熱測試——溫度測試
作(zuo)者(zhe)：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來源：
bibil.cn
發布日期： 2020.08.19
1、熱測試(shi)的(de)目的(de)和內容
在(zai)電(dian)子(zi)產品散熱(re)設計中，熱(re)測試是必不可少(shao)的(de)(de)一個(ge)環節。熱(re)測試的(de)(de)目的(de)(de)主要有以下(xia)四點：
測試產品(pin)實際散熱表現是否能達(da)到要求；
檢驗產品(pin)散熱(re)方案有無可改進(jin)、降成本之處；
測試各(ge)種(zhong)方(fang)案的實際表現；
與設計前(qian)期理(li)論/仿真預估進(jin)行回歸總結，提高后續散熱(re)設計水(shui)平(ping)
熱(re)(re)測(ce)試(shi)需(xu)要關注的并不只是溫(wen)度(du)，而是與溫(wen)度(du)相(xiang)關的所(suo)有(you)因素。在測(ce)試(shi)中，為了保證測(ce)試(shi)系(xi)統設定正(zheng)確，需(xu)要同時監控噪音、功耗和相(xiang)關散熱(re)(re)手段的使用等。熱(re)(re)測(ce)試(shi)的內容包括如下(xia)6項：
2、溫度測(ce)試
溫(wen)度是(shi)熱(re)(re)測(ce)(ce)(ce)試中(zhong)(zhong)關鍵的(de)測(ce)(ce)(ce)試參數。依據測(ce)(ce)(ce)溫(wen)儀器是(shi)否接(jie)觸熱(re)(re)源，測(ce)(ce)(ce)溫(wen)方法可分(fen)為接(jie)觸式(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)和非(fei)接(jie)觸式(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)。其中(zhong)(zhong)，接(jie)觸式(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)在(zai)電(dian)子散熱(re)(re)領(ling)域大量應用(yong)。非(fei)接(jie)觸式(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)中(zhong)(zhong)的(de)紅(hong)外測(ce)(ce)(ce)溫(wen)可以獲得一個平(ping)面(mian)的(de)溫(wen)度分(fen)布，應用(yong)也(ye)較為廣泛。示溫(wen)材料是(shi)一種熱(re)(re)致變色(se)的(de)材料，溫(wen)度不同(tong)時，其表(biao)現的(de)顏色(se)會發(fa)生(sheng)變化(hua)。示溫(wen)材料多用(yong)于重工業設(she)備。當前在(zai)電(dian)子散熱(re)(re)的(de)熱(re)(re)測(ce)(ce)(ce)試中(zhong)(zhong)，應用(yong)不多。
3.1 熱測(ce)試設備
熱測試(shi)實驗室需要配置(zhi)如下(xia)基本設備，才能(neng)進行(xing)熱測試(shi)。
1)恒溫恒濕試驗箱:提供可控的測試環境；
2)熱偶(ou)線(xian)、溫度補償線(xian)、數據采集器：接觸(chu)式測溫,讀取測點溫度；
3)膠水、高溫膠帶：固定測點；
4)功率計：用來測試記錄設備所(suo)耗功率，核對(dui)測試負載(zai)是(shi)否符合要求；
5)紅外(wai)成像儀：非接觸式，拍攝設備表面獲得溫度分(fen)布。
3.2接觸(chu)式(shi)測溫
電(dian)子產(chan)品中接(jie)觸式(shi)測溫儀器(qi)常用(yong)的(de)是熱電(dian)偶(ou)(ou)。熱電(dian)偶(ou)(ou)的(de)測溫基(ji)于塞貝克效(xiao)應，即(ji)當兩種(zhong)(zhong)不同的(de)金屬(shu)組成回路時，兩個節點間(jian)的(de)溫差會導(dao)致回路中產(chan)生電(dian)勢(shi)。這種(zhong)(zhong)由于溫差導(dao)致的(de)電(dian)勢(shi)稱為熱電(dian)勢(shi)。溫差與(yu)熱電(dian)勢(shi)之間(jian)存在一(yi)一(yi)對應的(de)函數關系(xi)。因此，可(ke)以通過(guo)測量兩點之間(jian)的(de)電(dian)勢(shi)來換算結點間(jian)的(de)溫差。
