電子產品老化溫度及時間確認
作者：
網(wang)絡
編輯：
瑞凱儀器
來源：
bibil.cn
發布日期： 2021.05.11
所謂老化試(shi)驗(yan)是在不破壞產品失效(xiao)的基礎上施加合理(li)的環(huan)境應(ying)(ying)力和電應(ying)(ying)力，將其內部(bu)的潛在缺陷加速變成故障，盡快達到浴盆曲(qu)線中期失效(xiao)。通常(chang)都以(yi)溫(wen)度(du)作(zuo)為應(ying)(ying)力而常(chang)見，公式(shi)參見下(xia)面(mian)。
SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t]
式中(zhong)，SS——篩(shai)選(xuan)強度(篩(shai)選(xuan)出的缺(que)陷品數(shu)的平均值/總的潛(qian)在缺(que)陷品)
R——高(gao)溫與室(shi)溫（一般取25℃）的差值
t——恒(heng)定高溫持續(xu)時間（h）
e= 2.718282
篩(shai)選強度(du)與溫度(du)、時(shi)間對應表(biao)：
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