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通訊設備接收機環境溫濕度適應性試驗

作(zuo)者: 網絡 編輯: 瑞(rui)凱(kai)儀(yi)器 來(lai)源: 網(wang)絡 發布日(ri)期: 2021.07.20

1、低溫試驗

試(shi)驗要求:滿足存儲(chu)溫度-40℃±2℃、工(gong)作溫度-40℃±2℃要求。

測試配置:見圖1。

低溫存儲及工作測試溫度曲線圖

試驗步驟:
初始檢測,檢測設備的電(dian)氣性能、功能、機(ji)械結構等,保(bao)證試(shi)驗用(yong)機(ji)為狀態良好的樣(yang)品(pin); 將被測終端放入高低溫試驗箱,保證被測終端的業務及功能正常,則啟動高低溫試驗箱;
設置箱(xiang)體(ti)溫度(du)為-40℃,待溫度(du)穩定后,保持8h;
觀(guan)察在低溫條件下(xia)啟(qi)動是否正(zheng)常;
如果啟動(dong)正常,則保持設備工作狀態不變。進行業務測試,測試時間保持4h;
測試(shi)結束后,檢(jian)測終端的(de)電氣性能,檢(jian)查業務及功能是否(fou)損壞。將試(shi)驗中遇到(dao)的(de)問題(ti)列舉出(chu)來,反(fan)饋給設計工程師(shi),并擬(ni)出(chu)測試(shi)報告(gao)。
判定標準(zhun):
a)被測設備進行功能及(ji)性能測試,正常;
b)被測設備進(jin)行外觀檢查,沒有損壞。
注:當有關標準或技術文件要(yao)求將低(di)溫(wen)存儲和(he)低(di)溫(wen)工作(zuo)連續試(shi)(shi)驗(yan)時(shi),可在低(di)溫(wen)存儲試(shi)(shi)驗(yan)完成(cheng)后,直接(jie)轉入低(di)溫(wen)工作(zuo),此時(shi),本試(shi)(shi)驗(yan)結果應(ying)為低(di)溫(wen)存儲和(he)低(di)溫(wen)工作(zuo)試(shi)(shi)驗(yan)結論。

2、高溫試驗(yan)

試驗要(yao)(yao)求:滿足(zu)可承(cheng)受溫(wen)度存儲105℃±2℃、工作85℃±2℃要(yao)(yao)求。

測(ce)試配置:見圖2。

高溫存儲及工作測試溫度曲線圖

試驗步驟:
初始檢測,檢測設備(bei)的電氣性(xing)能(neng)、功能(neng)、機(ji)械結構等,保證試驗用機(ji)為(wei)狀態良好的樣(yang)品;
將被測終端放入高低溫試驗箱,保證被測產品的業務及功能正常,則啟動高低溫試驗箱;
設置箱體溫度為(wei)105℃,待溫度穩定后(hou),保持8h;
再將箱體溫度設置為(wei)85℃,開(kai)始降溫,降溫速度不超過0.7℃/min。待箱體溫度穩(wen)定在55℃后對終端進行反(fan)復(fu)3次以上啟(qi)動(dong),觀察(cha)在高溫條件(jian)下啟(qi)動(dong)是(shi)否(fou)正(zheng)常(chang);
如果啟動(dong)正(zheng)常,則保持(chi)設備工作狀態不變。對設備進行業(ye)務測試,測試時間(jian)保持(chi)4h;.
測試結束后,檢測終端的電(dian)氣性能,檢查業(ye)務(wu)及功能是否損壞(huai)。將(jiang)試驗中遇到的問(wen)題列舉出(chu)來,反饋給設計工程師,并(bing)擬出(chu)測試報告。
判定標準:
a)被測(ce)設備進(jin)行功能(neng)及性能(neng)測(ce)試(shi),正常;
b)被測設備(bei)進(jin)行外觀檢(jian)查,沒有(you)損壞。
注:當有關標準(zhun)或技術文(wen)件要求將高(gao)溫存儲(chu)和(he)高(gao)溫工作連續(xu)試驗時,可(ke)在高(gao)溫存儲(chu)試驗完(wan)成后,直接(jie)轉入高(gao)溫工作,此時,本試驗結(jie)果應為高(gao)溫存儲(chu)和(he)高(gao)溫工作試驗結(jie)論。