熱電偶(ou)測溫的(de)優點是(shi)直觀(guan)、準(zhun)確(que)，精度一般約±0.5℃，
缺點如下：
1)感溫元件可能影響被(bei)測溫度場(chang)的分布；
2)需要一定的反應時間(jian)；
3)對于內部接觸困難的點，測試難度(du)較大(da)；
4)無法(fa)獲得(de)整個面的(de)溫度分布。
使用(yong)熱(re)電偶進行測(ce)溫的步驟如下(xia)：
1)根據散熱風險分析，確定(ding)測試點(dian)位置；
2)使用導熱(re)膠將(jiang)熱(re)電(dian)偶(ou)測(ce)溫(wen)端(duan)粘貼到測(ce)點(dian)上，另一端(duan)接到數據采集模塊中，如(ru)(ru)果是測(ce)試局部流體的溫(wen)度(du)（如(ru)(ru)進出(chu)風(feng)口溫(wen)度(du)），則需保證探點(dian)固定(ding)到待測(ce)位(wei)置(zhi)不晃動；
3)將采(cai)集(ji)模塊(kuai)插(cha)裝至數據(ju)采(cai)集(ji)儀中；
4)數據(ju)采集儀(yi)根據(ju)使用的(de)熱(re)電(dian)偶(ou)的(de)分(fen)度號(hao)設置好，讀取測(ce)試(shi)結(jie)果。
說(shuo)明(ming)：
1)熱電(dian)偶需要使用(yong)導熱性能(neng)好的(de)粘接劑(ji)粘貼到測(ce)溫(wen)(wen)點上，可(ke)(ke)(ke)以使用(yong)樂(le)泰(tai)384導熱膠+7452催化劑(ji)，固化時(shi)間較長(chang)（常溫(wen)(wen)下(xia)數小時(shi)才能(neng)進行下(xia)一(yi)(yi)步操作(zuo)），但固化后比較牢(lao)固，推(tui)薦在(zai)需要反復測(ce)試的(de)場(chang)景中(zhong)采(cai)用(yong)；樂(le)泰(tai)416膠水+7452促進劑(ji)，可(ke)(ke)(ke)在(zai)數秒中(zhong)內凝固，缺點是較脆(cui)，高(gao)溫(wen)(wen)下(xia)可(ke)(ke)(ke)能(neng)崩裂，可(ke)(ke)(ke)以在(zai)時(shi)間緊迫的(de)一(yi)(yi)次性測(ce)試中(zhong)使用(yong)。
2)熱電(dian)偶數據記(ji)錄儀可連接至(zhi)電(dian)腦，從而實現(xian)溫度(du)的自動監控和(he)記(ji)錄。
3)高(gao)溫(wen)膠帶用(yong)來固(gu)定熱偶線(xian)纜在設備內部的(de)走線(xian)，以免設備移動(dong)過程(cheng)中及高(gao)溫(wen)測試過程(cheng)中的(de)熱偶線(xian)脫落及損壞。
3.3 非接觸式測溫
非(fei)接觸(chu)式測溫常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)儀(yi)器(qi)是熱(re)(re)成(cheng)(cheng)像(xiang)儀(yi)和紅外點(dian)溫槍(qiang)。點(dian)溫槍(qiang)只能測得表面上(shang)特(te)定(ding)點(dian)的(de)(de)溫度(du)，常(chang)用(yong)(yong)于(yu)現場問題(ti)定(ding)位(wei)，正規(gui)熱(re)(re)測試驗證較少適用(yong)(yong)。熱(re)(re)成(cheng)(cheng)像(xiang)儀(yi)在(zai)終端產品（如手機、機頂盒、筆(bi)記本電腦(nao)等對設備表面溫度(du)有嚴(yan)格要(yao)求的(de)(de)設備）中(zhong)經常(chang)使用(yong)(yong)。
3.3.1 非接觸(chu)測溫的優缺點
非接觸式測溫的優(you)點：
1)具有較高的測溫上限；
2)熱(re)慣(guan)性小(xiao),可(ke)達千分之(zhi)一秒(miao)，測溫立(li)等可(ke)得(de)，而且(qie)能(neng)夠測量(liang)運(yun)動物體的溫度和(he)快速變化的溫度；
3)熱成像儀(yi)還可以獲得一整(zheng)個面的(de)溫(wen)度分布，便于發(fa)現可能存在的(de)不(bu)被注意的(de)點。
非接(jie)觸式測溫(wen)的缺點：
1)非接觸式測(ce)(ce)溫(wen)精度(du)較差（約(yue)±2℃），不如接觸式測(ce)(ce)試（約(yue)±0.5℃）;
