聚焦5G高端產品測試設備系列之HAST高壓加速老化試驗箱
作者(zhe)：
salmon范
編(bian)輯：
瑞(rui)凱儀(yi)器
來源：
bibil.cn
發布(bu)日期： 2021.05.10
在線路(lu)板(ban)(ban)研發生(sheng)產中，PCB線路(lu)板(ban)(ban)老化(hua)測試對(dui)線路(lu)板(ban)(ban)的環(huan)境(jing)適(shi)用(yong)性(xing)和使用(yong)環(huan)境(jing)可靠(kao)性(xing)起到極(ji)其關(guan)鍵的作用(yong)，那(nei)如(ru)何得知線路(lu)板(ban)(ban)老化(hua)測試是否達標了(le)呢？
PCB線路板(ban)老化測(ce)試主(zhu)要有兩(liang)種方(fang)(fang)法(fa)：一是高溫老化測(ce)試，通過超(chao)(chao)熱和超(chao)(chao)電壓的情況下全(quan)面了解產(chan)品性能，提升產(chan)品品質，消除產(chan)品潛在故障及缺陷，保證產(chan)品出貨合格率；二(er)是高壓加速老化測(ce)試，PCB電路板(ban)為確保其長時(shi)間(jian)使用質量(liang)與(yu)可靠度，需進行SIR (Surface Insulation Resistance)表面絕緣電阻的試驗，透過其試驗方(fang)(fang)式找出PCB是否會(hui)發生MIG(離子遷移)與(yu)CAF(玻纖紗陽極性漏(lou)電)現象。
多年來，瑞凱儀(yi)器一直深(shen)耕PCB線(xian)路(lu)板可靠(kao)性測試設備領域，所研(yan)發HAST高(gao)壓加速老化(hua)試驗箱(xiang)搭載(zai)智(zhi)能化(hua)觸控式控制(zhi)系(xi)統，進(jin)行溫度(du)(du)-濕度(du)(du)-壓力一體控制(zhi)，而且(qie)不斷進(jin)行技術升級，不僅(jin)具備綜合(he)環境測試、高(gao)效快捷(jie)等特點(dian)，還可以滿足5G高(gao)端線(xian)路(lu)板可靠(kao)性測試。
如今，5G產業鏈進(jin)入(ru)高景氣周期，大幅拉動(dong)通信(xin)PCB需求，也對于PCB的性能(neng)要求更高，使(shi)用可靠性測試手段保障線路板性能(neng)必不可少。
瑞凱儀器模擬環境可靠性測試設備——HAST高壓加速老化試驗箱適用于PCB線路板、集成電路（芯片）、閃存等測試。
HAST高壓加速老化(hua)試驗箱(xiang)特點
三項(xiang)符合國際規范的控制模式
采用干濕球溫度控(kong)制(zhi)、升溫溫度控(kong)制(zhi)及濕潤飽和控(kong)制(zhi)等三箱控(kong)制(zhi)模式(shi)，可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規范要求；
模式新升(sheng)級(ji)：
出色(se)的溫濕(shi)(shi)度精(jing)密控制邏輯，防止(zhi)待(dai)測品潮濕(shi)(shi)與結(jie)露的模(mo)式選擇(ze)。
壓力數據(ju)真(zhen)實呈現：
; 壓力值(zhi)采實(shi)際感(gan)應偵測，確(que)保溫度、濕(shi)度及壓力值(zhi)準確(que)度。
全方位(wei)安全保(bao)護系統：
三(san)道高(gao)溫保(bao)護(hu)裝(zhuang)置、濕度用(yong)水(shui)斷水(shui)保(bao)護(hu)與(yu)電(dian)熱斷水(shui)空焚保(bao)護(hu)、機臺停機時自動排除飽和蒸氣(qi)壓(ya)力(li)、氣(qi)動機構壓(ya)力(li)保(bao)護(hu)等...，完(wan)善(shan)的保(bao)護(hu)裝(zhuang)置，保(bao)障實驗(yan)室與(yu)操作人員安全。
完善(shan)的擴充選(xuan)擇：
可選購多個(ge)BIAS電(dian)(dian)壓端子：符合JESD22-A110之實驗規(gui)范(fan)要求，模(mo)擬待測(ce)品在高(gao)溫(wen)、高(gao)濕環境(jing)下，加載工作(zuo)電(dian)(dian)壓，檢測(ce)內(nei)部(bu)封裝模(mo)塊材料接合與保護層的(de)滲(shen)透，并(bing)且觀察是否(fou)造成遷移(yi)。
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