3、恒定濕熱(re)試驗

試(shi)驗(yan)要(yao)求(qiu):滿(man)足當溫度(du)為40℃±2℃,濕度(du)為95%士(shi)2%,持續48小(xiao)時(shi)使用直接與水(shui)接觸(chu)產生濕度(du)的加濕法(fa)時(shi),在(zai)試(shi)驗(yan)中(zhong)水(shui)的電阻(zu)率應保持不(bu)小(xiao)于500Ω·m,試(shi)驗(yan)后進行通話(hua)檢(jian)查,通話(hua)應正常,鈴聲檢(jian)查、液晶檢(jian)查正常,并對發(fa)射功率、頻率容(rong)限(xian)和接收機靈敏度(du)進行測試(shi),測試(shi)結果符合指(zhi)標要(yao)求(qiu)。

測試配置:見圖3。

恒定濕熱測試時間要求圖

試驗(yan)步驟:
初(chu)始檢(jian)測,檢(jian)測終端(duan)的(de)電(dian)氣性(xing)能、功(gong)能、機械(xie)結構等。保證試(shi)驗用機為狀態(tai)良好的(de)樣品;
將被測終端放入高低溫試驗箱,保證被測產品的業務及功能正常,則啟動高低溫試驗箱;
被測終端處于開機狀態。將試(shi)驗箱(xiang)內空氣溫度(du)調(diao)節到40℃,濕度(du)為95%,待溫度(du)、濕度(du)穩定后,持續工作48小時;在試(shi)驗過(guo)程中觀察終端是否有異常現象;
測試(shi)結束后,被測終端拿出試(shi)驗箱并(bing)放置2小時;
對終端進行全面的目視檢(jian)查(cha)后,按(an)照技術要求進行功能及性能測試,記錄檢(jian)查(cha)結果。
判定標準:
a)被測終(zhong)端進行功能及性能測試,正常;
b)被測(ce)終端進(jin)行(xing)外觀檢查,沒有(you)損(sun)壞。

4、高(gao)低溫沖擊試驗

試驗(yan)要求:接(jie)收(shou)機可(ke)承受當高溫85℃、低溫-40℃時,溫度轉換(huan)時間(jian)不大于5min,進行循環3次的高低溫沖擊。
試驗步驟:
初始檢(jian)測,檢(jian)測設備的電氣性能(neng)(neng)、功能(neng)(neng)、機械結構等,保證試驗(yan)用機為狀態良好的樣品;
將被測(ce)終端放入高(gao)低溫試驗箱(xiang),保(bao)證被測(ce)產品的業務及(ji)功能正常,則啟動高(gao)溫試驗箱(xiang);
設置(zhi)箱體溫度為(wei)55℃。待溫度穩(wen)定后(hou),保持1h或(huo)直至試驗樣品到達穩(wen)定溫度,以時(shi)間(jian)長(chang)者為(wei)準;
高(gao)溫階段(duan)結(jie)束(shu)后(hou),在5min內將試(shi)驗樣(yang)品(pin)轉(zhuan)換到(dao)已(yi)調節至(zhi)-20C的低溫箱內,保持1h或者(zhe)直至(zhi)試(shi)驗樣(yang)品(pin)到(dao)達穩(wen)定溫度(du),以時間長者(zhe)為準:
再重復(fu)以上步驟2次(ci);
測試(shi)(shi)結束后,檢測終端的電氣性能,檢查業務及功能是否損壞。將試(shi)(shi)驗中遇到的問題列舉出來,反饋給設計工程師,并擬出測試(shi)(shi)報告。
判定標(biao)準:
a)被測(ce)(ce)設備進行功能及性能測(ce)(ce)試,正常;
b)被測(ce)設備進行外觀檢(jian)查(cha),沒有損壞。

5、振動(dong)試驗(yan)