2)需要知道表面發射率，才能正確測溫(wen)；
3)對(dui)于不裸露在外的表面，較難測(ce)量。
3.3.2 非接觸(chu)式(shi)測溫誤(wu)差的(de)影響因素
要(yao)正確使用紅(hong)外攝像儀，首先(xian)需要(yao)理(li)解(jie)其精度影響因素，除了儀器本身的因素外，主要(yao)表現在以下幾個(ge)方面[1]：
3.3.2.1 物體(ti)表面輻射率(lv)
輻(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)是(shi)一個物(wu)(wu)(wu)體(ti)相對于黑體(ti)輻(fu)射(she)(she)(she)能力大小(xiao)(xiao)的(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)理量(liang)，它(ta)(ta)除了與物(wu)(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)(de)材料形狀(zhuang)、表(biao)(biao)面(mian)粗糙度(du)、凹(ao)凸度(du)等有關，還與測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)方向(xiang)有關。若物(wu)(wu)(wu)體(ti)為光潔(jie)表(biao)(biao)面(mian)時，其(qi)方向(xiang)性(xing)(xing)更為敏感。不(bu)同(tong)物(wu)(wu)(wu)質的(de)(de)(de)輻(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)是(shi)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)，紅(hong)外測(ce)(ce)(ce)(ce)溫儀從物(wu)(wu)(wu)體(ti)上(shang)接收到輻(fu)射(she)(she)(she)能量(liang)大小(xiao)(xiao)正比(bi)于它(ta)(ta)的(de)(de)(de)輻(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)。根(gen)據(ju)基爾霍(huo)夫定(ding)理：物(wu)(wu)(wu)體(ti)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)半(ban)球單色(se)發(fa)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(ε)等于它(ta)(ta)的(de)(de)(de)半(ban)球單色(se)吸收率(lv)(lv)(lv)(lv)(α)，ε=α。在熱(re)平衡條件下，物(wu)(wu)(wu)體(ti)輻(fu)射(she)(she)(she)功率(lv)(lv)(lv)(lv)等于它(ta)(ta)的(de)(de)(de)吸收功率(lv)(lv)(lv)(lv)，即吸收率(lv)(lv)(lv)(lv)(α)、反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(ρ)、透射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(γ)總和為1，即α+ρ+γ=1，圖14-7解釋了上(shang)述規律。對于不(bu)透明的(de)(de)(de)(或(huo)具有一定(ding)厚(hou)度(du))的(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)透射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)可將(jiang)γ近(jin)似視為0，那(nei)么只有輻(fu)射(she)(she)(she)和反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(α+ρ=1)。