)伏等，高(gao)溫高(gao)濕試(shi)(shi)驗箱對各種工藝技(ji)術的(de)光(guang)(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)（雙面電(dian)池組(zu)(zu)件(jian)、大尺寸硅(gui)片(pian)組(zu)(zu)件(jian)、半片(pian)組(zu)(zu)件(jian)、疊瓦組(zu)(zu)件(jian)和其他高(gao)效電(dian)池技(ji)術的(de)組(zu)(zu)件(jian)）均可做PID測試(shi)(shi)，測試(shi)(shi)的(de)平均衰減結果如下圖所示。
圖3 不同(tong)類型電池組(zu)件的PID測試對(dui)比
從圖示(shi)3中可以看(kan)出，無(wu)論哪種創新技(ji)術(shu)的(de)光伏組(zu)件，都(dou)存在不(bu)同(tong)程(cheng)度的(de)PID效應。
05、抗(kang)PID效(xiao)應哪種組件更好？
另外，經過高溫高濕試驗箱的測(ce)試結果表明雙玻組(zu)件(jian)抗PID效應更好。隨機調(diao)取100片常規組(zu)件(jian)與雙玻組(zu)件(jian)數據，從統計(ji)的數據中(zhong)可(ke)以看出這100片雙玻組(zu)件(jian)平均衰減低于常規組(zu)件(jian)的衰減。究其原因主(zhu)要是玻璃的水蒸汽透過率幾乎為(wei)零，且雙玻組(zu)件(jian)沒有金(jin)屬(shu)邊框不需要接(jie)地的獨特設計(ji)，在原理上就(jiu)抑制了PID產(chan)生的可(ke)能。
圖4PID測(ce)試結果對比圖
06、結尾
光(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)的(de)PID效(xiao)應到目前(qian)為(wei)止仍(reng)然(ran)存(cun)在，但隨著光(guang)伏產業的(de)發(fa)展，業界同仁對(dui)(dui)PID效(xiao)應機理和PID效(xiao)應的(de)對(dui)(dui)組(zu)件(jian)(jian)性能影響的(de)探索已(yi)逐(zhu)步(bu)深入，相信(xin)在不久的(de)將(jiang)來PID效(xiao)應將(jiang)會(hui)得到徹底解(jie)決。
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