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HAST試驗的特點與優勢

作者： salmon范編輯(ji)：瑞凱儀(yi)器來源： bibil.cn 發布日期(qi)： 2021.05.12

近幾年來(lai)，隨(sui)著(zhu)技(ji)術(shu)的(de)進(jin)步，元器件(jian)的(de)可靠性越來(lai)越高，有(you)些傳(chuan)統的(de)試(shi)(shi)驗(yan)方法已經不能(neng)適應。例(li)如，IC常用的(de)溫度(du)/濕度(du)/偏壓(ya)（THB）試(shi)(shi)驗(yan)（85C/85%RH加偏壓(ya)）對日前封裝的(de)質量水(shui)平來(lai)說要(yao)經過幾千(qian)小時的(de)試(shi)(shi)驗(yan)才(cai)能(neng)獲(huo)得有(you)用的(de)結果，另外，隨(sui)著(zhu)越來(lai)越多的(de)塑封微電路和COTS產品在高可靠軍用設(she)備(bei)上的(de)應用，也需(xu)要(yao)在試(shi)(shi)驗(yan)和篩(shai)選(xuan)技(ji)術(shu)上進(jin)行改進(jin)，以減少風險。

HAST試驗的特點與優勢

     在美國國防部宣布采用(yong)非政府標準SSB-1“在軍用(yong)、航空與其它嚴(yan)格(ge)控制(zhi)應用(yong)中使(shi)用(yong)塑(su)封微(wei)電路與半導(dao)體(ti)的(de)導(dao)則(ze)”，標準中規定了有關半導(dao)體(ti)企業用(yong)于鑒定新產品或改(gai)進產品的(de)常用(yong)可靠性(xing)試(shi)驗，包(bao)括：表面安裝器件的(de)預處理、偏(pian)壓壽命試(shi)驗、溫度循環、高(gao)壓蒸煮、THB和高(gao)加速應力(li)試(shi)驗(HAST) 等。
    在這些(xie)試驗中，HAST試驗箱是專為塑封固態器件而設計的 ，因為事實證明，高壓(ya)蒸煮和THB試驗對于某些(xie)健壯的塑封微電路已經不能產生失效。這一試驗用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件（達3 atm）來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝。當潮氣到達基片的表面，電勢能可把器件變成電解電池，從而加速腐蝕失效機理。這一試驗要加速的失效機理包括有金屬化腐蝕、材料界面處的分層、線焊失效、絕緣電阻下降等。這與THB類似，但HAST的加速速率更快。有些器件生產廠通過比較確定某個批次的失效是由相同的失效模式引起后，就對這一批次用HAST代替THB ，然(ran)后(hou)使用加速因(yin)子根據HAST試(shi)驗(yan)結果推導(dao)出等效(xiao)的THB失效(xiao)結果。
     對(dui)于加速試驗(yan)，過去大多(duo)是用單應力(li)(li)和恒定(ding)應力(li)(li)剖面(mian)(mian)來進行。但在新的(de)加速試驗(yan)中(zhong)，應力(li)(li)剖面(mian)(mian)不需要(yao)恒定(ding)，也可使用應力(li)(li)組合(he)。常見(jian)的(de)非恒定(ding)應力(li)(li)剖面(mian)(mian)和組合(he)應力(li)(li)剖面(mian)(mian)有(you)分(fen)步進應力(li)(li)剖面(mian)(mian)試驗(yan)、漸(jian)進應力(li)(li)剖面(mian)(mian)試驗(yan)、高加速壽命(ming)試驗(yan)(HALT)、高加速應力(li)篩(shai)選(HASS) 和HAST。其中(zhong)HALT、HASS和HAST是較新的(de)試驗(yan)方法(fa)。HALT 是(shi)(shi)一(yi)種開發試驗，是(shi)(shi)增(zeng)(zeng)強(qiang)型的(de)(de)分(fen)步應力(li)試驗。一(yi)般用于發現(xian)設計(ji)的(de)(de)弱(ruo)點和生產過程(cheng)問題，其月的(de)(de)是(shi)(shi)提高設計(ji)的(de)(de)強(qiang)度(du)余量(liang)(liang)，而不是(shi)(shi)預計(ji)產品(pin)的(de)(de)定量(liang)(liang)壽命或(huo)可靠性(xing)。HASS是(shi)(shi)一(yi)種加速環境應力(li)篩選。它提供了(le)產品(pin)遇到的(de)(de)嚴酷的(de)(de)環境，而且所花的(de)(de)時間很(hen)有限。HASS 的(de)(de)目(mu)的(de)(de)是(shi)(shi)達到“技術(shu)的(de)(de)基本(ben)極限”，即(ji)應力(li)的(de)(de)小量(liang)(liang)增(zeng)(zeng)加就會大(da)量(liang)(liang)增(zeng)(zeng)加失效的(de)(de)應力(li)水平。 HALT和HASS聯合使(shi)用的(de)目標是改進(jin)產品(pin)設計時使(shi)生產變化和環境作用對性(xing)能(neng)和可靠性(xing)的(de)影響(xiang)降到小。

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