當(dang)物(wu)(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)(de)輻(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)越(yue)(yue)(yue)高，反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)就(jiu)越(yue)(yue)(yue)小(xiao)(xiao)，背(bei)景和反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)影響就(jiu)會越(yue)(yue)(yue)小(xiao)(xiao)，測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)準確性(xing)(xing)也就(jiu)越(yue)(yue)(yue)高；反(fan)(fan)(fan)之，背(bei)景溫度(du)越(yue)(yue)(yue)高或(huo)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)越(yue)(yue)(yue)高，對測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)影響就(jiu)越(yue)(yue)(yue)大。如鏡(jing)面(mian)表(biao)(biao)面(mian)，其(qi)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)高，熱(re)成像儀接收到的(de)(de)(de)能量(liang)可能不(bu)是(shi)其(qi)自身輻(fu)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)能量(liang)，而是(shi)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)其(qi)它(ta)(ta)物(wu)(wu)(wu)體(ti)發(fa)出的(de)(de)(de)輻(fu)射(she)(she)(she)能，這就(jiu)會造成測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)果失真。在實際的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)過(guo)程中，必須盡可能將(jiang)測(ce)(ce)(ce)(ce)溫儀中設定(ding)的(de)(de)(de)輻(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)與被測(ce)(ce)(ce)(ce)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)實際輻(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)設置為相同(tong)，以(yi)減小(xiao)(xiao)所(suo)測(ce)(ce)(ce)(ce)溫度(du)的(de)(de)(de)誤差。當(dang)被測(ce)(ce)(ce)(ce)表(biao)(biao)面(mian)為鏡(jing)面(mian)時（反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)較(jiao)大），可以(yi)使(shi)用一些涂料將(jiang)其(qi)涂黑，降低反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)。
3.3.2.2 測試角度
輻(fu)射率(lv)與測(ce)(ce)(ce)試方向(xiang)有關，測(ce)(ce)(ce)試角度（被測(ce)(ce)(ce)表(biao)面法(fa)線方向(xiang)與測(ce)(ce)(ce)試儀正對方向(xiang)的(de)夾(jia)角）越大，測(ce)(ce)(ce)試誤(wu)差越大，在(zai)用紅外進(jin)行測(ce)(ce)(ce)溫時，好(hao)正對設備表(biao)面進(jin)行測(ce)(ce)(ce)試。不(bu)得不(bu)傾斜測(ce)(ce)(ce)試來對比兩個相(xiang)同(tong)物體的(de)測(ce)(ce)(ce)溫數(shu)據時，建(jian)議在(zai)測(ce)(ce)(ce)試時測(ce)(ce)(ce)試角一定要相(xiang)同(tong)。
3.3.2.3 距離系數
距(ju)(ju)離系數(K=S:D)是測(ce)溫(wen)(wen)儀(yi)到目(mu)標的(de)距(ju)(ju)離S與測(ce)溫(wen)(wen)目(mu)標直(zhi)徑D的(de)比值，K值越大，分(fen)辨(bian)率越高。比如(ru)，用(yong)測(ce)量距(ju)(ju)離與目(mu)標直(zhi)徑S:D=8:1 的(de)測(ce)溫(wen)(wen)儀(yi)，測(ce)量距(ju)(ju)離應滿足表(biao)14-1的(de)要求。
