HAST和HALT&HASS都(dou)屬于加(jia)速(su)試(shi)驗(yan)，加(jia)速(su)試(shi)驗(yan)是指在(zai)保證不(bu)改變(bian)產(chan)(chan)品失(shi)(shi)效機理(li)的(de)前提下，通(tong)過(guo)強化(hua)試(shi)驗(yan)條件，使受(shou)試(shi)產(chan)(chan)品加(jia)速(su)失(shi)(shi)效，以便在(zai)較短(duan)時間內獲得必(bi)要信息，來評(ping)估產(chan)(chan)品在(zai)正常條件下的(de)可靠(kao)性或壽命指標，通(tong)過(guo)加(jia)速(su)試(shi)驗(yan)，可迅(xun)速(su)查(cha)明產(chan)(chan)品的(de)失(shi)(shi)效原因。

（失效率曲線：指產品從投(tou)入到(dao)報(bao)廢為止的(de)整(zheng)個壽(shou)命周期內(nei)，其可靠性的(de)變化(hua)呈現一定的(de)規律。）

    雖然(ran)HAST和(he)(he)HALT&HASS都同為(wei)(wei)加速試驗(yan)，但是(shi)它們之間卻存在差異(yi)，為(wei)(wei)找出產品(pin)的(de)失(shi)效(xiao)原因扮演(yan)著不(bu)同的(de)角色，尤(you)其是(shi)HAST和(he)(he)HASS試驗(yan)，這兩者之間的(de)名字十分相似，只差了(le)一個字母，很容易(yi)被混淆(xiao)，為(wei)(wei)了(le)幫(bang)助各位更好的(de)了(le)解HAST和(he)(he)HASS各自(zi)的(de)試驗(yan)內容，接下來(lai)我們就來(lai)談(tan)談(tan)HAST和(he)(he)HASS的(de)區別。
    什(shen)么(me)是HAST測試？
    高度加速的溫度和濕度壓力測試（HAST）是一個高度加速，以溫度和濕度為基礎的電子元件可靠性試驗方法。隨著進來電子技術的高速發展，幾年前剛剛出現的加速試驗可能不再適應當今的技術了，尤其是那些專門針對微電子產品的加速試驗。例如，由于塑料集成電路包的發展，現在用傳統的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數情況下，試驗樣本在整個試驗中不發生任何失效。因此，需要進一步改進加速試驗。HAST就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發的方法。
    什么是HASS測試？
    高加速應(ying)力(li)篩選試驗（HASS）是(shi)加速環境(jing)應(ying)力(li)篩選的(de)(de)(de)(de)一(yi)種形式。它代表(biao)了產(chan)品(pin)所經歷的(de)(de)(de)(de)嚴(yan)酷(ku)的(de)(de)(de)(de)環境(jing)，但通常持續很有限的(de)(de)(de)(de)一(yi)段(duan)時間。HASS是(shi)為達(da)到“技術的(de)(de)(de)(de)根(gen)本極(ji)限”而(er)設計的(de)(de)(de)(de)。此時應(ying)力(li)的(de)(de)(de)(de)微(wei)小(xiao)增加就會(hui)導致失效數(shu)的(de)(de)(de)(de)大量增加。這種根(gen)本極(ji)限的(de)(de)(de)(de)一(yi)個例子是(shi)塑料的(de)(de)(de)(de)軟化(hua)點(dian)。
    講完這兩者的基本概念(nian)，我們(men)接下來(lai)可以開(kai)始分析(xi)它們(men)之間究竟有(you)什么區(qu)別(bie)了。
    HAST和HASS的區別一
   ; HASS是一個篩選工具，HAST代替老的85℃/85%RH試驗而開(kai)發的方法。
   ; HASS與其(qi)說是可(ke)靠性(xing)試驗，其(qi)實(shi)更像(xiang)是幫助研發(fa)在(zai)產品的(de)生產階段，通過設置(zhi)高于產品設計運(yun)行極限(xian)的(de)環境應力(li)，來篩選發(fa)現(xian)零(ling)部件和組裝中存在(zai)的(de)缺陷(xian)并實(shi)施(shi)必要的(de)改進措(cuo)施(shi)，實(shi)現(xian)剔(ti)除有缺陷(xian)的(de)部件或元器(qi)件的(de)工具。
    而HAST則是傳統的高溫/高濕度測試（85℃/85%RH）的升級(ji)版，可以(yi)更加(jia)快速的，并且用更嚴峻惡劣的環(huan)(huan)境模擬使潛(qian)在的缺(que)陷或者(zhe)設計薄弱環(huan)(huan)節(jie)發展為(wei)實際的失效，確認(ren)可能導致使用中失效的設計、分配或者(zhe)制造過程問題。
    HAST和HASS的區別二
    HAST的加速(su)方(fang)法只適(shi)(shi)用(yong)于零件級的試(shi)驗(yan)；HASS的加速(su)方(fang)法只適(shi)(shi)用(yong)于設備(bei)級的試(shi)驗(yan)。

