HAST高加速應力測試
作者：
網絡
編輯：
瑞凱儀器
來(lai)源(yuan)：
網絡(luo)
發布日期(qi)： 2021.07.21
原(yuan)理：
試樣(yang)在(zai)高(gao)溫高(gao)濕(shi)度以及偏壓的苛刻(ke)環境下，加速濕(shi)氣穿(chuan)過外(wai)部的保(bao)護(hu)層(ceng)，或(huo)沿(yan)著金(jin)屬和外(wai)保(bao)護(hu)層(ceng)的分界面穿(chuan)透，造(zao)成(cheng)試樣(yang)的失效。
標(biao)準：
JESD22-110-B
模塊設計：
無
設(she)備物料：
1.控制的環境：需要在上升至特定的測試環境或從特定的環境下降時，保證壓力、溫度和相對濕度的HAST試驗箱；
2.溫度曲線記(ji)錄：需要記(ji)錄每(mei)個(ge)測試循環(huan)的溫度曲線，以保證(zheng)能核實壓力的有效性；
3.試樣必(bi)須位于溫度(du)梯度(du)小(xiao)處(chu)，離內(nei)壁至少3cm，不能接(jie)觸到(dao)熱(re)源的直接(jie)輻射加熱(re)；
4.減少(shao)污染
5.去除離子(zi)污染
6.去(qu)離子水
方(fang)法：
1.溫度(du)(du)，相對濕度(du)(du)和時間
2.偏壓方法：
a）減少功率消耗
b）盡量快地交換針偏壓
c）盡(jin)量多地在芯(xin)片，上(shang)分(fen)布位差
d）在可運行(xing)的范(fan)圍內(nei)盡量加大電(dian)壓
e）以下兩種方法(fa)可以滿足指(zhi)導方法(fa)：
1）連(lian)續偏(pian)壓-直(zhi)流偏(pian)壓需要(yao)-直(zhi)施加(jia)。
當(dang)失(shi)(shi)(shi)效(xiao)溫(wen)度(du)(du)比(bi)HAST試驗(yan)(yan)箱(xiang)的(de)環境溫(wen)度(du)(du)高≤10℃時，或者加熱損耗小(xiao)于200mW時失(shi)(shi)(shi)效(xiao)溫(wen)度(du)(du)未知(zhi)時，連續偏壓比(bi)循環偏壓要(yao)嚴(yan)格的(de)多。當(dang)加熱損耗達到(dao)200mW，就可以計算失(shi)(shi)(shi)效(xiao)溫(wen)度(du)(du)。如果失(shi)(shi)(shi)效(xiao)溫(wen)度(du)(du)超過了HAST試驗(yan)(yan)箱(xiang)溫(wen)度(du)(du)5℃，則需要(yao)在(zai)結果中記(ji)錄失(shi)(shi)(shi)效(xiao)溫(wen)度(du)(du)高于HAST試驗(yan)(yan)箱(xiang)溫(wen)度(du)(du)，因為產生了加速失(shi)(shi)(shi)效(xiao)機理。
2）循環偏壓(ya)(ya)(ya)-施加(jia)在試樣(yang)上的(de)(de)直(zhi)流(liu)電壓(ya)(ya)(ya)需要以(yi)適當的(de)(de)頻率進行中斷(duan)。如果偏壓(ya)(ya)(ya)的(de)(de)設置產生了(le)HAST試驗箱溫度的(de)(de)上升，△Tja，達(da)到(dao)10℃，當為(wei)了(le)優(you)化特定(ding)試樣(yang)類(lei)型時，循環偏壓(ya)(ya)(ya)要比連(lian)續偏壓(ya)(ya)(ya)更為(wei)嚴格。能量耗散導致的(de)(de)加(jia)熱會造成濕氣的(de)(de)散開，減少和濕氣有關的(de)(de)失效(xiao)機制。
當試樣不發生能量(liang)耗散時，循(xun)環(huan)偏(pian)壓在中斷時允(yun)許濕氣的進入。
50%周期的循(xun)環對(dui)大多數的
塑料封(feng)裝電路板合適。
對≥2mn厚度(du)的(de)需(xu)(xu)要≤2h，而<2m厚度(du)的(de)需(xu)(xu)要≤30min。
當失效溫度超過HAST試驗箱5℃或(huo)更多時(shi)，需(xu)要用(yong)知名的熱阻抗和耗散公式來計(ji)算失(shi)效的溫度。
3、偏壓(ya)的(de)選擇與記(ji)錄
4.測試(shi)樣品需要暴(bao)露(lu)在特定的(de)溫濕度以及特定的(de)電偏壓環境下。需要避(bi)免試(shi)樣過熱，干燥或(huo)者(zhe)局部加熱或(huo)冷卻(que)。
5.升
達(da)到穩定的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)和(he)相(xiang)對濕度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)時(shi)間不超過3個(ge)小時(shi)。通(tong)過保證測試(shi)倉內的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)始終超過濕球溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)計的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)，來保證不會(hui)有水分凝結。升溫(wen)(wen)速率也不能太快以至于DUT溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)低于濕球溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)計溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)。干(gan)(gan)濕溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)計需要(yao)一直記錄溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)，保證在主要(yao)的(de)(de)(de)加熱開始時(shi)，相(xiang)對濕度(du)(du)(du)在50%以上。在干(gan)(gan)燥的(de)(de)(de)實(shi)驗室內，HAST試(shi)驗箱內環境可(ke)能比這(zhe)還要(yao)干(gan)(gan)燥。
6.降
階(jie)段，稍微下(xia)降(jiang)到一(yi)定標準(zhun)壓(ya)力(濕(shi)球(qiu)(qiu)溫(wen)(wen)度(du)104℃）需(xu)要(yao)足(zu)夠長的(de)(de)時(shi)間保(bao)證試(shi)樣(yang)不產生由于(yu)下(xia)降(jiang)過快導(dao)致(zhi)的(de)(de)認為因素。但是(shi)也不要(yao)超過3個小時(shi)。第二階(jie)段的(de)(de)“下(xia)降(jiang)時(shi)從濕(shi)球(qiu)(qiu)溫(wen)(wen)度(du)的(de)(de)104℃到室溫(wen)(wen)需(xu)要(yao)讓測試(shi)倉排出壓(ya)力。沒有時(shi)間的(de)(de)限制(zhi)，也可以(yi)對容(rong)器(qi)進行(xing)強冷。下(xia)降(jiang)的(de)(de)部分都不允許水的(de)(de)凝結，為了保(bao)證HAST試(shi)驗箱的(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)始終超過濕(shi)球(qiu)(qiu)溫(wen)(wen)度(du)計(ji)。下(xia)降(jiang)時(shi)需(xu)要(yao)保(bao)證模塑料封裝(zhuang)硬模的(de)(de)濕(shi)度(du)。因此，在段下(xia)降(jiang)的(de)(de)過程中，相對濕(shi)度(du)不能小于(yu)50%。
失效判定：
如果達到了(le)參(can)量的(de)(de)限制，或者在惡劣的(de)(de)環境下不(bu)能證(zheng)明其功能性，則判定該試樣在HAST測試中(zhong)失(shi)效。
客服微信