3.3.2.4
大氣吸收
大氣(qi)吸收(shou)是指在(zai)傳(chuan)輸過(guo)程中使一部分(fen)紅外線輻射能(neng)量變成(cheng)其它(ta)形式的(de)(de)能(neng)量，或以另一種光譜分(fen)布。大氣(qi)吸收(shou)程度隨空(kong)氣(qi)溫溫變化而(er)變化，被測(ce)物體距離越(yue)遠(yuan)，大氣(qi)透射對溫度測(ce)量的(de)(de)影響就越(yue)大。所以，在(zai)室(shi)(shi)外進(jin)行(xing)紅外測(ce)溫時，應(ying)盡(jin)量在(zai)無(wu)雨、無(wu)霧、空(kong)氣(qi)比較清晰(xi)的(de)(de)環境(jing)下(xia)進(jin)行(xing)。在(zai)室(shi)(shi)內進(jin)行(xing)紅外測(ce)溫時，應(ying)在(zai)沒有水蒸氣(qi)的(de)(de)環境(jing)下(xia)進(jin)行(xing)，這樣就可以在(zai)誤(wu)差小的(de)(de)情(qing)況下(xia)測(ce)得(de)較準確的(de)(de)數值。
3.3.3 非接觸(chu)式(shi)測溫工程處理(li)方法
對于室內環境中普(pu)通表(biao)面(mian)的溫(wen)度測(ce)試，發射(she)率(lv)(lv)是影響紅(hong)外(wai)溫(wen)度檢測(ce)精度的重要(yao)參數之一(yi)，因各目標表(biao)面(mian)性(xing)質不盡相同，故發射(she)率(lv)(lv)會(hui)有很大差別；若(ruo)不能準確設置發射(she)率(lv)(lv)，則(ze)會(hui)造成(cheng)測(ce)量(liang)誤差，本節講(jiang)述如何修正發射(she)率(lv)(lv)，滿足客(ke)戶(hu)測(ce)量(liang)的需求。
發射率(lv)的(de)概念(nian)在熱設計(ji)基礎理論(lun)的(de)熱輻射一節有簡單介紹(shao)。其影響因素如下：
材料(liao) 不同材料(liao)的發射率不同，如銅的發射率一般(ban)來說比鋁高。
表面光潔度 通常表面粗糙的(de)材料發射率比光潔表面高。
表面(mian)顏色(se)(se) 以黑色(se)(se)為(wei)代表的深色(se)(se)系表面(mian)發射率比淺色(se)(se)系高。
表(biao)面形(xing)狀 表(biao)面有(you)凹陷、夾角或(huo)不(bu)平整規(gui)則的部(bu)位(wei)比平整的部(bu)位(wei)發射率(lv)高， 如(ru)通常(chang)我們(men)在檢測模(mo)具加熱時會發現溫度有(you)偏高的部(bu)位(wei)，但實(shi)際上該模(mo)具溫度是均勻(yun)的，偏高的位(wei)置往往是表(biao)面不(bu)規(gui)則的部(bu)分(fen)。
大多數非金(jin)屬材料(liao)(liao)（如塑料(liao)(liao)、油(you)漆、皮革、紙(zhi)張等）發(fa)射(she)率可設置為(wei)
0.95，相同材質、不同顏色的(de)目標其發(fa)射(she)率非常(chang)接(jie)近(jin)，誤差通(tong)常(chang)不超過(guo)測量精(jing)度(du)范圍；部分表(biao)面光亮的(de)非金(jin)屬材料(liao)(liao)發(fa)射(she)率較低（如瓷(ci)磚、玻(bo)璃(li)等）。
當不(bu)知道測(ce)(ce)試(shi)表面的發射率時(shi)，通常采用如下(xia)方法(fa)來處理(li)，保證測(ce)(ce)試(shi)結果的準確性[2]：
3.3.3.1 絕緣膠帶法
將(jiang)一塊(kuai)絕緣膠帶（已知發射(she)率(lv)(lv)(lv)）貼于被(bei)測(ce)物體(ti)表面(mian)，通過調整(zheng)紅外熱(re)像(xiang)儀發射(she)率(lv)(lv)(lv)，使被(bei)測(ce)材(cai)(cai)料表面(mian)的溫度與貼有絕緣膠帶表面(mian)溫度相同(tong)或接(jie)近，此(ci)時的發射(she)率(lv)(lv)(lv)即為(wei)被(bei)測(ce)材(cai)(cai)料物體(ti)正確的發射(she)率(lv)(lv)(lv)。
操作方法