以(yi)下這個表，可以(yi)看(kan)出(chu)零件級和(he)設備級的區(qu)別和(he)局限：

    HAST和HASS的(de)區別三
    HAST和HASS的測試標準條件不(bu)同。
    HASS試(shi)(shi)驗包括三個主要試(shi)(shi)程：
    一、HASS Development（HASS試(shi)驗計劃階段）
    二、Proof-of-Screen（計劃(hua)驗證階(jie)段）

    三、Production HASS（HASS執(zhi)行階段）

（典(dian)型的綜合環境應力試驗曲(qu)線圖（極限情況））

    HAST測試(shi)是在指(zhi)定的溫(wen)度(du)和相對溫(wen)度(du)下進(jin)行濕度(du)或壓力。大氣通常具(ju)有至(zhi)少100℃的溫(wen)度(du)，在a水(shui)蒸汽(qi)加(jia)壓狀態(tai)。有飽和和HAST的不飽和品種。前者通常在121℃和100%RH的條件下完成，后者在110、120或130℃和85%RH的條件下，完成測試(shi)電子元件的通電通常是不飽和類(lei)型。

（JESD22-A118中HAST無(wu)偏壓試驗條(tiao)件(jian)）

    HAST和HASS的區別四(si)
    HAST和(he)HASS的試(shi)驗(yan)設備(bei)要求不同。
    RK-HAST-350高壓加速老化試驗箱
    設(she)備特點：
    1、內膽采用雙層圓弧設計，可防止(zhi)試(shi)驗(yan)結露(lu)滴水(shui)現象，從(cong)而避(bi)免(mian)產品在試(shi)驗(yan)過程中受過2、熱(re)蒸汽直接沖擊影響試(shi)驗(yan)結果。
    3、采用(yong)高(gao)效真空泵，使(shi)箱內(nei)達到(dao)佳純(chun)凈(jing)飽和蒸汽狀態。
    4、采(cai)用(yong)7寸真彩式觸摸(mo)屏(ping)，具(ju)有USB曲線數(shu)據下載功能，RS-485通訊接口(kou)。
    5、汽車級硅膠(jiao)整體密(mi)(mi)封條，氣密(mi)(mi)性好，耐(nai)用。
    6、全自動補(bu)水功能，前置式水位確認。

    7、采(cai)用干濕球(qiu)傳(chuan)感器直接測量（控制模式(shi)分為(wei)：干濕球(qiu)、不飽(bao)和、濕潤飽(bao)和等3種模式(shi)）

    HASS試驗(yan)設備要求
    （HASS設備要求）
    1、使用液(ye)氮降溫(wen)
    快速的(de)溫變速率(lv)，產品(pin)的(de)溫度(du)變率(lv)可達到60℃/min。
    溫度操作范圍為-100℃～+200℃。
    2、反復沖擊式(shi)振動
    三(san)軸和轉(zhuan)向同時施力(li)，同時要達成三(san)軸（X、Y、Z）旋轉(zhuan)（轉(zhuan)、拋、偏），能快速講設計缺(que)陷顯示出來。
    涵蓋(gai)頻率范圍(wei)廣（2-10KHz）。
    3、復(fu)合應力環境
    溫度和(he)振動。
    4、低環境噪(zao)音＜73dba。
    以上就是HAST和(he)HASS的(de)區別淺(qian)析(xi)，希(xi)望可以幫助各位更好的(de)了解HAST試驗(yan)和(he)HASS試驗(yan)，選擇適合所研發產品的(de)加速試驗(yan)，降(jiang)低(di)PPM（百萬失效率），降(jiang)低(di)維修(xiu)成本，達到(dao)價值化(hua)。