試驗要求:
不(bu)包裝、不(bu)通(tong)電,牢(lao)固(gu)地水平固(gu)定(ding)在試驗臺上時(shi),應(ying)能(neng)承受下列條件(jian)的頻率/幅度振(zhen)動;
頻(pin)率隨機振動ASD (加(jia)速度(du)(du)譜密度(du)(du))
5 Hz ~20Hz             0.96m2/s3;
頻率范圍20 Hz~ 200Hz, 功(gong)率頻譜密度0.96m2/s3 (20Hz) ,其他- 3dB/倍(bei)頻程(cheng);
持(chi)續時(shi)間:每方向1小時(shi),共3小時(shi)。
將終端以(yi)直立和側立的位(wei)置固定(ding)在試(shi)驗臺上,重復振動(dong)試(shi)驗。試(shi)驗后進行通信檢查(cha),終端應能(neng)正常工作,并對發射(she)功(gong)率、載波頻(pin)率容限和接收(shou)機靈敏度(du)進行測試(shi),測試(shi)結果(guo)符合指標要求(qiu)。
試(shi)驗步驟:
初始檢(jian)測,檢(jian)測終(zhong)端的(de)電氣性能、功能、機(ji)械結構(gou)等,保(bao)證試(shi)驗用(yong)機(ji)為狀態良好的(de)樣品;
將被測設(she)備固定(ding)在(zai)振動臺上(shang),被測設(she)備處于開機狀態;
在設備、夾具、振動(dong)臺連接出安裝足夠多的(de)傳感(gan)器,測試設備、夾具界面的(de)振動(dong)數據,根據控(kong)制方案(an)的(de)要(yao)求(qiu)控(kong)制振動(dong)臺并測量其他需要(yao)的(de)數據。按設定要(yao)求(qiu)進(jin)行各(ge)個方向(xiang)的(de)振動(dong);
分別測試被(bei)測設備的三個軸向;
測試完成后對被測設備進行外觀(guan)檢查;
測(ce)試后進行設(she)備的外觀及功(gong)能檢查。
判定標準:
a)被測設備功(gong)能、性能正常;
b)被(bei)測設備外(wai)觀檢查(cha),無螺釘松(song)動、脫出現象。

6、跌落試驗

試驗要求:
終(zhong)端應能(neng)夠(gou)從1m的高度(du)自(zi)由向(xiang)下跌落在平滑(hua)、堅(jian)硬的剛性(xing)表面(mian)后正(zheng)常工作(zuo),不應有(you)損壞(huai)(但允許機殼輕微開裂),通話應正(zheng)常。
顯示屏可見(jian)面積不小(xiao)于機(ji)殼正(zheng)(zheng)面表面積40%或25cm2的(de)手(shou)持終端應能夠從高度(du)為0.5m處(chu)跌落在平滑(hua)、堅硬的(de)剛性(xing)表面后正(zheng)(zheng)常工作,不應有損壞(但允(yun)許機(ji)殼輕微開(kai)裂(lie)),通話(hua)應正(zheng)(zheng)常。
試驗步驟:
初始檢測(ce),檢測(ce)終(zhong)端的電(dian)氣性能、功能、機(ji)械(xie)結構等,保(bao)證試驗用機(ji)為狀態良好的樣品;
被測設備處于開機狀態;
確定跌落高(gao)度、每(mei)-.試件(jian)的跌落次數(shu)及跌落面;.
記錄每(mei)次跌落的碰撞(zhuang)點(dian)或碰撞(zhuang)面,及所有(you)明顯的損壞;
完成需要的跌落次數(shu)后,對試件作外觀(guan)檢查(cha)并記錄結果。
判定標(biao)準:
a)被測(ce)(ce)設(she)備(bei)進行功能、性能測(ce)(ce)試,正常;
b)被測設(she)備進(jin)行(xing)外(wai)觀檢查,沒(mei)有(you)損(sun)壞。

7、靜電測試

試驗要求:要求可抗接觸放電(dian)士6KV;空氣放電(dian)士10KV。
試驗步驟:.
被測設(she)備處于開機(ji)工(gong)作狀態;
按試驗(yan)要求(qiu)進行靜電放電;
裸(luo)露的(de)金屬件、機殼、天線、周圍接縫等,每個點測試10次;
試驗后,對被(bei)測數據設備的功能(neng)、性能(neng)及結構進行檢查。
判(pan)定標(biao)準:
被(bei)測設備功(gong)能及性(xing)能正常。
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