貼(tie)絕(jue)緣膠(jiao)(jiao)布（建議使用
3M 電氣絕(jue)緣膠(jiao)(jiao)帶，牌號 1712，黑色），發射率：0.93
適用場合
此(ci)種(zhong)方法適用于被測目(mu)標相對比(bi)較大(da)，溫(wen)度較低（小于 80℃），要求測試(shi)后不(bu)改(gai)變原目(mu)標表(biao)面(mian)狀況(kuang)的(de)場(chang)合，例如各(ge)種(zhong)散熱模塊，光潔芯(xin)片（較大(da)）表(biao)面(mian)，金屬表(biao)面(mian)等。
注意事項
應(ying)盡量使(shi)膠(jiao)帶與被(bei)測(ce)目標的(de)表面接觸緊密，沒有氣泡或褶皺等現象，需(xu)要預留 5分(fen)鐘以上(shang)時間，使(shi)被(bei)測(ce)目標表面與膠(jiao)帶充(chong)分(fen)達到熱平衡狀(zhuang)態。
3.3.3.3 涂抹法(fa)
用水性白板筆（已知發(fa)(fa)射率(lv)(lv)）均勻的(de)(de)涂抹(mo)在(zai)被測物體表(biao)面(mian)，然(ran)后(hou)通過(guo)調整紅外熱(re)像儀(yi)發(fa)(fa)射率(lv)(lv)，直到(dao)沒有涂抹(mo)的(de)(de)表(biao)面(mian)溫(wen)度與涂抹(mo)表(biao)面(mian)溫(wen)度相同或(huo)接近，此時(shi)的(de)(de)發(fa)(fa)射率(lv)(lv)即為目(mu)標物體正確(que)的(de)(de)發(fa)(fa)射率(lv)(lv)。
操作方法(fa)
涂(tu)抹水性白板筆（建議使用晨光水性白板筆，牌(pai)號 MG - 2160 ，黑色），發射率(lv)：0.95。
適(shi)用場(chang)合
此方法可(ke)以(yi)適用于不(bu)允許(xu)改變物(wu)體表面狀態（涂抹后可(ke)擦去），同時 形狀不(bu)適合進行(xing)膠(jiao)帶粘貼的目(mu)(mu)標(biao)(biao)(biao)，涂抹法可(ke)針對(dui)較(jiao)小的目(mu)(mu)標(biao)(biao)(biao)進行(xing)，但目(mu)(mu)標(biao)(biao)(biao)表面溫度不(bu)宜(yi)超過 100℃。
注意(yi)事項(xiang)
白板(ban)筆不(bu)能是(shi)油性(xing)筆，否則干(gan)后很難擦去。
應(ying)盡量(liang)使(shi)涂(tu)抹面(mian)均勻，建議使(shi)用(yong)者涂(tu)抹 3 分鐘后(hou)，待目標表面(mian)熱平衡后(hou)再進行測試。
3.3.3.4
接觸溫(wen)度計(ji)法
用接(jie)觸式溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)計，如熱電偶、熱電阻(zu)等直(zhi)接(jie)測量物體(ti)表(biao)面溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)，然(ran)后通過調整紅外熱像(xiang)儀發射(she)(she)(she)率(lv)，直(zhi)到熱像(xiang)儀所測得的(de)表(biao)面溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)與接(jie)觸式接(jie)觸式溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)計測得的(de)表(biao)面溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)相同或接(jie)近，此時(shi)的(de)發射(she)(she)(she)率(lv)即為目標物體(ti)正(zheng)確的(de)發射(she)(she)(she)率(lv)。
操(cao)作方法
使用接觸式測溫儀(yi)器。
適用場(chang)合(he)
測量方便，但需(xu)注意現(xian)(xian)場是否(fou)允許進行(xing)表面接觸測溫（特別是帶電、運(yun)動等現(xian)(xian)場）。
注(zhu)意事(shi)項
應使熱電偶與被測(ce)目標表面接觸(chu)良好，并要求測(ce)試(shi)的數(shu)據必(bi)須是溫度穩(wen)定后的數(shu)據。
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